Hard-photon production and tests of QED at LEP

Acciarri, M.; Achard, P.; Adriani, Oscar; Aguilar Benitez, M.; Alcaraz, J.; Alemanni, G.; Allaby, J.; Aloisio, A.; Alviggi, M. G.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Andreev, V. P.; Angelescu, T.; Anselmo, F.; Arefiev, A.; Azemoon, T.; Aziz, T.; Bagnaia, P.; Baksay, L.; Balandras, A.; Ball, R. C.; Banerjee, S.; Banerjee, S.; Barczyk, A.; Barillere, R.; Barone, L.; Bartalini, P.; Basile, M.; Battiston, R.; Bay, A.; Becattini, Francesco; Becker, U.; Behner, F.; Bellucci, L.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Betev, B. L.; Bhattacharya, S.; Biasini, M.; Biland, A.; Blaising, J. J.; Blyth, S. C.; Bobbink, G. J.; Bohm, A.; Boldizsar, L.; Borgia, B.; Bourilkov, D.; Bourquin, M.; Braccini, S.; Branson, J. G.; B. V.,; Brochu, F.; Buffini, A.; Buijs, A.; Burger, J. D.; Burger, W. J.; Button, A.; Cai, X. D.; Campanelli, M.; Capell, M.; Romeo, G. C.; Carlino, G.; Cartacci, A. M.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cavallari, F.; Cavallo, N.; Cecchi, C.; Cerrada, M.; Cesaroni, F.; Chamizo, M.; Chang, Y. H.; Chaturvedi, U. K.; Chemarin, M.; Chen, A.; Chen, G.; Chen, G. M.; Chen, H. F.; Chen, H. S.; Chiefari, G.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Civinini, C.; C. I.,; Clare, R.; Coignet, G.; Colijn, A. P.; Colino, N.; Costantini, S.; Cotorobai, F.; Cozzoni, B.; B. D., La; Csilling, A.; Cucciarelli, S.; Dai, T. S.; Van, J. A.; D'Alessandro, Raffaello; Asmundis, R. D.; Deglon, P.; Degre, A.; Deiters, K.; Volpe, D. D.; Denes, P.; Denotaristefani, F.; Salvo, A. D.; Diemoz, M.; Dierendonck, D. V.; Lodovico, F. D.; Dionisi, C.; Dittmar, M.; Dominguez, A.; Doria, A.; Dova, M. T.; Duchesneau, D.; Dufournaud, D.; Duinker, P.; D. I.,; Mamouni, H. E.; Engler, A.; Eppling, F. J.; Erne, F. C.; Extermann, P.; Fabre, M.; Faccini, R.; Falagan, M. A.; Falciano, S.; Favara, A.; Fay, J.; Fedin, O.; Felcini, M.; Ferguson, T.; Ferroni, F.; Fesefeldt, H.; Fiandrini, E.; Field, J. H.; Filthaut, F.; Fisher, P. H.; F. I.,; Forconi, G.; Fredj, L.; Freudenreich, K.; Furetta, C.; Galaktionov, Y.; Ganguli, S. N.; Garcia Abia, P.; Gataullin, M.; Gau, S. S.; Gentile, S.; Gheordanescu, N.; Giagu, S.; Gong, Z. F.; Grenier, G.; Grimm, O.; Gruenewald, M. W.; Guida, M.; Gulik, R. V.; Gupta, V. K.; Gurtu, A.; Gutay, L. J.; Haas, D.; Hasan, A.; Hatzifotiadou, D.; Hebbeker, T.; Herve, A.; Hidas, P.; Hirschfelder, J.; Hofer, H.; Holzner, G.; Hoorani, H.; Sr, H.; I. I.,; Jin, B. N.; Jones, L. W.; Jong, P. D.; J. I.,; Khan, R. A.; Kaur, M.; Kienzle Focacci, M. N.; Kim, D.; Kim, D. H.; Kim, J. K.; Kim, S. C.; Kirkby, J.; Kiss, D.; Kittel, W.; Klimentov, A.; Konig, A. C.; Kopp, A.; K. V.,; Kraber, M.; Kraemer, R. W.; Krenz, W.; Kruger, A.; Kunin, A.; P. L., De; L. I.,; Landi, G.; Lassila Perini, K.; Lebeau, M.; Lebedev, A.; Lebrun, P.; Lecomte, P.; Lecoq, P.; Coultre, P. L.; Lee, H. J.; J. M., Le; Leiste, R.; Leonardi, E.; Levtchenko, P.; Li, C.; Likhoded, S.; Lin, C. H.; Lin, W. T.; Linde, F. L.; Lista, L.; Liu, Z. A.; Lohmann, W.; Longo, E.; Y. S., Lu; Lubelsmeyer, K.; Luci, C.; Luckey, D.; Lugnier, L.; Luminari, L.; Lustermann, W.; W. G., Ma; Maity, M.; Malgeri, L.; Malinin, A.; Mana, C.; Mangeol, D.; Marchesini, P.; Marian, G.; Martin, J. P.; Marzano, F.; G. G. G.,; Mazumdar, K.; Mcneil, R. R.; Mele, S.; Merola, L.; Meschini, M.; Metzger, W. J.; Der, M. V.; Mihul, A.; Milcent, H.; Mirabelli, G.; Mnich, J.; Mohanty, G. B.; Molnar, P.; Monteleoni, B.; Moulik, T.; Muanza, G. S.; Muheim, F.; A. J. M.,; Musy, M.; Napolitano, M.; Nessi