A model for impact dynamics and its application to frequency analysis of tapping-mode atomic force microscopes / D. Materassi; M. Basso; R. Genesio. - ELETTRONICO. - 6:(2003), pp. 6218-6223. (Intervento presentato al convegno 42nd IEEE Conference on Decision and Control tenutosi a Maui (HI) nel 2003-9--12 Dec.) [10.1109/CDC.2003.1272277].

A model for impact dynamics and its application to frequency analysis of tapping-mode atomic force microscopes

MATERASSI, DONATELLO;BASSO, MICHELE;GENESIO, ROBERTO
2003
2003
Proc. 42nd IEEE Conference on Decision and Control
42nd IEEE Conference on Decision and Control
Maui (HI)
2003-9--12 Dec.
D. Materassi; M. Basso; R. Genesio
4a - Articolo in atti di congresso
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