Measurement of the fraction of hadronic Z decays into charm quark pairs

Barate, R.; Focardi, Ettore; Decamp, D.; Ghez, P.; Goy, C.; Lees, J. P.; Lucotte, A.; Merle, E.; Minard, M. N.; Nief, J. Y.; Pietrzyk, B.; Alemany, R.; Boix, G.; Casado, M. P.; Chmeissani, M.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fernandez, E.; Fernandez Bosman, M.; Garrido, L.; Grauges, E.; Juste, A.; Martinez, M.; Merino, G.; Miquel, R.; Mir, L. M.; Park, I. C.; Pascual, A.; Perlas, J. A.; Riu, I.; Sanchez, F.; Colaleo, A.; Creanza, D.; Palma, M. d.; Gelao, G.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Tricomi, A.; Zito, G.; Huang, X.; Lin, J.; Ouyang, Q.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, R.; Xue, S.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Abbaneo, D.; Becker, U.; Bright Thomas, P.; Casper, D.; Cattaneo, M.; Ciulli, Vitaliano; Dissertori, G.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Frank, M.; Hagelberg, R.; Hansen, J. B.; Harvey, J.; Janot, P.; Jost, B.; Lehraus, I.; Mato, P.; Minten, A.; Moneta, L.; Pacheco, A.; Pusztaszeri, J. F.; Ranjard, F.; Rolandi, L.; Rousseau, D.; Schlatter, D.; Schmitt, M.; Schneider, O.; Tejessy, W.; Teubert, F.; Tomalin, I. R.; Wachsmuth, H.; Wagner, A.; Ajaltouni, Z.; Badaud, F.; Chazelle, G.; Deschamps, O.; Falvard, A.; Ferdi, C.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Monteil, S.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Podlyski, F.; Proriol, J.; Rosnet, P.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Nilsson, B. S.; Rensch, B.; Waananen, A.; Daskalakis, G.; Kyriakis, A.; Markou, C.; Simopoulou, E.; Siotis, I.; Vayaki, A.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Bourdon, P.; Rouge, A.; Rumpf, M.; Valassi, A.; Verderi, M.; Videau, H.; Focardi, E.; Parrini, G.; Zachariadou, K.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Jaffe, D. E.; Antonelli, A.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Passalacqua, L.; Pepe Altarelli, M.; Curtis, L.; Halley, A. W.; Lynch, J. G.; Negus, P.; O'Shea, V.; Raine, C.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Teixeira Dias, P.; Thompson, A. S.; Thomson, E.; Buchmuller, O.; Dhamotharan, S.; Geweniger, C.; Graefe, G.; Hanke, P.; Hansper, G.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Putzer, A.; Sommer, J.; Tittel, K.; Werner, S.; Wunsch, M.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Dornan, P. J.; Girone, M.; Goodsir, S.; Martin, E. B.; Marinelli, N.; Moutoussi, A.; Nash, J.; Sedgbeer, J. K.; Spagnolo, P.; Williams, M. D.; Ghete, V. M.; Girtler, P.; Kneringer, E.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Betteridge, A. P.; Bowdery, C. K.; Buck, P. G.; Colrain, P.; Crawford, G.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; R. W. L.,; Williams, M. I.; Giehl, I.; Greene, A. M.; Hoffmann, C.; Jakobs, K.; Kleinknecht, K.; Quast, G.; Renk, B.; Rohne, E.; Sander, H. G.; Gemmeren, P. v.; Zeitnitz, C.; Aubert, J. J.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Bujosa, G.; Carr, J.; Coyle, P.; Etienne, F.; Leroy, O.; Motsch, F.; Payre, P.; Talby, M.; Sadouki, A.; Thulasidas, M.; Trabelsi, K.; Aleppo, M.; Antonelli, M.; Ragusa, F.; Berlich, R.; Blum, W.; Buscher, V.; Dietl, H.; Ganis, G.; Kroha, H.; Lutjens, G.; Mannert, C.; Manner, W.; Moser, H. G.; Schael, S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stenzel, H.; Wiedenmann, W.; Wolf, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Chen, S.; Cordier, A.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. F.; Heusse, P.; Hocker, A.; Jacholkowska, A.; Kim, D. W.; Diberder, F. L.; Lefranccois, J.; Lutz, A. M.; Schune, M. H.; Tournefier, E.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Zerwas, D.; Azzurri, P.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Boccali, T.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Dell'Orso, R.; Fantechi, R.; Ferrante, I.; Foa, L.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Sciaba, A.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Blair, G. A.; Bryant, L. M.; Chambers, J. T.; Green, M. G.; Medcalf, T.; Perrodo, P.; Strong, J. A.; Von, J. H.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Haywood, S.; Norton, P. R.; Thompson, J. C.; Wright, A. E.; Bloch Devaux, B.; Colas, P.; Emery, S.; Kozanecki, W.; Lanccon, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Perez, P.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Trabelsi, A.; Vallage, B.; Black, S. N.; Dann, J. H.; Johnson, R. P.; Kim, H. Y.; Konstantinidis, N.; Litke, A. M.; Mcneil, M. A.; Taylor, G.; Booth, C. N.; C. A. J.,; Cartwright, S.; Combley, F.; Kelly, M. S.; Lehto, M.; Reeve, J.; Thompson, L. F.; Affholderbach, K.; Bohrer, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Grupen, C.; Saraiva, P.; Smolik, L.; Stephan, F.; Apollonio, M.; Bosisio, L.; Marina, R. D.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Musolino, G.; Rothberg, J.; Wasserbaech, S.; Armstrong, S. R.; Charles, E.; Elmer, P.; D. P. S.,; Gao, Y.; Gonzalez, S.; Greening, T. C.; Hayes, O. J.; Hu, H.; Jin, S.; Mcnamara, P. A.; Nachtman, J. M.; Nielsen, J.; Orejudos, W.; Pan, Y. B.; Saadi, Y.; Scott, I. J.; Walsh, J.; S. L., Wu; Wu, X.; Zobernig, G.

