Tecniche di intelligenza artificiale applicate alla determinazione della testabilità ed alla scelta dei punti di prova in circuiti lineari analogici / A. Liberatore; S. Manetti; M. C. Piccirilli. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - STAMPA. - III:(1991), pp. 137-145.

Tecniche di intelligenza artificiale applicate alla determinazione della testabilità ed alla scelta dei punti di prova in circuiti lineari analogici

MANETTI, STEFANO;PICCIRILLI, MARIA CRISTINA
1991

1991
III
137
145
A. Liberatore; S. Manetti; M. C. Piccirilli
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