A precise determination of the number of families with light neutrinos and of the Z boson partial widths

Focardi, Ettore; Deschizeaux, B.; Lees, J. P.; Minard, M. N.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fernandez, E.; Martinez, M.; Miquel, R.; Mir, L. l. M.; Orteu, S.; Pacheco, A.; Perlas, J. A.; Tubau, E.; Catanesi, M. G.; de Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Hu, H.; Huang, D.; Lin, J.; Ruan, T.; Wang, T.; Wu, W.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhao, W.; Albrecht, H.; Atwood, W. B.; Bird, F.; Blucher, E.; Burnett, T. H.; Charity, T.; Drevermann, H.; Garrido, L. l.; Grab, C.; Hagelberg, R.; Haywood, S.; Jost, B.; Kasemann, M.; Kellner, G.; Knobloch, J.; Lacourt, A.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Lüke, D.; Marchioro, A.; Mato, P.; May, J.; Minten, A.; Miotto, A.; Palazzi, P.; Pepe Altarelli, M.; Ranjard, F.; Roth, A.; Rothberg, J.; Rotscheidt, H.; von Rüden, W.; Denis, R. S. t.; Schlatter, D.; Takashima, M.; Talby, M.; Taureg, H.; Tejessy, W.; Wachsmuth, H.; Wheeler, S.; Wiedenmann, W.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Bardadin Otwinowska, M.; Falvard, A.; Gay, P.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Proriol, J.; Prujhière, F.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Møllerud, R.; Petersen, G.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Bourotte, J.; Braems, F.; Brient, J. C.; Ciocci, M. A.; Fouque, G.; Guirlet, R.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Videau, H.; Videau, I.; Candlin, D. J.; Conti, A.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Goldman, J. H.; Ikeda, M.; Lannutti, J.; Levinthal, D.; Mermikides, M.; Sawyer, L.; Stimpfl, G.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Chiarella, V.; de Ninno, G.; D'Ettorre Piazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Nicoletti, G.; Picchi, P.; Zografou, P.; Altoon, B.; Boyle, O.; Halley, A. W.; Ten Have, I.; Hearns, J. L.; Hughes, I. S.; Lynch, J. G.; Morton, W. T.; Raine, C.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Thompson, A. S.; Brandl, B.; Braun, O.; Geiges, R.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Panter, M.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Belk, A. T.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Dornan, P. J.; Dugeay, S.; Forty, R. W.; Greene, A. M.; Hassard, J. F.; Patton, S. J.; Sedgbeer, J. K.; Taylor, G.; Tomalin, I. R.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Rowlingson, B. S.; Sloan, T.; Snow, W.; Barczewski, T.; Bauerdick, L. A. T.; Kleinknecht, K.; Renk, B.; Roehn, S.; Sander, H. G.; Schmelling, M.; Steeg, F.; Albanese, J. P.; Aubert, J. J.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Courvoisier, D.; Etienne, F.; Matsinos, E.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Pietrzyk, B.; Qian, Z.; Blum, W.; Cattaneo, P.; Cowan, G.; Dehning, B.; Dietl, H.; Fernandez Bosman, M.; Hauff, D.; Jahn, A.; Lange, E.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Moser, H. G.; Pan, Y.; Richter, R.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Stiegler, U.; Stierlin, U.; Thomas, J.; Waltermann, G.; Bertin, V.; de Bouard, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Chen, X.; Cordier, A.; Davier, M.; Ganis, G.; Grivaz, J. F.; Heusse, P. h.; Janot, P.; Journé, V.; Kim, D. W.; Lefrançois, J.; Lutz, A. M.; Veillet, J. J.; Zomer, F.; Amendolia, S. R.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bosisio, L.; Bottigli, U.; Bradaschia, C.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foà, L.; Focardi, E.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Sanguinetti, G.; Scapellato, S.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Carter, J. M.; Green, M. G.; March, P. V.; Medcalf, T.; Saich, M. R.; Strong, J. A.; Thomas, R. M.; Wildish, T.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Edwards, M.; Fisher, S. M.; Harvey, J.; Jones, T. J.; Norton, P. R.; Salmon, D. P.; Thompson, J. C.; Aubourg, E.; Bloch Devaux, B.; Colas, P.; Klopfenstein, C.; Lançon, E.; Locci, E.; Loucatos, S.; Mirabito, L.; Monnier, E.; Perez, P.; Perrier, F.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Roussanrie, A.; Schuller, J. P.; Ashman, J. G.; Booth, C. N.; Combley, F.; Dinnsdale, M.; Martin, J.; Parker, D.; Thompson, L. F.; Brandt, S.; Burkhardt, H.; Grupen, C.; Meinhard, H.; Neugebauer, E.; Schäfer, U.; Seywerd, H.; Gobbo, B.; Liello, F.; Millotti, E.; Ragusa, F.; Rolandi, L.; Bellantoni, L.; Boudreau, J. F.; Cinabro, D.; Conway, J. S.; Cowen, D. F.; Feng, Z.; Harton, J. L.; Hilgart, J.; Jared, R. C.; Johnson, R. P.; Leclaire, B. W.; Pan, Y. B.; Parker, T.; Pater, J. R.; Saadi, Y.; Sharma, V.; Wear, J. A.; Weber, F. V.; Sau Lan Wu,; Xue, S. T.; Zobernig, G.

