Improved measurements of electroweak parameters fromZ decays into fermion pairs

Focardi, Ettore; Deschizeaux, B.; Goy, C.; Lees, J. P.; Minard, M. N.; Alemany, R.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fernandez, E.; Gaitan, V.; Garrido, L. l.; Mir, L. l. M.; Pacheco, A.; Catanesi, M. G.; Creanza, D.; Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Quattromini, M.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Gao, Y.; Hu, H.; Huang, D.; Huang, X.; Lin, J.; Lou, J.; Qiao, C.; Ruan, T.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhao, W.; Atwood, W. B.; Bauerdick, L. A. T.; Bird, F.; Blucher, E.; Bonyicini, G.; Bossi, F.; Boudreau, J.; Brown, D.; Burnett, T. H.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Grab, C.; Hagelberg, R.; Haywood, S.; Hilgart, J.; Jost, B.; Kasemann, M.; Knobloch, J.; Lacourt, A.; Lan�on, E.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Lusiani, A.; Marchioro, A.; Martinez, M.; Mato, P.; Menary, S.; Minten, A.; Miotto, A.; Miquel, R.; Moser, H. G.; Nash, J.; Palazzi, P.; Ranjard, F.; Redlinger, G.; Roth, A.; Rothberg, J.; Rotscheidt, H.; Saich, M.; Denis, R. S. t.; Schlatter, D.; Takashima, M.; Talby, M.; Tejessy, W.; Wachsmuth, H.; Wasserbaech, S.; Wheeler, S.; Wiedenmann, W.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Bardadin Otwinowska, M.; Fellous, R.; Falvard, A.; Gay, P.; Harvey, J.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Proriol, J.; Prulhi�re, F.; Stimpfl, G.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; M�llerud, R.; Nilsson, B. S.; Efthymiopoulos, I.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Bourotte, J.; Braems, F.; Brient, J. C.; Fouque, G.; Gamess, A.; Guirlet, R.; Orteu, S.; Rosowsky, A.; Roug�, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Videau, H.; Candlin, D. J.; Veitch, E.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Ikeda, M.; Lannutti, J.; Levinthal, D.; Mermikides, M.; Sawyer, L.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; D'Ettorre Piazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Nicoletti, G.; Passalacqua, L.; Pepe Altarelli, M.; Picchi, P.; Zografou, P.; Altoon, B.; Boyle, O.; Halley, A. W.; Have, I.; Hearns, J. L.; Lynch, J. G.; Morton, W. T.; Raine, C.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Thompson, A. S.; Turnbull, R. M.; Brandl, B.; Braun, O.; Geiges, R.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Belk, A. T.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Dornan, P. J.; Dugeay, S.; Greene, A. M.; Hassard, J. F.; Lieske, N. M.; Patton, S. J.; Payne, D. G.; Phillips, M. J.; Sedgbeer, J. K.; Taylor, G.; Tomalin, I. R.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Patel, A.; Rowlingson, B. S.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Whelan, E. P.; Barczewski, T.; Kleinknecht, K.; Raab, J.; Renk, B.; Roehn, S.; Sander, H. G.; Schmelling, M.; Schmidt, H.; Steeg, F.; Walther, S. M.; Wolf, B.; Albanese, J. P.; Aubert, J. J.; Benchouk, C.; Bernard, V.; Bonissent, A.; Courvoisier, D.; Etienne, F.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Pietrzyk, B.; Qian, Z.; Becker, H.; Blum, W.; Cattaneo, P.; Cowan, G.; Dehning, B.; Dietl, H.; Dydak, F.; Fernandez Bosman, M.; Hansl Kozanecka, T.; Jahn, A.; Kozanecki, W.; Lange, E.; Lauber, J.; L�tjens, G.; Lutz, G.; M�nner, W.; Pan, Y.; Richter, R.; Schr�der, J.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Stierlin, U.; Thomas, J.; Wolf, G.; Bertin, V.; Boucrot, J.; Callot, O.; Chen, X.; Cordier, A.; Davier, M.; Ganis, G.; Grivaz, J. F.; Heusse, P. h.; Janot, P.; Kim, D. W.; Diberder, F.; Lefran�ois, J.; Lutz, A. M.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Zhang, Z.; Zomer, F.; Abbaneo, D.; Amendolia, S. R.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bosisio, L.; Bottigli, U.; Bradaschia, C.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Dell'Orso, R.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fo�, L.; Focardi, E.; Forti, F.; Gatto, C.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Ligabue, F.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Moneta, L.; Palla, F.; Sanguinetti, G.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Carter, J. M.; Green, M. G.; March, P. V.; Medcalf, T.; Quazi, I. S.; Strong, J. A.; Thomas, R. M.; West, L. R.; Wildish, T.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Edwards, M.; Fisher, S. M.; Jones, T. J.; Norton, P. R.; Salmon, D. P.; Thompson, J. C.; Bloch Devaux, B.; Colas, P.; Klopfenstein, C.; Locci, E.; Loucatos, S.; Monnier, E.; Perez, P.; Perlas, J. A.; Perrier, F.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Vallage, B.; Ashman, J. G.; Booth, C. N.; Buttar, C.; Carney, R.; Cartwright, S.; Combley, F.; Dinsdale, M.; Dogru, M.; Hatfield, F.; Martin, J.; Parker, D.; Reeves, P.; Thompson, L. F.; Barberio, E.; Brandt, S.; Burkhardt, H.; Grupen, C.; Meinhard, H.; Mirabito, L.; Sch�fer, U.; Seywerd, H.; Apollinari, G.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Liello, F.; Ragusa, F.; Rolandi, L.; Stiegler, U.; Bellantoni, L.; Cinabro, D.; Conway, J. S.; Cowen, D. F.; Feng, Z.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y. S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Jacobsen, J. E.; Jared, R. C.; Johnson, R. P.; Claire, B. W.; Pan, Y. B.; Pater, J. R.; Saadi, Y.; Sharma, V.; Shi, Z. H.; Tang, Y. H.; Walsh, A. M.; Wear, J. A.; Weber, F. V.; Whitney, M. H.; Sau Lan Wu,; Zobernig, G.

