Optical characterization of semiconductor microcavity by spatially resolved imaging and resonant Rayleigh scattering / M. GURIOLI; F. BOGANI; D. S. WIERSMA; PH. ROUSSIGNOL; G. CASSABOIS; G. KHITROVA; H. GIBBS. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLIED RESEARCH. - ISSN 0031-8965. - STAMPA. - 190:(2002), pp. 363-367. [10.1002/1521-396X(200204)190]

Optical characterization of semiconductor microcavity by spatially resolved imaging and resonant Rayleigh scattering

GURIOLI, MASSIMO;BOGANI, FRANCO;WIERSMA, DIEDERIK SYBOLT;
2002

2002
190
363
367
M. GURIOLI; F. BOGANI; D. S. WIERSMA; PH. ROUSSIGNOL; G. CASSABOIS; G. KHITROVA; H. GIBBS
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