Defect Characterization in Silicon ParticleDetectors Irradiated With Li Ions / M. Scaringella; D. Menichelli; A. Candelori; R. Rando; M. Bruzzi. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - 53:(2006), pp. 589-594. [10.1109/TNS.2006.873216]
Defect Characterization in Silicon ParticleDetectors Irradiated With Li Ions
SCARINGELLA, MONICA;MENICHELLI, DAVID;BRUZZI, MARA
2006
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