doi:10.1016/0370-2693(90)91984-J

More extensive and precise results are reported on the parameters of Z decay. On the basis of 20 000 Z decays collected with the ALEPH detector at LEP we find Mz=91.182±0.026 (exp.) ±0.030 (beam) GeV, Γz=2.541±0.056 GeV and σhad0=41.4±0.8 nb. The partial widths for the hadronic and leptonic channels are Γhad=1804±44 MeV, Γe+e−=82.1±3.4 MeV, Γμ+μ−=87.9±6.0 MeV and Γτ+τ−=86.1±5.6 MeV, in good agreement with the standard model. On the basis of the average leptonic width Γℓ+ℓ−=83.9±2.2 MeV, the effective weak mixing angle is found to be sin2θw(Mz)=0.231±0.008. Usin g the partial widths calculated in the standard model, the number of light neutrino families is Nν=3.01±0.15 (exp.)±0.05 (theor.).

A precise determination of the number of families with light neutrinos and of the Z boson partial widths / D. Decamp;B. Deschizeaux;J.-P. Lees;M.-N. Minard;J.M. Crespo;M. Delfino;E. Fernandez;M. Martinez;R. Miquel;Ll.M. Mir;S. Orteu;A. Pacheco;J.A. Perlas;E. Tubau;M.G. Catanesi;M. de Palma;A. Farilla;G. Iaselli;G. Maggi;S. Natali;S. Nuzzo;A. Ranieri;G. Raso;F. Romano;F. Ruggieri;G. Selvaggi;L. Silvestris;P. Tempesta;G. Zito;H. Hu;D. Huang;J. Lin;T. Ruan;T. Wang;W. Wu;Y. Xie;D. Xu;R. Xu;J. Zhang;W. Zhao;H. Albrecht;W.B. Atwood;F. Bird;E. Blucher;T.H. Burnett;T. Charity;H. Drevermann;Ll. Garrido;C. Grab;R. Hagelberg;S. Haywood;B. Jost;M. Kasemann;G. Kellner;J. Knobloch;A. Lacourt;I. Lehraus;T. Lohse;D. Lüke;A. Marchioro;P. Mato;J. May;A. Minten;A. Miotto;P. Palazzi;M. Pepe-Altarelli;F. Ranjard;A. Roth;J. Rothberg;H. Rotscheidt;W. von Rüden;R. St.Denis;D. Schlatter;M. Takashima;M. Talby;H. Taureg;W. Tejessy;H. Wachsmuth;S. Wheeler;W. Wiedenmann;W. Witzeling;J. Wotschack;Z. Ajaltouni;M. Bardadin-Otwinowska;A. Falvard;P. Gay;P. Henrard;J. Jousset;B. Michel;J-C. Montret;D. Pallin;P. Perret;J. Proriol;F. Prujhière;J.D. Hansen;J.R. Hansen;P.H. Hansen;R. Møllerud;G. Petersen;E. Simopoulou;A. Vayaki;J. Badier;A. Blondel;G. Bonneaud;J. Bourotte;F. Braems;J.C. Brient;M.A. Ciocci;G. Fouque;R. Guirlet;A. Rougé;M. Rumpf;R. Tanaka;H. Videau;I. Videau;D.J. Candlin;A. Conti;G. Parrini;M. Corden;C. Georgiopoulos;J.H. Goldman;M. Ikeda;J. Lannutti;D. Levinthal;M. Mermikides;L. Sawyer;G. Stimpfl;A. Antonelli;R. Baldini;G. Bencivenni;G. Bologna;F. Bossi;P. Campana;G. Capon;V. Chiarella;G. de Ninno;B. D'Ettorre-Piazzoli;G. Felici;P. Laurelli;G. Mannocchi;F. Murtas;G.P. Murtas;G. Nicoletti;P. Picchi;P. Zografou;B. Altoon;O. Boyle;A.W. Halley;I. Ten