The kaon identification system in the NA62 experiment at CERN SPS

Rinella, G. Aglieri; Ambrosino, F.; Angelucci, B.; Antonelli, A.; Anzivino, G.; Arcidiacono, R.; Azhinenko, I.; Balev, S.; Bendotti, J.; Biagioni, A.; Biino, C.; Bizzeti, Andrea; Blazek, T.; Blik, A.; Bloch-Devaux, B.; Bolotov, V.; Bonaiuto, V.; Britton, D.; Britvich, G.; Brook, N.; Bucci, Francesca; Buescher, V.; Butin, F.; Capitolo, E.; Capoccia, C.; Capussela, T.; Carassiti, V.; Cartiglia, N.; Cassese, Antonio; Catinaccio, A.; Cecchetti, A.; Ceccucci, A.; Cenci, P.; Cerny, V.; Cerri, C.; Chikilev, O.; Ciaranfi, R.; Collazuol, G.; Cooke, P.; Cooper, P.; Corradi, G.; Gil, E. Cortina; Costantini, F.; Ramusino, A. Cotta; Coward, D.; Dagostini, G.; Dainton, J.; Dalpiaz, P.; Danielsson, H.; Degrange, J.; De Simone, N.; Di Filippo, D.; Di Lella, L.; Dixon, N.; Doble, N.; Duk, V.; Elsha, V.; Engelfried, J.; Falaleev, V.; Fantechi, R.; Federici, L.; Fiorini, M.; Fry, J.; Fucci, A.; Gallorini, S.; Gatignon, L.; Gianoli, A.; Giudici, S.; Glonti, L.; Martins, A. Goncalves; Gonnella, F.; Goudzovski, E.; Guida, R.; Gushchin, E.; Hahn, F.; Hallgren, B.; Heath, H.; Herman, F.; Iacopini, E.; Jamet, O.; Jarron, P.; Kampf, K.; Kaplon, J.; Karjavin, V.; Kekelidze, V.; Khudyakov, A.; Kiryushin, Yu.; Kleinknecht, K.; Kluge, A.; Koval, M.; Kozhuharov, V.; Krivda, M.; Kunze, J.; Lamanna, G.; Lazzeroni, C.; Leitner, R.; Lenci, R.; Lenti, M.; Leonardi, E.; Lichard, P.; Lietava, R.; Litov, L.; Lomidze, D.; Lonardo, A.; Lurkin, N.; Madigozhin, D.; Maire, G.; Makarov, A.; Mannelli, I.; Mannocchi, G.; Mapelli, A.; Marchetto, F.; Massarotti, P.; Massri, K.; Matak, P.; Mazza, G.; Menichetti, E.; Mirra, M.; Misheva, M.; Molokanova, N.; Morant, J.; Morel, M.; Moulson, M.; Movchan, S.; Munday, D.; Napolitano, M.; Newson, F.; Norton, A.; Noy, M.; Nuessle, G.; Obraztsov, V.; Padolski, S.; Page, R.; Palladino, V.; Pardons, A.; Pedreschi, E.; Pepe, M.; Gomez, F. Perez; Petrucci, F.; Piandani, R.; Piccini, M.; Pinzino, J.; Pivanti, M.; Polenkevich, I.; Popov, I.; Potrebenikov, Yu.; Protopopescu, D.; Raffaelli, F.; Raggi, M.; Riedler, P.; Romano, A.; Rubin, P.; Ruggiero, G.; Russo, V.; Ryjov, V.; Salamon, A.; Salina, G.; Samsonov, V.; Santovetti, E.; Saracino, G.; Sargeni, F.; Schifano, S.; Semenov, V.; Sergi, A.; Serra, M.; Shkarovskiy, S.; Sotnikov, A.; Sougonyaev, V.; Sozzi, M.; Spadaro, T.; Spinella, F.; Staley, R.; Statera, M.; Sutcliffe, P.; Szilasi, N.; Tagnani, D.; Valdata-Nappi, M.; Valente, P.; Vassilieva, V.; Velghe, B.; Veltri, M.; Venditti, S.; Vormstein, M.; Wahl, H.; Wanke, R.; Wertelaers, P.; Winhart, A.; Winston, R.; Wrona, B.; Yushchenko, O.; Zamkovsky, M.; Zinchenko, A.

doi:10.1088/1748-0221/9/12/C12048

The kaon identification system in the NA62 experiment at CERN SPS / Rinella, G.A., Ambrosino, F., Angelucci, B., Antonelli, A., Anzivino, G., Arcidiacono, R., Azhinenko, I., Balev, S., Bendotti, J., Biagioni, A., Biino, C., Bizzeti, A., Blazek, T., Blik, A., Bloch-Devaux, B., Bolotov, V., Bonaiuto, V., Britton, D., Britvich, G., Brook, N., et al.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 9:(2014), pp. C12048-C12048. [10.1088/1748-0221/9/12/C12048]