doi:10.1007/s100529800939

The full statistics of hadronic Z decays collected with the ALEPH detector are analysed to measure, by three methods, the ratio, , of the partial decay width of the Z into quarks to the total hadronic width. One method uses the inclusive and spectra of electrons. The other two use a double-tagging technique to measure independently of the charm-tagging efficiency. In one, the tagging procedure uses the reconstruction of high momentum charmed mesons (, and to detect the charm quarks. In the other, a charm quark is tagged from the 's reconstructed in the decay channel and the other from the slow pion from the decay. The combination of these measurements leads to .

Measurement of the fraction of hadronic Z decays into charm quark pairs / R. Barate;D. Buskulic;D. Decamp;P. Ghez;C. Goy;J. P. Lees;A. Lucotte;E. Merle;M. N. Minard;J. Y. Nief;B. Pietrzyk;R. Alemany;G. Boix;M. P. Casado;M. Chmeissani;J. M. Crespo;M. Delfino;E. Fernandez;M. Fernandez-Bosman;L. Garrido;E. Grauges;A. Juste;M. Martinez;G. Merino;R. Miquel;L. M. Mir;I. C. Park;A. Pascual;J. A. Perlas;I. Riu;F. Sanchez;A. Colaleo;D. Creanza;M. d. Palma;G. Gelao;G. Iaselli;G. Maggi;M. Maggi;S. Nuzzo;A. Ranieri;G. Raso;F. Ruggieri;G. Selvaggi;L. Silvestris;P. Tempesta;A. Tricomi;G. Zito;X. Huang;J. Lin;Q. Ouyang;T. Wang;Y. Xie;R. Xu;S. Xue;J. Zhang;L. Zhang;W. Zhao;D. Abbaneo;U. Becker;P. Bright-Thomas;D. Casper;M. Cattaneo;V. Ciulli;G. Dissertori;H. Drevermann;R. W. Forty;M. Frank;R. Hagelberg;J. B. Hansen;J. Harvey;P. Janot;B. Jost;I. Lehraus;P. Mato;A. Minten;L. Moneta;A. Pacheco;J. F. Pusztaszeri;F. Ranjard;L. Rolandi;D. Rousseau;D. Schlatter;M. Schmitt;O. Schneider;W. Tejessy;F. Teubert;I. R. Tomalin;H. Wachsmuth;A. Wagner;Z. Ajaltouni;F. Badaud;G. Chazelle;O. Deschamps;A. Falvard;C. Ferdi;P. Gay;C. Guicheney;P. Henrard;J. Jousset;B. Michel;S. Monteil;J. C. Montret;D. Pallin;P. Perret;F. Podlyski;J. Proriol;P. Rosnet;J. D. Hansen;J. R. Hansen;P. H. Hansen;B. S. Nilsson;B. Rensch;A. Waananen;G. Daskalakis;A. Kyriakis;C. Markou;E. Simopoulou;I. Siotis;A. Vayaki;A. Blondel;G. Bonneaud;J. C. Brient;P. Bourdon;A. Rouge;M. Rumpf;A. Valassi;M. Verderi;H. Videau;E. Focardi;G. Parrini;K. Zachariadou;M. Corden;C. Georgiopoulos;D. E. Jaffe;A. Antonelli;G. Bencivenni;G. Bologna;F. Bossi;P. Campana;G. Capon;F. Cerutti;V. Chiarella;G. Felici;P. Laurelli;G. Mannocchi;F. Murtas;G. P. Murtas;L. Passalacqua;M. Pepe-Altarelli;L. Curtis;A. W. Halley;J. G. Lynch;P. Negus;V. O'Shea;C. Raine;J. M. Scarr;K. Smith;P. Teixeira-Dias;A. S. Thompson;E. Thomson;O. Buchmuller;S. Dhamotharan