Have;J.L. Hearns;I.S. Hughes;J.G. Lynch;W.T. Morton;C. Raine;J.M. Scarr;K. Smith;A.S. Thompson;B. Brandl;O. Braun;R. Geiges;C. Geweniger;P. Hanke;V. Hepp;E.E. Kluge;Y. Maumary;M. Panter;A. Putzer;B. Rensch;A. Stahl;K. Tittel;M. Wunsch;A.T. Belk;R. Beuselinck;D.M. Binnie;W. Cameron;M. Cattaneo;P.J. Dornan;S. Dugeay;R.W. Forty;A.M. Greene;J.F. Hassard;S.J. Patton;J.K. Sedgbeer;G. Taylor;I.R. Tomalin;A.G. Wright;P. Girtler;D. Kuhn;G. Rudolph;C.K. Bowdery;T.J. Brodbeck;A.J. Finch;F. Foster;G. Hughes;N.R. Keemer;M. Nuttall;B.S. Rowlingson;T. Sloan;W. Snow;T. Barczewski;L.A.T. Bauerdick;K. Kleinknecht;B. Renk;S. Roehn;H.-G. Sander;M. Schmelling;F. Steeg;J.-P. Albanese;J.-J. Aubert;C. Benchouk;A. Bonissent;D. Courvoisier;F. Etienne;E. Matsinos;S. Papalexiou;P. Payre;B. Pietrzyk;Z. Qian;W. Blum;P. Cattaneo;G. Cowan;B. Dehning;H. Dietl;M. Fernandez-Bosman;D. Hauff;A. Jahn;E. Lange;G. Lütjens;G. Lutz;W. Männer;H.-G. Moser;Y. Pan;R. Richter;A.S. Schwarz;R. Settles;U. Stiegler;U. Stierlin;J. Thomas;G. Waltermann;V. Bertin;G. de Bouard;J. Boucrot;O. Callot;X. Chen;A. Cordier;M. Davier;G. Ganis;J.-F. Grivaz;Ph. Heusse;P. Janot;V. Journé;D.W. Kim;J. Lefrançois;A.-M. Lutz;J.-J. Veillet;F. Zomer;S.R. Amendolia;G. Bagliesi;G. Batignani;L. Bosisio;U. Bottigli;C. Bradaschia;I. Ferrante;F. Fidecaro;L. Foà;E. Focardi;F. Forti;A. Giassi;M.A. Giorgi;F. Ligabue;A. Lusiani;E.B. Mannelli;P.S. Marrocchesi;A. Messineo;F. Palla;G. Sanguinetti;S. Scapellato;J. Steinberger;R. Tenchini;G. Tonelli;G. Triggiani;J.M. Carter;M.G. Green;P.V. March;T. Medcalf;M.R. Saich;J.A. Strong;R.M. Thomas;T. Wildish;D.R. Botterill;R.W. Clifft;T.R. Edgecock;M. Edwards;S.M. Fisher;J. Harvey;T.J. Jones;P.R. Norton;D.P. Salmon;J.C. Thompson;E. Aubourg;B. Bloch-Devaux;P. Colas;C. Klopfenstein;E. Lançon;E. Locci;S. Loucatos;L. Mirabito;E. Monnier;P. Perez;F. Perrier;J. Rander;J.-F. Renardy;A. Roussanrie;J.-P. Schuller;J.G. Ashman;C.N. Booth;F. Combley;M. Dinnsdale;J. Martin;D. Parker;L.F. Thompson;S. Brandt;H. Burkhardt;C. Grupen;H. Meinhard;E. Neugebauer;U. Schäfer;H. Seywerd;B. Gobbo;F. Liello;E. Millotti;F. Ragusa;L. Rolandi;L. Bellantoni;J.F. Boudreau;D. Cinabro;J.S. Conway;D.F. Cowen;Z. Feng;J.L. Harton;J. Hilgart;R.C. Jared;R.P. Johnson;B.W. Leclaire;Y.B. Pan;T. Parker;J.R. Pater;Y. Saadi;V. Sharma;J.A. Wear;F.V. Weber;Sau Lan Wu;S.T. Xue;G. Zobernig. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 235:(1990), pp. 399-411. [10.1016/0370-2693(90)91984-J]