A new symbolic method for analog circuit testability evaluation / FEDI G.; LUCHETTA A.; S. MANETTI; PICCIRILLI M.C.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - STAMPA. - Vol. 47, no. 2:(1998), pp. 554-565.
A new symbolic method for analog circuit testability evaluation
LUCHETTA, ANTONIO;MANETTI, STEFANO;PICCIRILLI, MARIA CRISTINA
1998
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