XIPE: The X-ray imaging polarimetry explorer

Soffitta, P. Bellazzini; Bozzo, R.; Burwitz, E.; Castro Tirado, V.; Costa, A. J.; Courvoisier, E.; Feng, T.; Gburek, H.; Goosmann, S.; Karas, R.; Matt, V.; Muleri, G.; Nandra, F.; Pearce, K.; Poutanen, M.; Reglero, J.; Sabau Maria, V.; Santangelo, D.; Tagliaferri, A.; Tenzer, G.; Vink, C.; Weisskopf, J.; Zane, M. C.; Agudo, S.; Antonelli, I.; Attina, A.; Baldini, P.; Bykov, L.; Carpentiero, A.; Cavazzuti, R.; Churazov, E.; Del Monte, E.; De Martino, E.; Donnarumma, D.; Doroshenko, I.; Evangelista, V.; Ferreira, Y.; Gallo, I.; Grosso, E.; Kaaret, N.; Kuulkers, P.; Laranaga, E.; Latronico, J.; Lumb, L.; Macian, D. H.; Malzac, J.; Marin, J.; Massaro, F.; Minuti, E.; Mundell, M.; Ness, C.; Oosterbroek, J. U.; Paltani, T.; Pareschi, S.; Perna, G.; Petrucci, R.; Pinazo, P. O.; Pinchera, H. B.; Rodriguez, M.; Roncadelli, J. P.; Santovincenzo, M.; Sazonov, A.; Sgro, S.; Spiga, C.; Svoboda, D.; Theobald, J.; Theodorou, C.; Turolla, T.; Wilhelmi De Ona, R.; Winter, E.; Akbar, B.; Allan, A. M.; Aloisio, H.; Altamirano, R.; Amati, D.; Amato, L.; Angelakis, E.; Arezu, E.; Atteia, J.; Axelsson, J. L.; Bachetti, M.; Ballo, M.; Balman, L.; Bandiera, S.; Barcons, R.; Basso, X.; Baykal, S.; Becker, A.; Behar, W.; Beheshtipour, E.; Belmont, B.; Berger, R.; Bernardini, E.; Bianchi, F.; Bisnovatyi Kogan, S.; Blasi, G.; Blay, P.; Bodaghee, P.; Boer, A.; Boettcher, M.; Bogdanov, M.; Bombaci, S.; Bonino, I.; Braga, R.; Brandt, J.; Brez, W.; Bucciantini, A.; Burderi, N.; Caiazzo, L.; Campana, I.; Campana, R.; Capitanio, S.; Cappi, F.; Cardillo, M.; Casella, M.; Catmabacak, P.; Cenko, O.; Cerda Duran, B.; Cerruti, P.; Chaty, C.; Chauvin, S.; Chen, M.; Chenevez, Y.; Chernyakova, J.; Cheung Teddy, M.; Christodoulou, C. C.; Connell, D.; Corbet, P.; Coti Zelati, R.; Covino, F.; Cui, S.; Cusumano, W.; D'Ai, G.; D'Ammando, A.; Dadina, F.; Dai, M.; De Rosa, Z.; De Ruvo, A.; Degenaar, L.; Del Santo, N.; Del Zanna, M.; Dewangan, L.; Di Cosimo, G.; Di Lalla, S.; Di Persio, N.; Di Salvo, G.; Dias, T.; Done, T.; Dovciak, C.; Doyle, M.; Ducci, G.; Elsner, L.; Enoto, R.; Escada, T.; Esposito, J.; Eyles, P.; Fabiani, C.; Falanga, S.; Falocco, M.; Fan, S.; Fender, Y.; Feroci, R.; Ferrigno, M.; Forman, C.; Foschini, W.; Fragile, L.; Fuerst, C.; Fujita, F.; Gasent Blesa, Y.; Gelfand, J. L.; Gendre, J.; Ghirlanda, B.; Ghisellini, G.; Giroletti, G.; Goetz, M.; Gogus, D.; Gomez, E.; Gonzalez, J. L.; Gonzalez Riestra, D.; Gotthelf, R.; Gou, E.; Grandi, L.; Grinberg, P.; Grise, V.; Guidorzi, F.; Gurlebeck, C.; Guver, N.; Haggard, T.; Hardcastle, D.; Hartmann, M.; Haswell, D.; Heger, C.; Hernanz, A.; Heyl, M.; Ho, J.; Hoormann, L.; Horak, J.; Huovelin, J.; Huppenkothen, J.; Iaria, D.; Inam