A precise measurement of the τ lepton lifetime

Focardi, Ettore; Decamp, D.; Goy, C.; Lees, J. P.; Minard, M. N.; Mours, B.; Alemany, R.; Ariztizabal, F.; Comas, P.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fernandez, E.; Gaitan, V.; Garrido, L. l.; Mattison, T.; Pacheco, A.; Padilla, C.; Pascual, A.; Creanza, D.; de Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Quattromini, M.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Hu, H.; Huang, D.; Huang, X.; Lin, J.; Lou, J.; Qiao, C.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhao, W.; Bauerdick, L. A. T.; Blucher, E.; Bonvicini, G.; Bossi, F.; Boudreau, J.; Casper, D.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Ganis, G.; Gay, C.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Haywood, S.; Hilgart, J.; Jacobsen, R.; Jost, B.; Knobloch, J.; Lançon, E.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Lusiani, A.; Martinez, M.; Mato, P.; Meinhard, H.; Minten, A.; Miquel, R.; Moser, H. G.; Palazzi, P.; Perlas, J. A.; Pusztaszeri, J. F.; Ranjard, F.; Redlinger, G.; Rolandi, L.; Rothberg, J.; Ruan, T.; Saich, M.; Schlatter, D.; Schmelling, M.; Sefkow, F.; Tejessy, W.; Wachsmuth, H.; Wiedenmann, W.; Wildish, T.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Badaud, F.; Bardadin Otwinowska, M.; Bencheikh, A. M.; El Fellous, R.; Falvard, A.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Pietrzyk, B.; Proriol, J.; Prulhiére, F.; Stimpfl, G.; Fearnley, T.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Møllerud, R.; Nilsson, B. S.; Efthymiopoulos, I.; Kyriakis, A.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Fouque, G.; Orteu, S.; Rosowsky, A.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Verderi, M.; Videau, H.; Candlin, D. J.; Parsons, M. I.; Veitch, E.; Moneta, L.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Ikeda, M.; Lannutti, J.; Levinthal, D.; Mermikides, M.; Sawyer, L.; Wasserbaech, S.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; D'Ettorre Piazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Passalacqua, L.; Pepe Altarelli, M.; Picchi, P.; Altoon, B.; Boyle, O.; Colrain, P.; ten Have, I.; Lynch, J. G.; Maitland, W.; Morton, W. T.; Raine, C.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Thompson, A. S.; Turnbull, R. M.; Brandl, B.; Braun, O.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Belk, A. T.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Colling, D. J.; Dornan, P. J.; Dugeay, S.; Greene, A. M.; Hassard, J. F.; Lieske, N. M.; Nash, J.; Patton, S. J.; Payne, D. G.; Phillips, M. J.; Sedgbeer, J. K.; Tomalin, I. R.; Wright, A. G.; Kneringer, E.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Jackson, D.; Kreemer, N. R.; Nuttall, M.; Patel, A.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Whelan, E. P.; Kleinknecht, K.; Raab, J.; Renk, B.; Sander, H. G.; Schmidt, H.; Steeg, F.; Walther, S. M.; Wolf, B.; Aubert, J. J.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Carr, J.; Coyle, P.; Drinkard, J.; Etienne, F.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Qian, Z.; Roos, L.; Rousseau, D.; Schwemling, P.; Talby, M.; Adlung, S.; Bauer, C.; Blum, W.; Brown, D.; Cattaneo, P.; Cowan, G.; Dehning, B.; Dietl, H.; Dydak, F.; Fernandez Bosman, M.; Frank, M.; Halley, A. W.; Lauber, J.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Richter, R.; Rotscheidt, H.; Schröder, J.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stierlin, U.; Stiegler, U.; Denis, R. S. t.; Takashima, M.; Thomas, J.; Wolf, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Cordier, A.; Davier, M.; Grivaz, J. F.; Heusse, P. h.; Jaffe, D. E.; Janot, P.; Kim, D. W.; Le Diberder, F.; Lefrançois, J.; Lutz, A. M.; Schune, M. H.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Zhang, Z.; Abbaneo, D.; Amendolia, S. R.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bosisio, L.; Bottigli, U.; Bozzi, C.; Bradaschia, C.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Dell'Orso, R.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foá, L.; Focardi, E.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Ligabue, F.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Carter, J. M.; Green, M. G.; March, P. V.; Mir, L. l. M.; Medcalf, T.; Quazi, I. S.; Strong, J. A.; West, L. R.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Edwards, M.; Fisher, S. M.; Jones, T. J.; Norton, P. R.; Salmon, D. P.; Thompson, J. C.; Bloch Devaux, B.; Colas, P.; Duarte, H.; Kozanecki, W.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Loucatos, S.; Monnier, E.; Perez, P.; Perrier, F.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Si Mohand, D.; Vallage, B.; Johnson, R. P.; Litke, A. M.; Taylor, G.; Wear, J.; Ashman, J. G.; Babbage, W.; Booth, C. N.; Buttar, C.; Carney, R. E.; Cartwright, S.; Combley, F.; Hatfield, F.; Reeves, P.; Thompson, L. F.; Barberio, E.; Böhrer, A.; Brandt, S.; Grupen, C.; Rivera, F.; Schäfer, U.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Ragusa, F.; Bellantoni, L.; Chen, W.; Cinabro, D.; Conway, J. S.; Cowen, D. F.; Feng, Z.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y. S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Jared, R. C.; Leclaire, B. W.; Lishka, C.; Pan, Y. B.; Pater, J. R.; Saadi, Y.; Sharma, V.; Schmitt, M.; Shi, Z. H.; Walsh, A. M.; Weber, F. V.; Whitney, M. H.; Sau Lan Wu,; Wu, X.; Zobernig, G.

