Measurement of the branching ratios b â e ν X, μ ν X, Ï Î½ X and ν X
Measurement of the branching ratios b â e ν X, μ ν X, Ï Î½ X and ν X / Acciarri, M.; Adam, A.; Adriani, O.; Aguilar-Benitez, M.; Ahlen, S.; Alpat, B.; Alcaraz, J.; Alemanni, G.; Allaby, J.; Aloisio, A.; Alverson, G.; Alviggi, M.G.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Andreev, V.P.; Angelescu, T.; Antreasyan, D.; Arefiev, A.; Azemoon, T.; Aziz, T.; Bagnaia, P.; Baksay, L.; Ball, R.C.; Banerjee, S.; Banicz, K.; Barillère, R.; Barone, L.; Bartalini, P.; Baschirotto, A.; Basile, M.; Battiston, R.; Bay, A.; Becattini, F.; Becker, U.; Behner, F.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Betev, B.L.; Biasini, M.; Biland, A.; Bilei, G.M.; Blaising, J.J.; Blyth, S.C.; Bobbink, G.J.; Bock, R.; Böhm, A.; Borgia, B.; Boucham, A.; Bourilkov, D.; Bourquin, M.; Boutigny, D.; Brambilla, E.; Branson, J.G.; Brigljevic, V.; Brock, I.C.; Buijs, A.; Bujak, A.; Burger, J.D.; Burger, W.J.; Busenitz, J.; Buytenhuijs, A.; Cai, X.D.; Campanelli, M.; Capell, M.; Romeo, G. Cara; Caria, M.; Carlino, G.; Cartacci, A.M.; Casaus, J.; Castellini, G.; Castello, R.; Cavallari, F.; Cavallo, N.; Cecchi, C.; Cerrada, M.; Cesaroni, F.; Chamizo, M.; Chan, A.; Chang, Y.H.; Chaturvedi, U.K.; Chemarin, M.; Chen, A.; Chen, G.; Chen, G.M.; Chen, H.F.; Chen, H.S.; Chen, M.; Chiefari, G.; Chien, C.Y.; Choi, M.T.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Civinini, C.; Clare, I.; Clare, R.; Cohn, H.O.; Coignet, G.; Colijn, A.P.; Colino, N.; Costantini, S.; Cotorobai, F.; de la Cruz, B.; Csilling, A.; Dai, T.S.; D'Alessandro, R.; de Asmundis, R.; de Boeck, H.; Degré, A.; Deiters, K.; Denes, P.; DeNotaristefani, F.; DiBitonto, D.; Diemoz, M.; van Dierendonck, D.; Di Lodovico, F.; Dionisi, C.; Dittmar, M.; Dominguez, A.; Doria, A.; Dorne, I.; Dova, M.T.; Drago, E.; Duchesneau, D.; Duinker, P.; Duran, I.; Dutta, S.; Easo, S.; Efremenko, Yu.; El Mamouni, H.; Engler, A.; Eppling, F.J.; Erné, F.C.; Ernenwein, J.P.; Extermann, P.; Fabre, M.; Faccini, R.; Falciano, S.; Favara, A.; Fay, J.; Felcini, M.; Furetta, C.; Ferguson, T.; Fernandez, D.; Ferroni, F.; Fesefeldt, H.; Fiandrini, E.; Field, J.H.; Filthaut, F.; Fisher, P.H.; Forconi, G.; Fredj, L.; Freudenreich, K.; Galaktionov, Yu.; Ganguli, S.N.; Gau, S.S.; Gentile, S.; Gerald, J.; Gheordanescu, N.; Giagu, S.; Goldfarb, S.; Goldstein, J.; Gong, Z.F.; Gougas, A.; Gratta, G.; Gruenewald, M.W.; Gupta, V.K.; Gurtu, A.; Gutay, L.J.; Hangarter, K.; Hartmann, B.; Hasan, A.; Hebbeker, T.; Hervé, A.; van Hoek, W.C.; Hofer, H.; Hoorani, H.; Hou, S.R.; Hu, G.; Ilyas, M.M.; Innocente, V.; Janssen, H.; Jin, B.N.; Jones, L.W.; de Jong, P.; Josa-Mutuberria, I.; Kasser, A.; Khan, R.A.; Kamyshkov, Yu.; Kapinos, P.; Kapustinsky, J.S.; Karyotakis, Y.; Kaur, M.; Kienzle-Focacci, M.N.; Kim, D.; Kim, J.K.; Kim, S.C.; Kim, Y.G.; Kinnison, W.W.; Kirkby, A.; Kirkby, D.; Kirkby, J.; Kiss, D.; Kittel, W.; Klimentov, A.; König, A.C.; Korolko, I.; Koutsenko, V.; Koulbardis, A.; Kraemer, R.W.; Kramer, T.; Krenz, W.; Kuijten, H.; Kunin, A.; de Guevara, P. Ladron; Landi, G.; Lapoint, C.; Lassila-Perini, K.; Laurikainen, P.; Lebeau, M.; Lebedev, A.; Lebrun, P.; Lecomte, P.; Lecoq, P.; Le Coultre, P.; Lee, J.S.; Lee, K.Y.; Leggett, C.; Le