Sitki, R.; Ingram, C.; Israel, A.; Izzo, G.; Burgess, L.; Jackson, M.; Ji, M.; Ji, L.; Jiang, L.; Johannsen, J.; Jones, T.; Jorstad, C.; Kajava, S.; Kalamkar, J. J. E.; Kalemci, M.; Kallman, E.; Kamble, T.; Kislat, A.; Kiss, F.; Klochkov, M.; Koerding, D.; Kolehmainen, E.; Koljonen, M.; Komossa, K.; Kong, S.; Korpela, A.; Kowalinski, S.; Krawczynski, M.; Kreykenbohm, H.; Kuss, I.; Lai, M.; Lan, D.; Larsson, M.; Laycock, J.; Lazzati, S.; Leahy, D.; Li, D.; Li, H.; Li, J.; L. X., Li; Li, T.; Linares, Z.; Lister, M.; Liu, M.; Lodato, H.; Lohfink, G.; Longo, A.; Luna, F.; Lutovinov, G.; Mahmoodifar, A.; Maia, S.; Mainieri, J.; Maitra, V.; Maitra, C.; Majczyna, D.; Maldera, A.; Malyshev, S.; Manfreda, D.; Manousakis, A.; Manuel, A.; Margutti, R.; Marinucci, R.; Markoff, A.; Marscher, S.; Marshall, A.; Massaro, H.; Mclaughlin, F.; Medina Tanco, M.; Mehdipour, G.; Middleton, M.; Mignani, M.; Mimica, R.; Mineo, P.; Mingo, T.; Miniutti, B.; Mirac, G.; Morlino, S. M.; Motlagh, G.; Motta, A. V.; Mushtukov, S. E.; Nagataki, A.; Nardini, S.; Nattila, F.; Navarro, J.; Negri, G. J.; Negro, B.; Nenonen, M.; Neustroev, S.; Nicastro, V.; Norton, F.; Nucita, A.; O'Brien, A.; O'Dell, P.; Odaka, S.; Olmi, H.; Omodei, B.; Orienti, N.; Orlandini, M.; Osborne, M.; Pacciani, J.; Paliya, L.; Papadakis, V. S.; Papitto, I.; Paragi, A.; Pascal, Z.; Paul, P.; Pavan, B.; Pellizzoni, L.; Perinati, A.; Pesce Rollins, E.; Piconcelli, M.; Pili, E.; Pilia, A. G.; Pohl, M.; Ponti, M.; Porquet, G.; Possenti, D.; Postnov, A.; Prandoni, K.; Produit, I.; Puehlhofer, N.; Ramsey, G.; Razzano, B.; Rea, M.; Reig, N.; Reinsch, P.; Reiprich, K.; Reynolds, T.; Risaliti, Guido; Roberts, G.; Rodriguez, T.; Rossi, J.; Rosswog, M. E.; Rozanska, S.; Rubini, A.; Rudak, A.; Russell, B.; Ryde, D.; Sabatini, F.; Sala, S.; Salvati, G.; Sasaki, M.; Savolainen, M.; Saxton, T.; Scaringi, R.; Schawinski, S.; Schulz, K.; Schwope, N. S.; Severgnini, A.; Sharon, P.; Shaw, M.; Shearer, A.; Shesheng, A.; Shih, X.; Silva, I. C.; Silva, K.; Silver, R.; Smale, E.; Spada, A.; Spandre, F.; Stamerra, G.; Stappers, A.; Starrfield, B.; Stawarz, S.; Stergioulas, L.; Stevens, N.; Stiele, A.; Suleimanov, H.; Sunyaev, V.; Slowikowska, R.; Tamborra, A.; Tavecchio, F.; Taverna, F.; Tiengo, R.; Tolos, A.; Tombesi, L.; Tomsick, F.; Tong, J.; Torok, H.; Torres, G.; Tortosa, D. F.; Tramacere, A.; Trimble, A.; Trinchieri, V.; Tsygankov, G.; Tuerler, S.; Turriziani, M.; Ursini, S.; Uttley, F.; Varniere, P.; Vincent, P.; Vurgun, F.; Wang, E.; Wang, C.; Watts, Z.; Wheeler, A.; Wiersema, J. C.; Wijnands, K.; Wilms, R.; Wolter, J.; Wood, A.; Wu, K.; Wu, K.; Xiangyu, X.; Xie, W.; Xu, F.; Yan, R.; Yang, S. P.; Yu, J.; Yuan, W.; Zajczyk, F.; Zanetti, A.; Zanin, D.; Zanni, R.; Zappacosta, C.; Zdziarski, L.; Zech, A. A.; Zhang, A.; Zhang, H.; Zhang, S.; Zhang, S.; Zoghbi, W.