Tedaldi, F.; Newman, H.; Niessen, T.; Nisati, A.; Nowak, H.; Y. D., Oh; Organtini, G.; Oulianov, A.; Palomares, C.; Pandoulas, D.; Paoletti, S.; Paolucci, P.; Paramatti, R.; Park, H. K.; Park, I. H.; Pascale, G.; Passaleva, G.; Patricelli, S.; Paul, T.; Pauluzzi, M.; Paus, C.; Pauss, F.; Pedace, M.; Pensotti, S.; Perret Gallix, D.; Petersen, B.; Piccolo, D.; Pierella, F.; Pieri, M.; Piroue, P. A.; Pistolesi, E.; P. V.,; Pohl, M.; P. V.,; Postema, H.; Pothier, J.; Produit, N.; Prokofiev, D. O.; Prokofiev, D.; Quartieri, J.; Rahal Callot, G.; Rahaman, M. A.; Raics, P.; Raja, N.; Ramelli, R.; Rancoita, P. G.; Raspereza, A.; Raven, G.; Razis, P.; Ren, D.; Rescigno, M.; Reucroft, S.; Rhee, T. V.; Riemann, S.; Riles, K.; Robohm, A.; Rodin, J.; Roe, B. P.; Romero, L.; Rosca, A.; Rosier Lees, S.; Rubio, J. A.; Ruschmeier, D.; Rykaczewski, H.; Saremi, S.; Sarkar, S.; Salicio, J.; Sanchez, E.; Sanders, M. P.; Sarakinos, M. E.; Schafer, C.; S. V.,; Schmidt Kaerst, S.; Schmitz, D.; Schopper, H.; Schotanus, D. J.; Schwering, G.; Sciacca, C.; Sciarrino, D.; Seganti, A.; Servoli, L.; Shevchenko, S.; Shivarov, N.; S. V.,; Shumilov, E.; Shvorob, A.; Siedenburg, T.; Son, D.; Smith, B.; Spillantini, P.; Steuer, M.; Stickland, D. P.; Stone, A.; Stone, H.; Stoyanov, B.; Straessner, A.; Sudhakar, K.; Sultanov, G.; Sun, L. Z.; Suter, H.; Swain, J. D.; Szillasi, Z.; Sztaricskai, T.; Tang, X. W.; Tauscher, L.; Taylor, L.; Timmermans, C.; S. C. C.,; Ting, S. M.; Tonwar, S. C.; Toth, J.; Tully, C.; Tung, K. L.; Uchida, Y.; Ulbricht, J.; Valente, E.; Vesztergombi, G.; V. I.,; Vicinanza, D.; Viertel, G.; Villa, S.; Vivargent, M.; Vlachos, S.; V. I.,; Vogel, H.; Vogt, H.; V. I.,; Vorobyov, A. A.; Vorvolakos, A.; Wadhwa, M.; Wallraff, W.; Wang, M.; Wang, X. L.; Wang, Z. M.; Weber, A.; Weber, M.; Wienemann, P.; Wilkens, H.; S. X., Wu; Wynhoff, S.; Xia, L.; Z. Z., Xu; Yang, B. Z.; Yang, C. G.; Yang, H. J.; Yang, M.; J. B., Ye; Yeh, S. C.; Zalite, A.; Zalite, Y.; Zhang, Z. P.; Zhu, G. Y.; Zhu, R. Y.; Zichichi, A.; Zilizi, G.; Zoller, M.

doi:10.1016/S0370-2693(00)00082-4

The total and differential cross sections of the process e(+)e(-) --> n gamma with n greater than or equal to 2 are measured using data collected by the L3 experiment at centre-of-mass energies of root s = 183 and 189 GeV, The results are in agreement with the Standard Model expectations. Limits are set on deviations from QED, contact interaction cut-off parameters and masses of excited electrons. (C) 2000 Published by Elsevier Science B.V. All rights reserved.

Hard-photon production and tests of QED at LEP / M. Acciarri, P. Achard, O. Adriani, M. Aguilar-Benitez, J. Alcaraz, G. Alemanni, J. Allaby, A. Aloisio, M. G. Alviggi, G. Ambrosi, H. Anderhub, V. P. Andreev, T. Angelescu, F. Anselmo, A. Arefiev, T. Azemoon, T. Aziz, P. Bagnaia, L. Baksay, A. Balandras, et al.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 475:(2000), pp. 198-205. [10.1016/S0370-2693(00)00082-4]