Spettroscopia di alta precisione dell'atomo di elio e misura della costante di struttura fine μ / G. Bianchini; D. Knight; F. Minardi; F.S. Pavone; M. Prevedelli; M. Inguscio. - STAMPA. - (1996), pp. 34-35. (Intervento presentato al convegno LXXXII Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica).
Spettroscopia di alta precisione dell'atomo di elio e misura della costante di struttura fine μ
PAVONE, FRANCESCO SAVERIO;INGUSCIO, MASSIMO
1996
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in FLORE sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.