A precise measurement of the direct CP violation parameter Re(epsilon '/epsilon)

Lai, A.; Marras, D.; Bevan, A.; Dosanjh, R. S.; Gershon, T. J.; Hay, B.; Kalmus, G. E.; Lazzeroni, C.; Munday, D. J.; Needham, M. D.; Olaiya, E.; Michael Andrew Parker,; White, T. O.; Wotton, S. A.; Barr, G.; Bocquet, G.; Ceccucci, A.; Cuhadar Donszelmann, T.; Cundy, D.; D'Agonstini, G.; Doble, N.; Falaleev, V.; Funk, W.; Gatignon, L.; Gonidec, A.; Gorini, B.; Govi, G.; Grafstrom, P.; Kubischta, W.; Lacourt, A.; Lenti, M.; Luitz, S.; Matheys, J. P.; Mikulec, I.; Norton, A.; Palestini, S.; Panzer Steindel, B.; Schinzel, D.; Tatishvili, G.; Taureg, H.; Velasco, M.; Vossnack, O.; Wahl, Heinrich; Cheshkov, C.; Gaponenko, A.; Hristov, P.; Kekelidze, V.; Madigojine, D.; Molokanova, N.; Potrebenikov, Y. u.; Tkatchev, A.; Zinchenko, A.; Knowles, I.; Martin, V.; Parsons, H.; Sacco, R.; Walker, A.; Contalbrigo, M.; Dalpiaz, P.; Duclos, J.; Frabetti, P. L.; Gianoli, A.; Martini, M.; Petrucci, F.; Savrie, M.; Scarpa, M.; Bizzeti, A.; Calvetti, Mario; Collazuol, G.; Graziani, G.; Iacopini, Enrico; Martelli, F.; Veltri, M.; Becker, H. G.; Blumer, H.; Coward, D.; Eppard, M.; Fox, H.; Hirstius, A.; Holtz, K.; Kalter, A.; Kleinknecht, K.; Koch, U.; Kopke, L.; Lopes da Silva, P.; Marouelli, P.; Pellmann, I.; Peters, A.; Schmidt, S. A.; Schonarting, V.; Schue, Y.; Wanke, R.; Winhart, A.; Wittgen, M.; Chollet, J. C.; Sabine Crepe Renaudin,; Fayard, L.; Iconomidou Fayard, L.; Ocariz, J.; Unal, G.; Wingerter Seez, I.; Anzivino, G.; Cenci, P.; Imbergamo, E.; Lubrano, P.; Mestvirishvili, A.; Nappi, A.; Pepe, M.; Piccini, M.; Bertanza, L.; Calafiura, P.; Carosi, R.; Casali, R.; Cerri, C.; Cirilli, M.; Costantini, F.; Fantechi, R.; Giudici, S.; Mannelli, I.; Marzulli, V.; Pierazzini, G.; Sozzi, M.; Cheze, J. B.; Cogan, J.; De Beer, M.; Debu, P.; Derue, F.; Formica, A.; Granier de Cassagnac, R.; Mazzucato, E.; Peyaud, B.; Turlay, R.; Vallage, B.; Augustin, I.; Bender, M.; Holder, M.; Maier, A.; Ziolkowski, M.; Arcidiacono, R.; Biino, C.; Cartiglia, N.; Guida, R.; Marchetto, F.; Menichetti, E.; Pastrone, N.; Nassalski, J.; Rondio, E.; Szleper, M.; Wislicki, W.; Wronka, S.; Dibon, H.; Fischer, G.; Jeitler, M.; Markytan, M.; Neuhofer, G.; Pernicka, M.; Taurok, A.; Widhalm, L.

Misura del parametro di violazione diretta di CP nel sistema dei K neutri

A precise measurement of the direct CP violation parameter Re(epsilon '/epsilon) / A. Lai; D. Marras; A. Bevan; R.S. Dosanjh; T.J. Gershon; B. Hay; G.E. Kalmus; C. Lazzeroni; D.J. Munday; M.D. Needham; E. Olaiya; Michael Andrew Parker; T.O. White; S.A. Wotton; G. Barr; G. Bocquet; A. Ceccucci; T. Cuhadar-Donszelmann; D. Cundy; G. D'Agonstini; N. Doble; V. Falaleev; W. Funk; L. Gatignon; A. Gonidec; B. Gorini; G. Govi; P. Grafstrom; W. Kubischta; A. Lacourt; M. Lenti; S. Luitz; J.P. Matheys; I. Mikulec; A. Norton; S. Palestini; B. Panzer-Steindel; D. Schinzel; G. Tatishvili; H. Taureg; M. Velasco; O. Vossnack; Heinrich Wahl; C. Cheshkov; A. Gaponenko; P. Hristov; V. Kekelidze; D. Madigojine; N. Molokanova; Yu. Potrebenikov; A. Tkatchev; A. Zinchenko; I. Knowles; V. Martin; H. Parsons; R. Sacco; A. Walker; M. Contalbrigo; P. Dalpiaz; J. Duclos; P.L. Frabetti; A. Gianoli; M. Martini; F. Petrucci; M. Savrie; M. Scarpa; A. Bizzeti; M. Calvetti; G. Collazuol; G. Graziani; E. Iacopini; F. Martelli; M. Veltri; H.G. Becker; H. Blumer; D. Coward; M. Eppard; H. Fox; A. Hirstius; K. Holtz; A. Kalter; K. Kleinknecht; U. Koch; L. Kopke; P. Lopes da Silva; P. Marouelli; I. Pellmann; A. Peters; S.A. Schmidt; V. Schonarting; Y. Schue; R. Wanke; A. Winhart; M. Wittgen; J.C. Chollet; Sabine Crepe-Renaudin; L. Fayard; L. Iconomidou-Fayard; J. Ocariz; G. Unal; I. Wingerter-Seez; G. Anzivino; P. Cenci; E. Imbergamo; P. Lubrano; A. Mestvirishvili; A. Nappi; M. Pepe; M. Piccini; L. Bertanza; P. Calafiura; R. Carosi; R. Casali; C. Cerri; M. Cirilli; F. Costantini; R. Fantechi; S. Giudici; I. Mannelli; V. Marzulli; G. Pierazzini; M. Sozzi; J.B. Cheze; J. Cogan; M. De Beer; P. Debu; F. Derue; A. Formica; R. Granier de Cassagnac; E. Mazzucato; B. Peyaud; R. Turlay; B. Vallage; I. Augustin; M. Bender; M. Holder; A. Maier; M. Ziolkowski; R. Arcidiacono; C. Biino; N. Cartiglia; R. Guida; F. Marchetto; E. Menichetti; N. Pastrone; J. Nassalski; E. Rondio; M. Szleper; W. Wislicki; S. Wronka; H. Dibon; G. Fischer; M. Jeitler; M. Markytan; G. Neuhofer; M. Pernicka; A. Taurok; L. Widhalm. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - STAMPA. - 22:(2001), pp. 231-254.