Diamond detectors for high energy physics experiments

Bäni, L.; Alexopoulos, A.; Artuso, M.; Bachmair, F.; Bartosik, M.; Beacham, J.; Beck, H.; Bellini, V.; Belyaev, V.; Bentele, B.; Berdermann, E.; Bergonzo, P.; Bes, A.; Brom, J. -M.; Bruzzi, M.; Cerv, M.; Chiodini, G.; Chren, D.; Cindro, V.; Claus, G.; Collot, J.; Cumalat, J.; Dabrowski, A.; D'Alessandro, R.; Dauvergne, D.; De Boer, W.; Dorfer, C.; Dünser, M.; Eremin, V.; Eusebi, R.; Forcolin, G.; Forneris, J.; Frais-Kölbl, H.; Gallin-Martel, L.; Gallin-Martel, M. L.; Gan, K. K.; Gastal, M.; Giroletti, C.; Goffe, M.; Goldstein, J.; Golubev, A.; Gorišek, A.; Grigoriev, E.; Grosse-Knetter, J.; Grummer, A.; Gui, B.; Guthoff, M.; Haughton, I.; Hiti, B.; Hits, D.; Hoeferkamp, M.; Hofmann, T.; Hosslet, J.; Hostachy, J. -Y.; Hügging, F.; Hutton, C.; Jansen, H.; Janssen, J.; Kagan, H.; Kanxheri, K.; Kasieczka, G.; Kass, R.; Kassel, F.; Kis, M.; Konovalov, V.; Kramberger, G.; Kuleshov, S.; Lacoste, A.; Lagomarsino, S.; Giudice, A. Lo; Lukosi, E.; Maazouzi, C.; Mandic, I.; Mathieu, C.; Menichelli, M.; Mikuž, M.; Morozzi, A.; Moss, J.; Mountain, R.; Murphy, S.; Muškinja, M.; Oh, A.; Oliviero, P.; Passeri, D.; Pernegger, H.; Perrino, R.; Picollo, F.; Pomorski, M.; Potenza, R.; Quadt, A.; Re, A.; Reichmann, M.; Riley, G.; Roe, S.; Sanz, D.; Scaringella, M.; Schaefer, D.; Schmidt, C. J.; Schnetzer, S.; Sciortino, S.; Scorzoni, A.; Seidel, S.; Servoli, L.; Smith, S.; Sopko, B.; Sopko, V.; Spagnolo, S.; Spanier, S.; Stenson, K.; Stone, R.; Sutera, C.; Tannenwald, B.; Taylor, A.; Traeger, M.; Tromson, D.; Trischuk, W.; Tuve, C.; Uplegger, L.; Velthuis, J.; Venturi, N.; Vittone, E.; Wagner, S.; Wallny, R.; Wang, J. C.; Weingarten, J.; Weiss, C.; Wengler, T.; Wermes, N.; Yamouni, M.; Zavrtanik, M.

doi:10.1088/1748-0221/13/01/C01029

Beam test results of the radiation tolerance study of chemical vapour deposition (CVD) diamond against different particle species and energies is presented. We also present beam test results on the independence of signal size on incident particle rate in charged particle detectors based on un-irradiated and irradiated poly-crystalline CVD diamond over a range of particle fluxes from 2 kHz/cm 2 to 10 MHz/cm 2 . The pulse height of the sensors was measured with readout electronics with a peaking time of 6 ns. In addition functionality of poly-crystalline CVD diamond 3D devices was demonstrated in beam tests and 3D diamond detectors are shown to be a promising technology for applications in future high luminosity experiments.

Diamond detectors for high energy physics experiments / Bäni, L.*; Alexopoulos, A.; Artuso, M.; Bachmair, F.; Bartosik, M.; Beacham, J.; Beck, H.; Bellini, V.; Belyaev, V.; Bentele, B.; Berdermann, E.; Bergonzo, P.; Bes, A.; Brom, J.-M.; Bruzzi, M.; Cerv, M.; Chiodini, G.; Chren, D.; Cindro, V.; Claus, G.; Collot, J.; Cumalat, J.; Dabrowski, A.; D'Alessandro, R.; Dauvergne, D.; De Boer, W.; Dorfer, C.; Dünser, M.; Eremin, V.; Eusebi, R.; Forcolin, G.; Forneris, J.; Frais-Kölbl, H.; Gallin-Martel, L.; Gallin-Martel, M.L.; Gan, K.K.; Gastal, M.; Giroletti, C.; Goffe, M.; Goldstein, J.; Golubev, A.; Gorišek, A.; Grigoriev, E.; Grosse-Knetter, J.; Grummer, A.; Gui, B.; Guthoff, M.; Haughton, I.; Hiti, B.; Hits, D.; Hoeferkamp, M.; Hofmann, T.; Hosslet, J.; Hostachy, J.-Y.; Hügging, F.; Hutton, C.; Jansen, H.; Janssen, J.; Kagan, H.; Kanxheri, K.; Kasieczka, G.; Kass, R.; Kassel, F.; Kis, M.; Konovalov, V.; Kramberger, G.; Kuleshov, S.; Lacoste, A.; Lagomarsino, S.; Giudice, A. Lo; Lukosi, E.; Maazouzi, C.; Mandic, I.; Mathieu, C.; Menichelli, M.; Mikuž, M.; Morozzi, A.; Moss, J.; Mountain, R.; Murphy, S.; Muškinja, M.; Oh, A.; Oliviero, P.; Passeri, D.; Pernegger, H.; Perrino, R.; Picollo, F.; Pomorski, M.; Potenza, R.; Quadt, A.; Re, A.; Reichmann, M.; Riley, G.; Roe, S.; Sanz, D.; Scaringella, M.; Schaefer, D.; Schmidt, C.J.; Schnetzer, S.; Sciortino, S.; Scorzoni, A.; Seidel, S.; Servoli, L.; Smith, S.; Sopko, B.; Sopko, V.; Spagnolo, S.; Spanier, S.; Stenson, K.; Stone, R.; Sutera, C.; Tannenwald, B.; Taylor, A.; Traeger, M.; Tromson, D.; Trischuk, W.; Tuve, C.; Uplegger, L.; Velthuis, J.; Venturi, N.; Vittone, E.; Wagner, S.; Wallny, R.; Wang, J.C.; Weingarten, J.; Weiss, C.; Wengler, T.; Wermes, N.; Yamouni, M.; Zavrtanik, M.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 13:(2018), pp. C01029-C01029. [10.1088/1748-0221/13/01/C01029]