Precision tests of the Standard Model with Kaon decays at CERN

Massri, K.; Anzivino, G.; Arcidiacono, R.; Baldini, W.; Balev, S.; Batley, J. R.; Behler, M.; Bifani, S.; Biino, C.; Bizzeti, A.; Bloch-Devaux, B.; Bocquet, G.; Cabibbo, N.; Calvetti, M.; Cartiglia, N.; Ceccucci, A.; Cenci, P.; Cerri, C.; Cheshkov, C.; Cheze, J. B.; Clemencic, M.; Collazuol, G.; Costantini, F.; Cotta Ramusino, A.; Coward, D.; Cundy, D.; Dabrowski, A.; Dalpiaz, P.; Damiani, C.; De Beer, M.; Derre, J.; Dibon, H.; Dilella, L.; Doble, N.; Eppard, K.; Falaleev, V.; Fantechi, R.; Fidecaro, M.; Fiorini, L.; Fiorini, M.; Fonseca Martin, T.; Frabetti, P. L.; Gatignon, L.; Gersabeck, E.; Gianoli, A.; Giudici, S.; Gonidec, A.; Goudzovski, E.; Goy Lopez, S.; Holder, M.; Hristov, P.; Iacopini, E.; Imbergamo, E.; Jeitler, M.; Kalmus, G.; Kekelidze, V.; Kleinknecht, K.; Kozhuharov, V.; Kubischta, W.; Lamanna, G.; Lazzeroni, C.; Lenti, M.; Litov, L.; Madigozhin, D.; Maier, A.; Mannelli, I.; Marchetto, F.; Marel, G.; Markytan, M.; Marouelli, P.; Martini, M.; Masetti, L.; Mazzucato, E.; Michetti, A.; Mikulec, I.; Molokanova, N.; Monnier, E.; Moosbrugger, U.; Morales Morales, C.; Munday, D.; Nappi, A.; Neuhofer, G.; Norton, A.; Patel, M.; Pepe, M.; Peters, A.; Petrucci, F.; Petrucci, M. C.; Peyaud, B.; Piccini, M.; Pierazzini, G.; Polenkevich, I.; Potrebenikov, Y.; Raggi, M.; Renk, B.; Rubin, P.; Ruggiero, G.; Savrie, M.; Scarpa, M.; Shieh, M.; Slater, M. W.; Sozzi, M.; Stoynev, S.; Swallow, E.; Szleper, M.; Valdata-Nappi, M.; Vallage, B.; Velasco, M.; Veltri, M.; Venditti, S.; Wache, M.; Wahl, H.; Walker, A.; Wanke, R.; Widhalm, L.; Winhart, A.; Winston, R.; Wood, M. D.; Wotton, S. A.; Zinchenko, A.; Ziolkowski, M.; Aglieri Rinella, G.; Aliberti, R.; Ambrosino, F.; Angelucci, B.; Antonelli, A.; Azhinenko, I.; Bendotti, J.; Biagioni, A.; Blazek, T.; Blik, A.; Bolotov, V.; Bonaiuto, V.; Bragadireanu, M.; Britton, D.; Britvich, G.; Brook, N.; Bucci, Null; Buescher, V.; Butin, F.; Capitolo, E.; Capoccia, C.; Capussela, T.; Carassiti, V.; Cassese, A.; Catinaccio, A.; Cecchetti, A.; Cerny, V.; Chikilev, O.; Ciaranfi, R.; Cooke, P.; Cooper, P.; Corradi, G.; Cortina Gil, E.; D'Agostini, G.; Dainton, J.; Danielsson, H.; Degrange, J.; De Simone, N.; Di Filippo, D.; Di Lella, L.; Dixon, N.; Duk, V.; Elsha, V.; Engelfried, J.; Enik, T.; Federici, L.; Fry, J.; Fucci, A.; Fulton, L.; Gallorini, S.; Glonti, L.; Goncalves Martins, A.; Gonnella, F.; Guida, R.; Gushchin, E.; Hahn, F.; Hallgren, B.; Heath, H.; Herman, F.; Hutchcroft, D.; Jamet, O.; Jarron, P.; Kampf, K.; Kaplon, J.; Karjavin, V.; Kholodenko, S.; Khoriauli, G.; Khudyakov, A.; Kiryushin, Yu; Kluge, A.; Koval, M.; Krivda, M.; Kudenko, Y.; Kunze, J.; Leitner, R.; Lenci, R.; Leonardi, E.; Lichard, P.; Lietava, R.; Lomidze, D.; Lonardo, A.; Lurkin, N.; Maire, G.; Makarov, A.; Mannocchi, G.; Mapelli, A.; Massarotti, P.; Matak, P.; Mazza, G.; Menichetti, E.; Mirra, M.; Misheva, M.; Morant, J.; Morel, M.; Moulson, M.; Movchan, S.; Napolitano, M.; Newson, F.; Noy, M.; Nuessle, G.; Obraztsov, V.; Padolski, S.; Page, R.; Palladino, V.; Pardons, A.; Pedreschi, E.; Perez Gomez, F.; Perrin-Terrin, M.; Petrov, P.; Piandani, R.; Pietreanu, D.; Pinzino, J.; Pivanti, M.; Popov, I.; Protopopescu, D.; Raffaelli, F.; Riedler, P.; Romano, A.; Russo, V.; Ryjov, V.; Salamon, A.; Salina, G.; Samsonov, V.; Santovetti, E.; Saracino, G.; Sargeni, F.; Schifano, S.; Semenov, V.; Sergi, A.; Serra, M.; Shkarovskiy, S.; Sotnikov, A.; Sougonyaev, V.; Spadaro, T.; Spinella, F.; Staley, R.; Statera, M.; Sutcliffe, P.; Szilasi, N.; Tagnani, D.; Valente, P.; Vasile, M.; Vassilieva, V.; Velghe, B.; Vormstein, M.; Wertelaers, P.; Wrona, B.; Yushchenko, O.; Zamkovsky, M.

doi:10.1088/1742-6596/631/1/012040

Precision tests of the Standard Model with Kaon decays at CERN / Massri, K., Anzivino, G., Arcidiacono, R., Baldini, W., Balev, S., Batley, J.R., Behler, M., Bifani, S., Biino, C., Bizzeti, A., Bloch-Devaux, B., Bocquet, G., Cabibbo, N., Calvetti, M., Cartiglia, N., Ceccucci, A., Cenci, P., Cerri, C., Cheshkov, C., Cheze, J.B., et al.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - ELETTRONICO. - 631:(2015), pp. 012040-012040. [10.1088/1742-6596/631/1/012040]