doi:10.1007/BF01483868

The properties of theZ resonance are measured on the basis of 190 000Z decays into fermion pairs collected with the ALEPH detector at LEP. Assuming lepton universality,M z =(91.182±0.009exp±0.020Lbbasymmetries, and polarization, sin2 W (M Z 2 ). In the contex of the Minimal Standard Model, limits are placed on the top-quark mass.

Improved measurements of electroweak parameters fromZ decays into fermion pairs / D. Decamp;B. Deschizeaux;C. Goy;J. -P. Lees;M. -N. Minard;R. Alemany;J. M. Crespo;M. Delfino;E. Fernandez;V. Gaitan;Ll. Garrido;Ll. M. Mir;A. Pacheco;M. G. Catanesi;D. Creanza;M. Palma;A. Farilla;G. Iaselli;G. Maggi;M. Maggi;S. Natali;S. Nuzzo;M. Quattromini;A. Ranieri;G. Raso;F. Romano;F. Ruggieri;G. Selvaggi;L. Silvestris;P. Tempesta;G. Zito;Y. Gao;H. Hu;D. Huang;X. Huang;J. Lin;J. Lou;C. Qiao;T. Ruan;T. Wang;Y. Xie;D. Xu;R. Xu;J. Zhang;W. Zhao;W. B. Atwood;L. A. T. Bauerdick;F. Bird;E. Blucher;G. Bonyicini;F. Bossi;J. Boudreau;D. Brown;T. H. Burnett;H. Drevermann;R. W. Forty;C. Grab;R. Hagelberg;S. Haywood;J. Hilgart;B. Jost;M. Kasemann;J. Knobloch;A. Lacourt;E. Lan�on;I. Lehraus;T. Lohse;A. Lusiani;A. Marchioro;M. Martinez;P. Mato;S. Menary;A. Minten;A. Miotto;R. Miquel;H. -G. Moser;J. Nash;P. Palazzi;F. Ranjard;G. Redlinger;A. Roth;J. Rothberg;H. Rotscheidt;M. Saich;R. St. Denis;D. Schlatter;M. Takashima;M. Talby;W. Tejessy;H. Wachsmuth;S. Wasserbaech;S. Wheeler;W. Wiedenmann;W. Witzeling;J. Wotschack;Z. Ajaltouni;M. Bardadin-Otwinowska;R. Fellous;A. Falvard;P. Gay;J. Harvey;P. Henrard;J. Jousset;B. Michel;J. -C. Montret;D. Pallin;P. Perret;J. Proriol;F. Prulhi�re;G. Stimpfl;J. D. Hansen;J. R. Hansen;P. H. Hansen;R. M�llerud;B. S. Nilsson;I. Efthymiopoulos;E. Simopoulou;A. Vayaki;J. Badier;A. Blondel;G. Bonneaud;J. Bourotte;F. Braems;J. C. Brient;G. Fouque;A. Gamess;R. Guirlet;S. Orteu;A. Rosowsky;A. Roug�;M. Rumpf;R. Tanaka;H. Videau;D. J. Candlin;E. Veitch;G. Parrini;M. Corden;C. Georgiopoulos;M. Ikeda;J. Lannutti;D. Levinthal;M. Mermikides;L. Sawyer;A. Antonelli;R. Baldini;G. Bencivenni;G. Bologna;P. Campana;G. Capon;F. Cerutti;V. Chiarella;B. D'Ettorre-Piazzoli;G. Felici;P. Laurelli;G. Mannocchi;F. Murtas;G. P. Murtas;G. Nicoletti;L. Passalacqua;M. Pepe-Altarelli;P. Picchi;P. Zografou;B. Altoon;O. Boyle;A. W. Halley;I. Have;J. L. Hearns;J. G. Lynch;W. T. Morton;C. Raine;J. M. Scarr;K. Smith;A. S. Thompson;R. M. Turnbull;B. Brandl;O. Braun;R. Geiges;C. Geweniger;P. Hanke;V. Hepp;E. E. Kluge;Y. Maumary;A. Putzer;B. Rensch;A. Stahl;K. Tittel;M. Wunsch;A. T. Belk;R. Beuselinck;D. M. Binnie;W. Cameron;M. Cattaneo;P. J. Dornan;