An upper limit for the τ neutrino mass from τ → 5π(π0)ντ decays

Focardi, Ettore; Casper, D.; De Bonis, I.; Decamp, D.; Ghez, P.; Goy, C.; Lees, J. P.; Minard, M. N.; Odier, P.; Pietrzyk, B.; Ariztizabal, F.; Chmeissani, M.; Crespo, J. M.; Efthymiopoulos, I.; Fernandez, E.; Fernandez Bosman, M.; Gaitan, V.; Garrido, Ll; Martinez, M.; Orteu, S.; Pacheco, A.; Padilla, C.; Palla, F.; Pascual, A.; Perlas, J. A.; Sanchez, F.; Teubert, F.; Creanza, D.; De Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Marinelli, N.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Huang, X.; Lin, J.; Ouyang, Q.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, R.; Xue, S.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Bonvicini, G.; Cassel, D.; Cattaneo, M.; Comas, P.; Coyle, P.; Drevermann, H.; Engelhardt, A.; Forty, R. W.; Frank, M.; Ganis, G.; Girone, M.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Jacobsen, R.; Janot, P.; Jost, B.; Knobloch, J.; Lehraus, I.; Maggi, M.; Markou, C.; Martin, E. B.; Mato, P.; Meinhard, H.; Minten, A.; Miquel, R.; Moffeit, K.; Palazzi, P.; Pater, J. R.; Perrodo, P.; Pusztaszeri, J. F.; Ranjard, F.; Rolandi, L.; Schlatter, D.; Schmelling, M.; Tejessy, W.; Tomalin, I. R.; Veenhof, R.; Venturi, A.; Wachsmuth, H.; Wiedenmann, W.; Wildish, T.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Bardadin Otwinowska, M.; Barres, A.; Boyer, C.; Falvard, A.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Monteil, S.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Podlyski, F.; Proriol, J.; Rossignol, J. M.; Saadi, F.; Fearnley, T.; Hansen, J. B.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Johnson, S. D.; Nilsson, B. S.; Kyriakis, A.; Simopoulou, E.; Siotis, I.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Bourdon, P.; Passalacqua, L.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Valassi, A.; Verderi, M.; Videau, H.; Candlin, D. J.; Parsons, M. I.; Veitch, E.; Focardi, E.; Parrini, G.; Corden, M.; Delfino, M.; Georgiopoulos, C.; Jaffe, D. E.; Antonelli, A.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Pepe Altarelli, M.; Salomone, S.; Colrain, P.; Ten Have, I.; Knowles, I. G.; Lynch, J. G.; Maitland, W.; Morton, W. T.; Raine, C.; Reeves, P.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Smith, M. G.; Thompson, A. S.; Thorn, S.; Turnbull, R. M.; Becker, U.; Braun, O.; Geweniger, C.; Graefe, G.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Putzer, A.; Rensch, B.; Schmidt, M.; Sommer, J.; Stenzel, H.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Colling, D. J.; Dornan, P. J.; Konstantinidis, N.; Moneta, L.; Moutoussi, A.; Nash, J.; San Martin, G.; Sedgbeer, J. K.; Stacey, A. M.; Dissertori, G.; Girtler, P.; Kneringer, E.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Jackson, D.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Patel, A.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Whelan, E. P.; Galla, A.; Greene, A. M.; Kleinknecht, K.; Raab, J.; Renk, B.; Sander, H. G.; Schmidt, H.; Walther, S. M.; Wanke, R.; Wolf, B.; Aubert, J. J.; Bencheikh, A. M.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Bujosa, G.; Calvet, D.; Carr, J.; Diaconu, C.; Etienne, F.; Thulasidas, M.; Nicod, D.; Payre, P.; Rousseau, D.; Talby, M.; Abt, I.; Assmann, R.; Bauer, C.; Blum, W.; Brown, D.; Dietl, H.; Dydak, F.; Gotzhein, C.; Halley, A. W.; Jakobs, K.; Kroha, H.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Moser, H. G.; Richter, R.; Rosado Schlosser, A.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stierlin, U.; St Denis, R.; Wolf, G.; Alemany, R.; Boucrot, J.; Callot, O.; Cordier, A.; Courault, F.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. F.; Heusse, Ph; Jacquet, M.; Kim, D. W.; Le Diberder, F.; Lefrançois, J.; Lutz, A. M.; Musolino, G.; Nikolic, I.; Park, H. J.; Park, I. C.; Schune, M. H.; Simion, S.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Azzurri, P.; Abbaneo, D.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bottigli, U.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Ciulli, Vitaliano; Dell'Orso, R.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foà, L.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Sciabà, A.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Vannini, C.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Betteridge, A. P.; Blair, G. A.; Bryant, L. M.; Gao, Y.; Green, M. G.; Johnson, D. L.; Medcalf, T.; Mir, L. L. M.; Strong, J. A.; Berlin, V.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Haywood, S.; Edwards, M.; Maley, P.; Norton, P. R.; Thompson, J. C.; Bloch Devaux, B.; Colas, P.; Duarte, H.; Emery, S.; Kozanecki, W.; Lançon, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Marx, B.; Perez, P.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Rosowsky, A.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Si Mohand, D.; Trabelsi, A.; Vallage, B.; Johnson, R. P.; Litke, A. M.; Taylor, G.; Wear, J.; Beddall, A.; Booth, C. N.; Boswell, R.; Cartwright, S.; Combley, F.; Dawson, I.; Koksal, A.; Letho, M.; Newton, W. M.; Rankin, C.; Thompson, L. F.; Böhrer, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Feigl, E.; Grupen, C.; Lutters, G.; Minguet Rodriguez, J.; Rivera, F.; Saraiva, P.; Schäfer, U.; Smolik, L.; Bosisio, L.; Della Marina, R.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Pitis, L.; Ragusa, F.; Kim, H.; Rothberg, J.; Wasserbaech, S.; Armstrong, S. R.; Bellantoni, L.; Elmer, P.; Feng, Z.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y. S.; González, S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Hayes, O. J.; Hu, H.; Mcnamara, P. A.; Nachtman, J. M.; Orejudos, W.; Pan, Y. B.; Saadi, Y.; Schmitt, M.; Scott, I. J.; Sharma, V.; Turk, J. D.; Walsh, A. M.; Weber, F. V.; Sau Lan Wu,; Wu, X.; Yamartino, J. M.; Zheng, M.; Zobernig, G.

doi:10.1016/0370-2693(95)00248-J

From a sample of 152,000 τ decays collected by the ALEPH detector at LEP an upper limit of 24 MeV at 95% CL on the τ neutrino mass has been determined. The limit is obtained using a two dimensional likelihood fit of the visible energy and the invariant mass distribution of 25 τ → 5π(π0)ντ events.

An upper limit for the τ neutrino mass from τ → 5π(π0)ντ decays / D Buskulic, D Casper, I De Bonis, D Decamp, P Ghez, C Goy, J.-P Lees, M.-N Minard, P Odier, B Pietrzyk, F Ariztizabal, M Chmeissani, J.M Crespo, I Efthymiopoulos, E Fernandez, M Fernandez-Bosman, V Gaitan, Ll Garrido, M Martinez, S Orteu, et al.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 349:(1995), pp. 585-596. [10.1016/0370-2693(95)00248-J]