doi:10.1016/0370-2693(92)91283-F

Three different techniques are used to measure the mean decay length of the τ lepton with a high precision vertex detector in a sample of 11 800 τ pairs coming from Z decays, collected in1991 by ALEPH at LEP. Events in which both τ's decay into one charged track are analyzed using two largely independent methods. Displaced vertices in three-prong decays yield another independent measurement. The derived lifetime is 295.5 ± 5.9 ± 3.1 fs, using mτ = 1777.1 ± 0.5 MeV/c2. Including previous (1989–1990) ALEPH measurements, the combined τ lifetime is 294.7 ± 5.4 ± 3.0 fs.

A precise measurement of the τ lepton lifetime / D. Buskulic;D. Decamp;C. Goy;J.-P. Lees;M.-N. Minard;B. Mours;R. Alemany;F. Ariztizabal;P. Comas;J.M. Crespo;M. Delfino;E. Fernandez;V. Gaitan;Ll. Garrido;T. Mattison;A. Pacheco;C. Padilla;A. Pascual;D. Creanza;M. de Palma;A. Farilla;G. Iaselli;G. Maggi;M. Maggi;S. Natali;S. Nuzzo;M. Quattromini;A. Ranieri;G. Raso;F. Romano;F. Ruggieri;G. Selvaggi;L. Silvestris;P. Tempesta;G. Zito;H. Hu;D. Huang;X. Huang;J. Lin;J. Lou;C. Qiao;T. Wang;Y. Xie;D. Xu;R. Xu;J. Zhang;W. Zhao;L.A.T. Bauerdick;E. Blucher;G. Bonvicini;F. Bossi;J. Boudreau;D. Casper;H. Drevermann;R.W. Forty;G. Ganis;C. Gay;R. Hagelberg;J. Harvey;S. Haywood;J. Hilgart;R. Jacobsen;B. Jost;J. Knobloch;E. Lançon;I. Lehraus;T. Lohse;A. Lusiani;M. Martinez;P. Mato;H. Meinhard;A. Minten;R. Miquel;H.-G. Moser;P. Palazzi;J.A. Perlas;J.-F. Pusztaszeri;F. Ranjard;G. Redlinger;L. Rolandi;J. Rothberg;T. Ruan;M. Saich;D. Schlatter;M. Schmelling;F. Sefkow;W. Tejessy;H. Wachsmuth;W. Wiedenmann;T. Wildish;W. Witzeling;J. Wotschack;Z. Ajaltouni;F. Badaud;M. Bardadin-Otwinowska;A.M. Bencheikh;R. El Fellous;A. Falvard;P. Gay;C. Guicheney;P. Henrard;J. Jousset;B. Michel;J.-C. Montret;D. Pallin;P. Perret;B. Pietrzyk;J. Proriol;F. Prulhiére;G. Stimpfl;T. Fearnley;J.D. Hansen;J.R. Hansen;R. Møllerud;B.S. Nilsson;I. Efthymiopoulos;A. Kyriakis;E. Simopoulou;A. Vayaki;K. Zachariadou;J. Badier;A. Blondel;G. Bonneaud;J.C. Brient;G. Fouque;S. Orteu;A. Rosowsky;A. Rougé;M. Rumpf;R. Tanaka;M. Verderi;H. Videau;D.J. Candlin;M.I. Parsons;E. Veitch;L. Moneta;G. Parrini;M. Corden;C. Georgiopoulos;M. Ikeda;J. Lannutti;D. Levinthal;M. Mermikides;L. Sawyer;S. Wasserbaech;A. Antonelli;R. Baldini;G. Bencivenni;G. Bologna;P. Campana;G. Capon;F. Cerutti;V. Chiarella;B. D'Ettorre-Piazzoli;G. Felici;P. Laurelli;G. Mannocchi;F. Murtas;G.P. Murtas;L. Passalacqua;M. Pepe-Altarelli;P. Picchi;B. Altoon;O. Boyle;P. Colrain;I. ten