S. Dugeay;A. M. Greene;J. F. Hassard;N. M. Lieske;S. J. Patton;D. G. Payne;M. J. Phillips;J. K. Sedgbeer;G. Taylor;I. R. Tomalin;A. G. Wright;P. Girtler;D. Kuhn;G. Rudolph;C. K. Bowdery;T. J. Brodbeck;A. J. Finch;F. Foster;G. Hughes;N. R. Keemer;M. Nuttall;A. Patel;B. S. Rowlingson;T. Sloan;S. W. Snow;E. P. Whelan;T. Barczewski;K. Kleinknecht;J. Raab;B. Renk;S. Roehn;H. -G. Sander;M. Schmelling;H. Schmidt;F. Steeg;S. M. Walther;B. Wolf;J. -P. Albanese;J. -J. Aubert;C. Benchouk;V. Bernard;A. Bonissent;D. Courvoisier;F. Etienne;S. Papalexiou;P. Payre;B. Pietrzyk;Z. Qian;H. Becker;W. Blum;P. Cattaneo;G. Cowan;B. Dehning;H. Dietl;F. Dydak;M. Fernandez-Bosman;T. Hansl-Kozanecka;A. Jahn;W. Kozanecki;E. Lange;J. Lauber;G. L�tjens;G. Lutz;W. M�nner;Y. Pan;R. Richter;J. Schr�der;A. S. Schwarz;R. Settles;U. Stierlin;J. Thomas;G. Wolf;V. Bertin;J. Boucrot;O. Callot;X. Chen;A. Cordier;M. Davier;G. Ganis;J. -F. Grivaz;Ph. Heusse;P. Janot;D. W. Kim;F. Diberder;J. Lefran�ois;A. -M. Lutz;J. -J. Veillet;I. Videau;Z. Zhang;F. Zomer;D. Abbaneo;S. R. Amendolia;G. Bagliesi;G. Batignani;L. Bosisio;U. Bottigli;C. Bradaschia;M. Carpinelli;M. A. Ciocci;R. Dell'Orso;I. Ferrante;F. Fidecaro;L. Fo�;E. Focardi;F. Forti;C. Gatto;A. Giassi;M. A. Giorgi;F. Ligabue;E. B. Mannelli;P. S. Marrocchesi;A. Messineo;L. Moneta;F. Palla;G. Sanguinetti;J. Steinberger;R. Tenchini;G. Tonelli;G. Triggiani;C. Vannini;A. Venturi;P. G. Verdini;J. Walsh;J. M. Carter;M. G. Green;P. V. March;T. Medcalf;I. S. Quazi;J. A. Strong;R. M. Thomas;L. R. West;T. Wildish;D. R. Botterill;R. W. Clifft;T. R. Edgecock;M. Edwards;S. M. Fisher;T. J. Jones;P. R. Norton;D. P. Salmon;J. C. Thompson;B. Bloch-Devaux;P. Colas;C. Klopfenstein;E. Locci;S. Loucatos;E. Monnier;P. Perez;J. A. Perlas;F. Perrier;J. Rander;J. -F. Renardy;A. Roussarie;J. -P. Schuller;J. Schwindling;B. Vallage;J. G. Ashman;C. N. Booth;C. Buttar;R. Carney;S. Cartwright;F. Combley;M. Dinsdale;M. Dogru;F. Hatfield;J. Martin;D. Parker;P. Reeves;L. F. Thompson;E. Barberio;S. Brandt;H. Burkhardt;C. Grupen;H. Meinhard;L. Mirabito;U. Sch�fer;H. Seywerd;G. Apollinari;G. Giannini;B. Gobbo;F. Liello;F. Ragusa;L. Rolandi;U. Stiegler;L. Bellantoni;D. Cinabro;J. S. Conway;D. F. Cowen;Z. Feng;D. P. S. Ferguson;Y. S. Gao;J. Grahl;J. L. Harton;J. E. Jacobsen;R. C. Jared;R. P. Johnson;B. W. Claire;Y. B. Pan;J. R. Pater;Y. Saadi;V. Sharma;Z. H. Shi;Y. H. Tang;A. M. Walsh;J. A. Wear;F. V. Weber;M. H. Whitney;Sau Lan Wu;G. Zobernig. - In: ZEITSCHRIFT FÜR PHYSIK. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 0170-9739. - ELETTRONICO. - 53:(1992), pp. 1-20. [10.1007/BF01483868]