High Quality SiC Applications in Radiation Dosimetry / M. BRUZZI; NAVA F.; PINI S.; RUSSO S.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - STAMPA. - 184:(2001), pp. 425-430.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in FLORE sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.