Have;J.G. Lynch;W. Maitland;W.T. Morton;C. Raine;J.M. Scarr;K. Smith;A.S. Thompson;R.M. Turnbull;B. Brandl;O. Braun;C. Geweniger;P. Hanke;V. Hepp;E.E. Kluge;Y. Maumary;A. Putzer;B. Rensch;A. Stahl;K. Tittel;M. Wunsch;A.T. Belk;R. Beuselinck;D.M. Binnie;W. Cameron;M. Cattaneo;D.J. Colling;P.J. Dornan;S. Dugeay;A.M. Greene;J.F. Hassard;N.M. Lieske;J. Nash;S.J. Patton;D.G. Payne;M.J. Phillips;J.K. Sedgbeer;I.R. Tomalin;A.G. Wright;E. Kneringer;D. Kuhn;G. Rudolph;C.K. Bowdery;T.J. Brodbeck;A.J. Finch;F. Foster;G. Hughes;D. Jackson;N.R. Kreemer;M. Nuttall;A. Patel;T. Sloan;S.W. Snow;E.P. Whelan;K. Kleinknecht;J. Raab;B. Renk;H.-G. Sander;H. Schmidt;F. Steeg;S.M. Walther;B. Wolf;J.-J. Aubert;C. Benchouk;A. Bonissent;J. Carr;P. Coyle;J. Drinkard;F. Etienne;S. Papalexiou;P. Payre;Z. Qian;L. Roos;D. Rousseau;P. Schwemling;M. Talby;S. Adlung;C. Bauer;W. Blum;D. Brown;P. Cattaneo;G. Cowan;B. Dehning;H. Dietl;F. Dydak;M. Fernandez-Bosman;M. Frank;A.W. Halley;J. Lauber;G. Lütjens;G. Lutz;W. Männer;R. Richter;H. Rotscheidt;J. Schröder;A.S. Schwarz;R. Settles;H. Seywerd;U. Stierlin;U. Stiegler;R. St. Denis;M. Takashima;J. Thomas;G. Wolf;J. Boucrot;O. Callot;A. Cordier;M. Davier;J.-F. Grivaz;Ph. Heusse;D.E. Jaffe;P. Janot;D.W. Kim;F. Le Diberder;J. Lefrançois;A.-M. Lutz;M.-H. Schune;J.-J. Veillet;I. Videau;Z. Zhang;D. Abbaneo;S.R. Amendolia;G. Bagliesi;G. Batignani;L. Bosisio;U. Bottigli;C. Bozzi;C. Bradaschia;M. Carpinelli;M.A. Ciocci;R. Dell'Orso;I. Ferrante;F. Fidecaro;L. Foá;E. Focardi;F. Forti;A. Giassi;M.A. Giorgi;F. Ligabue;E.B. Mannelli;P.S. Marrocchesi;A. Messineo;F. Palla;G. Rizzo;G. Sanguinetti;P. Spagnolo;J. Steinberger;R. Tenchini;G. Tonelli;G. Triggiani;C. Vannini;A. Venturi;P.G. Verdini;J. Walsh;J.M. Carter;M.G. Green;P.V. March;Ll.M. Mir;T. Medcalf;I.S. Quazi;J.A. Strong;L.R. West;D.R. Botterill;R.W. Clifft;T.R. Edgecock;M. Edwards;S.M. Fisher;T.J. Jones;P.R. Norton;D.P. Salmon;J.C. Thompson;B. Bloch-Devaux;P. Colas;H. Duarte;W. Kozanecki;M.C. Lemaire;E. Locci;S. Loucatos;E. Monnier;P. Perez;F. Perrier;J. Rander;J.-F. Renardy;A. Roussarie;J.-P. Schuller;J. Schwindling;D. Si Mohand;B. Vallage;R.P. Johnson;A.M. Litke;G. Taylor;J. Wear;J.G. Ashman;W. Babbage;C.N. Booth;C. Buttar;R.E. Carney;S. Cartwright;F. Combley;F. Hatfield;P. Reeves;L.F. Thompson;E. Barberio;A. Böhrer;S. Brandt;C. Grupen;F. Rivera;U. Schäfer;G. Giannini;B. Gobbo;F. Ragusa;L. Bellantoni;W. Chen;D. Cinabro;J.S. Conway;D.F. Cowen;Z. Feng;D.P.S. Ferguson;Y.S. Gao;J. Grahl;J.L. Harton;R.C. Jared;B.W. LeClaire;C. Lishka;Y.B. Pan;J.R. Pater;Y. Saadi;V. Sharma;M. Schmitt;Z.H. Shi;A.M. Walsh;F.V. Weber;M.H. Whitney;Sau Lan Wu;X. Wu;G. Zobernig. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 297:(1992), pp. 432-448. [10.1016/0370-2693(92)91283-F]