Neutral pion form factor measurement at NA62

Goudzovski, Evgueni; Ambrosino, F.; Antonelli, A.; Anzivino, G.; Arcidiacono, R.; Baldini, W.; Balev, S.; Batley, J. R.; Behler, M.; Bifani, S.; Biino, C.; Bizzeti, A.; Blazek, T.; Bloch-Devaux, B.; Bocquet, G.; Bolotov, V.; Bucci, F.; Cabibbo, N.; Calvetti, M.; Cartiglia, N.; Ceccucci, A.; Cenci, P.; Cerri, C.; Cheshkov, C.; Chèze, J. B.; Clemencic, M.; Collazuol, G.; Costantini, F.; Cotta Ramusino, A.; Coward, D.; Cundy, D.; Dabrowski, A.; D'Agostini, G.; Dalpiaz, P.; Damiani, C.; Danielsson, H.; De Beer, M.; Dellacasa, G.; Derré, J.; Dibon, H.; Di Filippo, D.; Dilella, L.; Doble, N.; Duk, V.; Engelfried, J.; Eppard, K.; Falaleev, V.; Fantechi, R.; Fidecaro, M.; Fiorini, L.; Fiorini, M.; Fonseca Martin, T.; Frabetti, P. L.; Fucci, A.; Gallorini, S.; Gatignon, L.; Gersabeck, E.; Gianoli, A.; Giudici, S.; Gonidec, A.; Goudzovski, E.; Goy Lopez, S.; Gushchin, E.; Hallgren, B.; Hita-Hochgesand, M.; Holder, M.; Hristov, P.; Iacopini, E.; Imbergamo, E.; Jeitler, M.; Kalmus, G.; Kekelidze, V.; Kleinknecht, K.; Koval, M.; Kozhuharov, V.; Kubischta, W.; Kurshetsov, V.; Lamanna, G.; Lazzeroni, C.; Lenti, M.; Leonardi, E.; Litov, L.; Lurkin, N.; Madigozhin, D.; Maier, A.; Mannelli, I.; Marchetto, F.; Marel, G.; Markytan, M.; Marouelli, P.; Martini, M.; Masetti, L.; Massarotti, P.; Mazzucato, E.; Michetti, A.; Mikulec, I.; Misheva, M.; Molokanova, N.; Monnier, E.; Moosbrugger, U.; Morales Morales, C.; Moulson, M.; Movchan, S.; Munday, D. J.; Napolitano, M.; Nappi, A.; Neuhofer, G.; Norton, A.; Numao, T.; Obraztsov, V.; Palladino, V.; Patel, M.; Pepe, M.; Peters, A.; Petrucci, F.; Petrucci, M. C.; Peyaud, B.; Piandani, R.; Piccini, M.; Pierazzini, G.; Polenkevich, I.; Popov, I.; Potrebenikov, Yu.; Raggi, M.; Renk, B.; Retière, F.; Riedler, P.; Romano, A.; Rubin, P.; Ruggiero, G.; Salamon, A.; Saracino, G.; Savrié, M.; Scarpa, M.; Semenov, V.; Sergi, A.; Serra, M.; Shieh, M.; Shkarovskiy, S.; Slater, M. W.; Sozzi, M.; Spadaro, T.; Stoynev, S.; Swallow, E.; Szleper, M.; Valdata-Nappi, M.; Valente, P.; Vallage, B.; Velasco, M.; Veltri, Marco; Venditti, S.; Wache, M.; Wahl, H.; Walker, A.; Wanke, R.; Widhalm, L.; Winhart, A.; Winston, R.; Wood, M. D.; Wotton, S. A.; Yushchenko, O.; Zinchenko, A.; Ziolkowski, M.

Neutral pion form factor measurement at NA62 / Goudzovski, E., Ambrosino, F., Antonelli, A., Anzivino, G., Arcidiacono, R., Baldini, W., Balev, S., Batley, J.R., Behler, M., Bifani, S., Biino, C., Bizzeti, A., Blazek, T., Bloch-Devaux, B., Bocquet, G., Bolotov, V., Bucci, F., Cabibbo, N., Calvetti, M., Cartiglia, N., et al.. - In: POS PROCEEDINGS OF SCIENCE. - ISSN 1824-8039. - ELETTRONICO. - 128556:(2016), pp. 1-1. (38th International Conference on High Energy Physics, ICHEP 2016 usa 2016).