Spettroscopia di alta precisione dell'atomo di elio e misura della costante di struttura fine μ / G. Bianchini; D. Knight; F. Minardi; F.S. Pavone; M. Prevedelli; M. Inguscio. - STAMPA. - (1996), pp. 34-35. (Intervento presentato al convegno LXXXII Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica).

Spettroscopia di alta precisione dell'atomo di elio e misura della costante di struttura fine μ

PAVONE, FRANCESCO SAVERIO;INGUSCIO, MASSIMO
1996

1996
LXXXII Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica
G. Bianchini; D. Knight; F. Minardi; F.S. Pavone; M. Prevedelli; M. Inguscio
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