Measurement of the branching fraction for D0 → K−π+

Barate, R.; Focardi, Ettore; Decamp, D.; Ghez, P.; Goy, C.; Lees, J. P.; Lucotte, A.; Minard, M. N.; Nief, J. Y.; Pietrzyk, B.; Casado, M. P.; Chmeissani, M.; Comas, P.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fernandez, E.; Fernandez Bosman, M.; Garrido, L. L.; Juste, A.; Martinez, M.; Miquel, R.; Mir, L. L. M.; Orteu, S.; Padilla, C.; Park, I. C.; Pascual, A.; Perlas, J. A.; Riu, I.; Sanchez, F.; Teubert, F.; Colaleo, A.; Creanza, D.; De Palma, M.; Gelao, G.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Marinelli, N.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Tricomi, A.; Zito, G.; Huang, X.; Lin, J.; Ouyang, Q.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, R.; Xue, S.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Abbaneo, D.; Alemany, R.; Becker, U.; Bazarko, A. O.; Bright Thomas, P.; Cattaneo, M.; Cerutti, F.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Frank, M.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Janot, P.; Jost, B.; Kneringer, E.; Knobloch, J.; Lehraus, I.; Lutters, G.; Mato, P.; Minten, A.; Moneta, L.; Pacheco, A.; Pusztaszeri, J. F.; Ranjard, F.; Rensing, P.; Rizzo, G.; Rolandi, L.; Schlatter, D.; Schmitt, M.; Schneider, O.; Tejessy, W.; Tomalin, I. R.; Wachsmuth, H.; Wagner, A.; Ajaltouni, Z.; Barrès, A.; Boyer, C.; Falvard, A.; Ferdi, C.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Monteil, S.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Podlyski, F.; Proriol, J.; Rosnet, P.; Rossignol, J. M.; Fearnley, T.; Hansen, J. B.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Nilsson, B. S.; Rensch, B.; Wäänänen, A.; Daskalakis, G.; Kyriakis, A.; Markou, C.; Simopoulou, E.; Siotis, I.; Vayaki, A.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Bourdon, P.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Valassi, A.; Verderi, M.; Videau, H.; Candlin, D. J.; Parsons, M. I.; Focardi, E.; Parrini, G.; Zachariadou, K.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Jaffe, D. E.; Antonelli, A.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Casper, D.; Chiarella, V.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Passalacqua, L.; Pepe Altarelli, M.; Curtis, L.; Dorris, S. J.; Halley, A. W.; Knowles, I. G.; Lynch, J. G.; O'Shea, V.; Raine, C.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Teixeira Dias, P.; Thompson, A. S.; Thomson, E.; Thomson, F.; Turnbull, R. M.; Geweniger, C.; Graefe, G.; Hanke, P.; Hansper, G.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Putzer, A.; Schmidt, M.; Sommer, J.; Tittel, K.; Werner, S.; Wunsch, M.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Dornan, P. J.; Girone, M.; Goodsir, S.; Martin, E. B.; Moutoussi, A.; Nash, J.; Sedgbeer, J. K.; Stacey, A. M.; Williams, M. D.; Dissertori, G.; Girtler, P.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Betteridge, A. P.; Bowdery, C. K.; Colrain, P.; Crawford, G.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Sloan, T.; Williams, M. I.; Galla, A.; Giehl, I.; Greene, A. M.; Hoffmann, C.; Jakobs, K.; Kleinknecht, K.; Quast, G.; Renk, B.; Rohne, E.; Sander, H. G.; Van Gemmeren, P.; Zeitnitz, C.; Aubert, J. J.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Bujosa, G.; Calvet, D.; Carr, J.; Coyle, P.; Diaconu, C.; Etienne, F.; Konstantinidis, N.; Leroy, O.; Motsch, F.; Payre, P.; Rousseau, D.; Talby, M.; Sadouki, A.; Thulasidas, M.; Trabelsi, K.; Aleppo, M.; Ragusa, F.; Berlich, R.; Blum, W.; Büscher, V.; Dietl, H.; Dydak, F.; Ganis, G.; Gotzhein, C.; Kroha, H.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Moser, H. G.; Richter, R.; Rosado Schlosser, A.; Schael, S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Denis, R. S. T.; Stenzel, H.; Wiedenmann, W.; Wolf, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Chen, S.; Choi, Y.; Cordier, A.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. F.; Heusse, P. H.; Höcker, A.; Jacholkowska, A.; Jacquet, M.; Kim, D. W.; Le Diberder, F.; Lefrançois, J.; Lutz, A. M.; Nikolic, I.; Schune, M. H.; Simion, S.; Tournefier, E.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Zerwas, D.; Azzurri, P.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Ciulli, Vitaliano; Dell'Orso, R.; Fantechi, R.; Ferrante, I.; Foà, L.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Sanguinetti, G.; Sciabà, A.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Blair, G. A.; Bryant, L. M.; Chambers, J. T.; Gao, Y.; Green, M. G.; Medcalf, T.; Perrodo, P.; Strong, J. A.; Von Wimmersperg Toeller, J. H.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Haywood, S.; Maley, P.; Norton, P. R.; Thompson, J. C.; Wright, A. E.; Bloch Devaux, B.; Colas, P.; Emery, S.; Kozanecki, W.; Lançon, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Perez, P.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Trabelsi, A.; Vallage, B.; Black, S. N.; Dann, J. H.; Johnson, R. P.; Kim, H. Y.; Litke, A. M.; Mcneil, M. A.; Taylor, G.; Booth, C. N.; Boswell, R.; Brew, C. A. J.; Cartwright, S.; Combley, F.; Kelly, M. S.; Lehto, M.; Newton, W. M.; Reeve, J.; Thompson, L. F.; Böhrer, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Grupen, C.; Saraiva, P.; Smolik, L.; Stephan, F.; Apollonio, M.; Bosisio, L.; Della Marina, R.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Musolino, G.; Rothberg, J.; Wasserbaech, S.; Armstrong, S. R.; Charles, E.; Elmer, P.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y. S.; González, S.; Greening, T. C.; Hayes, O. J.; Hu, H.; Jin, S.; Mcnamara, P. A.; Nachtman, J. M.; Nielsen, J.; Orejudos, W.; Pan, Y. B.; Saadi, Y.; Scott, I. J.; Walsh, J.; Sau Lan Wu,; Wu, X.; Yamartino, J. M.; Zobernig, G.

doi:10.1016/S0370-2693(97)00585-6

The branching fraction for D0 → K−π+ is measured with the statistics collected by ALEPH from 1991 to 1994. The method is based on the comparison between the rate for the reconstructed , D0 → K−π+ decay chain and the rate for inclusive soft pion production at low transverse momentum with respect to the nearest jet. The result is B(D0 → K−π+0 = (3.90 ± 0.09 ± 0.12)%

Measurement of the branching fraction for D0 → K−π+ / R. Barate, D. Buskulic, D. Decamp, P. Ghez, C. Goy, J.-P. Lees, A. Lucotte, M.-N. Minard, J.-Y. Nief, B. Pietrzyk, M.P. Casado, M. Chmeissani, P. Comas, J.M. Crespo, M. Delfino, E. Fernandez, M. Fernandez-Bosman, Ll. Garrido, A. Juste, M. Martinez, et al.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 403:(1997), pp. 367-376. [10.1016/S0370-2693(97)00585-6]