Measurement of the doping homogeneity of silicon detectors as a function of the impact point in a typical experimental configuration

In-beam measurements of silicon detector homogeneity via PulseShape Analysis / L.Bardelli, M.Benelli, M.Bini, G.Casini, A.Nannini, A.Olmi, G.Pasquali, S.Piantelli, G.Poggi, A.Stefanini, F.Gramegna, V.L.Kravchuk, M.Bruno, M.D'Agostino, P.Marini, A.Ordine, E.Rosato, M.Vigilante, S.Barlini, M.F.Rivet, et al.. - STAMPA. - (2008), pp. 209-210. (Laboratori Nazionali di Legnaro (LNL) Annual Report 2007 ).

In-beam measurements of silicon detector homogeneity via PulseShape Analysis

BARDELLI, LUIGI;M. Benelli;BINI, MAURIZIO;CASINI, GIOVANNI;OLMI, ALESSANDRO;PASQUALI, GABRIELE;POGGI, GIACOMO;STEFANINI, ANDREA;BARLINI, SANDRO;
2008

Abstract

Measurement of the doping homogeneity of silicon detectors as a function of the impact point in a typical experimental configuration
2008
Laboratori Nazionali di Legnaro (LNL) Annual Report 2007
Laboratori Nazionali di Legnaro (LNL) Annual Report 2007
L.Bardelli; M.Benelli; M.Bini; G.Casini; A.Nannini; A.Olmi; G.Pasquali; S.Piantelli; G.Poggi; A.Stefanini; F.Gramegna; V.L.Kravchuk; M.Bruno; M.D'Ag...espandi
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