Goff, J.M.; Leiste, R.; Lenti, M.; Leonardi, E.; Levtchenko, P.; Li, C.; Lieb, E.; Lin, W.T.; Linde, F.L.; Lista, L.; Liu, Z.A.; Lohmann, W.; Longo, E.; Lu, W.; Lu, Y.S.; Lübelsmeyer, K.; Luci, C.; Luckey, D.; Ludovici, L.; Luminari, L.; Lustermann, W.; Ma, W.G.; Macchiolo, A.; Maity, M.; Majumder, G.; Malgeri, L.; Malinin, A.; Maña, C.; Mangla, S.; Marchesini, P.; Marin, A.; Martin, J.P.; Marzano, F.; Massaro, G.G.G.; Mazumdar, K.; McNally, D.; Mele, S.; Merola, L.; Meschini, M.; Metzger, W.J.; von der Mey, M.; Mi, Y.; Mihul, A.; van Mil, A.J.W.; Mirabelli, G.; Mnich, J.; Monteleoni, B.; Moore, R.; Morganti, S.; Mount, R.; Müller, S.; Muheim, F.; Nagy, E.; Nahn, S.; Napolitano, M.; Nessi-Tedaldi, F.; Newman, H.; Nippe, A.; Nowak, H.; Organtini, G.; Ostonen, R.; Pandoulas, D.; Paoletti, S.; Paolucci, P.; Park, H.K.; Pascale, G.; Passaleva, G.; Patricelli, S.; Paul, T.; Pauluzzi, M.; Paus, C.; Pauss, F.; Peach, D.; Pei, Y.J.; Pensotti, S.; Perret-Gallix, D.; Petrak, S.; Pevsner, A.; Piccolo, D.; Pieri, M.; Pinto, J.C.; Piroué, P.A.; Pistolesi, E.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Pojidaev, V.; Postema, H.; Produit, N.; Raghavan, R.; Rahal-Callot, G.; Rancoita, P.G.; Rattaggi, M.; Raven, G.; Razis, P.; Read, K.; Ren, D.; Rescigno, M.; Reucroft, S.; van Rhee, T.; Riemann, S.; Riemers, B.C.; Riles, K.; Rind, O.; Ro, S.; Robohm, A.; Rodin, J.; Rodriguez, F.J.; Roe, B.P.; Röhner, S.; Romero, L.; Rosier-Lees, S.; Rosselet, Ph; van Rossum, W.; Roth, S.; Rubio, J.A.; Rykaczewski, H.; Salicio, J.; Sanchez, E.; Santocchia, A.; Sarakinos, M.E.; Sarkar, S.; Sassowsky, M.; Sauvage, G.; Schneegans, M.; Schoeneich, B.; Scholz, N.; Schopper, H.; Schotanus, D.J.; Schwenke, J.; Schwering, G.; Sciacca, C.; Sciarrino, D.; Sens, J.C.; Servoli, L.; Shevchenko, S.; Shivarov, N.; Shoutko, V.; Shukla, J.; Shumilov, E.; Siedenburg, T.; Son, D.; Sopczak, A.; Soulimov, V.; Smith, B.; Spillantini, P.; Steuer, M.; Stickland, D.P.; Sticozzi, F.; Stone, H.; Stoyanov, B.; Straessner, A.; Strauch, K.; Sudhakar, K.; Sultanov, G.; Sun, L.Z.; Susinno, G.F.; Suter, H.; Swain, J.D.; Tang, X.W.; Tauscher, L.; Taylor, L.; Ting, Samuel C C.; Ting, S.M.; Tonisch, F.; Tonutti, M.; Tonwar, S.C.; Tóth, J.; Tsaregorodtsev, A.; Tully, C.; Tuchscherer, H.; Tung, K.L.; Ulbricht, J.; Uwer, U.; Valente, E.; van de Walle, R.T.; Vesztergombi, G.; Vetlitsky, I.; Viertel, G.; Vivargent, M.; Völkert, R.; Vogel, H.; Vogt, H.; Vorobiev, I.; Vorobyov, A.A.; Vorobyov, An. A.; Vorvolakos, A.; Wadhwa, M.; Wallraff, W.; Wang, J.C.; Wang, X.L.; Wang, Y.F.; Wang, Z.M.; Weber, A.; Wittgenstein, F.; Wu, S.X.; Wynhoff, S.; Xu, J.; Xu, Z.Z.; Yang, B.Z.; Yang, C.G.; Yao, X.Y.; Ye, J.B.; Yeh, S.C.; You, J.M.; Zaccardelli, C.; Zalite, An.; Zemp, P.; Zeng, Y.; Zhang, Z.; Zhang, Z.P.; Zhou, B.; Zhou, Y.; Zhu, G.Y.; Zhu, R.Y.; Zichichi, A.. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - ELETTRONICO. - 71:(2011), pp. 379-389.
Measurement of the branching ratios b â e ν X, μ ν X, Ï Î½ X and ν X
Adriani, O.
;Becattini, F.
;Cartacci, A. M.
;D'Alessandro, R.
;FAVARA, ALVISE
;Lenti, M.
;Macchiolo, A.
;Passaleva, G.
;Spillantini, P.
;
2011
Abstract
Measurement of the branching ratios b â e ν X, μ ν X, Ï Î½ X and ν XI documenti in FLORE sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.