;C. Geweniger;G. Graefe;P. Hanke;G. Hansper;V. Hepp;E. E. Kluge;A. Putzer;J. Sommer;K. Tittel;S. Werner;M. Wunsch;R. Beuselinck;D. M. Binnie;W. Cameron;P. J. Dornan;M. Girone;S. Goodsir;E. B. Martin;N. Marinelli;A. Moutoussi;J. Nash;J. K. Sedgbeer;P. Spagnolo;M. D. Williams;V. M. Ghete;P. Girtler;E. Kneringer;D. Kuhn;G. Rudolph;A. P. Betteridge;C. K. Bowdery;P. G. Buck;P. Colrain;G. Crawford;A. J. Finch;F. Foster;G. Hughes;R. W. L.;M. I. Williams;I. Giehl;A. M. Greene;C. Hoffmann;K. Jakobs;K. Kleinknecht;G. Quast;B. Renk;E. Rohne;H. G. Sander;P. v. Gemmeren;C. Zeitnitz;J. J. Aubert;C. Benchouk;A. Bonissent;G. Bujosa;J. Carr;P. Coyle;F. Etienne;O. Leroy;F. Motsch;P. Payre;M. Talby;A. Sadouki;M. Thulasidas;K. Trabelsi;M. Aleppo;M. Antonelli;F. Ragusa;R. Berlich;W. Blum;V. Buscher;H. Dietl;G. Ganis;H. Kroha;G. Lutjens;C. Mannert;W. Manner;H. G. Moser;S. Schael;R. Settles;H. Seywerd;H. Stenzel;W. Wiedenmann;G. Wolf;J. Boucrot;O. Callot;S. Chen;A. Cordier;M. Davier;L. Duflot;J. F. Grivaz;P. Heusse;A. Hocker;A. Jacholkowska;D. W. Kim;F. L. Diberder;J. Lefranccois;A. M. Lutz;M. H. Schune;E. Tournefier;J. J. Veillet;I. Videau;D. Zerwas;P. Azzurri;G. Bagliesi;G. Batignani;S. Bettarini;T. Boccali;C. Bozzi;G. Calderini;M. Carpinelli;M. A. Ciocci;R. Dell'Orso;R. Fantechi;I. Ferrante;L. Foa;F. Forti;A. Giassi;M. A. Giorgi;A. Gregorio;F. Ligabue;A. Lusiani;P. S. Marrocchesi;A. Messineo;F. Palla;G. Rizzo;G. Sanguinetti;A. Sciaba;R. Tenchini;G. Tonelli;C. Vannini;A. Venturi;P. G. Verdini;G. A. Blair;L. M. Bryant;J. T. Chambers;M. G. Green;T. Medcalf;P. Perrodo;J. A. Strong;J. H. von;D. R. Botterill;R. W. Clifft;T. R. Edgecock;S. Haywood;P. R. Norton;J. C. Thompson;A. E. Wright;B. Bloch-Devaux;P. Colas;S. Emery;W. Kozanecki;E. Lanccon;M. C. Lemaire;E. Locci;P. Perez;J. Rander;J. F. Renardy;A. Roussarie;J. P. Schuller;J. Schwindling;A. Trabelsi;B. Vallage;S. N. Black;J. H. Dann;R. P. Johnson;H. Y. Kim;N. Konstantinidis;A. M. Litke;M. A. McNeil;G. Taylor;C. N. Booth;C. A. J.;S. Cartwright;F. Combley;M. S. Kelly;M. Lehto;J. Reeve;L. F. Thompson;K. Affholderbach;A. Bohrer;S. Brandt;G. Cowan;C. Grupen;P. Saraiva;L. Smolik;F. Stephan;M. Apollonio;L. Bosisio;R. D. Marina;G. Giannini;B. Gobbo;G. Musolino;J. Rothberg;S. Wasserbaech;S. R. Armstrong;E. Charles;P. Elmer;D. P. S.;Y. Gao;S. Gonzalez;T. C. Greening;O. J. Hayes;H. Hu;S. Jin;P. A. McNamara;J. M. Nachtman;J. Nielsen;W. Orejudos;Y. B. Pan;Y. Saadi;I. J. Scott;J. Walsh;S. L. Wu;X. Wu;G. Zobernig. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - ELETTRONICO. - 4:(1998), pp. 557-570. [10.1007/s100529800939]