Production and test of the LHCf microstrip silicon system / L. Bonechi;O. Adriani;M. Bongi;G. Castellini;R. D'Alessandro;A. Faus;M. Haguenauer;Y. Itow;K. Kasahara;D. Macina;T. Mase;K. Masuda;Y. Matsubara;H. Matsumoto;H. Menjo;M. Mizuishi;Y. Muraki;P. Papini;A. L. Perrot;S. Ricciarini;T. Sako;Y. Shimizu;T. Tamura;S. Torii;A. Tricomi;W. C. Turner;J. Velasco;H. Watanabe;K. Yoshida. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 596:(2008), pp. 85-87. [10.1016/j.nima.2008.07.122]

Production and test of the LHCf microstrip silicon system

BONECHI, LORENZO;ADRIANI, OSCAR;BONGI, MASSIMO;D'ALESSANDRO, RAFFAELLO;
2008
2008
596
85
87
L. Bonechi;O. Adriani;M. Bongi;G. Castellini;R. D'Alessandro;A. Faus;M. Haguenauer;Y. Itow;K. Kasahara;D. Macina;T. Mase;K. Masuda;Y. Matsubara;H. Matsumoto;H. Menjo;M. Mizuishi;Y. Muraki;P. Papini;A. L. Perrot;S. Ricciarini;T. Sako;Y. Shimizu;T. Tamura;S. Torii;A. Tricomi;W. C. Turner;J. Velasco;H. Watanabe;K. Yoshida
1a - Articolo su rivista
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