doi:10.1117/12.2233046

XIPE, the X-ray Imaging Polarimetry Explorer, is a mission dedicated to X-ray Astronomy. At the time of writing XIPE is in a competitive phase A as fourth medium size mission of ESA (M4). It promises to reopen the polarimetry window in high energy Astrophysics after more than 4 decades thanks to a detector that efficiently exploits the photoelectric effect and to X-ray optics with large effective area. XIPE uniqueness is time-spectrally-spatially-resolved X-ray polarimetry as a breakthrough in high energy astrophysics and fundamental physics. Indeed the payload consists of three Gas Pixel Detectors at the focus of three X-ray optics with a total effective area larger than one XMM mirror but with a low weight. The payload is compatible with the fairing of the Vega launcher. XIPE is designed as an observatory for X-ray astronomers with 75 % of the time dedicated to a Guest Observer competitive program and it is organized as a consortium across Europe with main contributions from Italy, Germany, Spain, United Kingdom, Poland, Sweden.

XIPE: The X-ray imaging polarimetry explorer / Soffitta, P. Bellazzini; Bozzo, R.; Burwitz, E.; Castro Tirado, V.; Costa, A. J.; Courvoisier, E.; Feng, T.; Gburek, H.; Goosmann, S.; Karas, R.; Matt, V.; Muleri, G.; Nandra, F.; Pearce, K.; Poutanen, M.; Reglero, J.; Sabau Maria, V.; Santangelo, D.; Tagliaferri, A.; Tenzer, G.; Vink, C.; Weisskopf, J.; Zane, M. C.; Agudo, S.; Antonelli, I.; Attina, A.; Baldini, P.; Bykov, L.; Carpentiero, A.; Cavazzuti, R.; Churazov, E.; Del Monte, E.; De Martino, E.; Donnarumma, D.; Doroshenko, I.; Evangelista, V.; Ferreira, Y.; Gallo, I.; Grosso, E.; Kaaret, N.; Kuulkers, P.; Laranaga, E.; Latronico, J.; Lumb, L.; Macian, D. H.; Malzac, J.; Marin, J.; Massaro, F.; Minuti, E.; Mundell, M.; Ness, C.; Oosterbroek, J. U.; Paltani, T.; Pareschi, S.; Perna, G.; Petrucci, R.; Pinazo, P. O.; Pinchera, H. B.; Rodriguez, M.; Roncadelli, J. P.; Santovincenzo, M.; Sazonov, A.; Sgro, S.; Spiga, C.; Svoboda, D.; Theobald, J.; Theodorou, C.; Turolla, T.; Wilhelmi De Ona, R.; Winter, E.; Akbar, B.; Allan, A. M.; Aloisio, H.; Altamirano, R.; Amati, D.; Amato, L.; Angelakis, E.; Arezu, E.; Atteia, J.; Axelsson, J. L.; Bachetti, M.; Ballo, M.; Balman, L.; Bandiera, S.; Barcons, R.; Basso, X.; Baykal, S.; Becker, A.; Behar, W.; Beheshtipour, E.; Belmont, B.; Berger, R.; Bernardini, E.; Bianchi, F.; Bisnovatyi Kogan, S.; Blasi, G.; Blay, P.; Bodaghee, P.; Boer, A.; Boettcher, M.; Bogdanov, M.; Bombaci, S.; Bonino, I.; Braga, R.; Brandt, J.; Brez, W.; Bucciantini, A.; Burderi, N.; Caiazzo, L.; Campana, I.; Campana, R.; Capitanio, S.; Cappi, F.; Cardillo, M.; Casella, M.; Catmabacak, P.; Cenko, O.; Cerda Duran, B.; Cerruti, P.; Chaty, C.; Chauvin, S.; Chen, M.; Chenevez, Y.; Chernyakova, J.; Cheung Teddy, M.; Christodoulou, C. C.; Connell, D.; Corbet, P.; Coti Zelati, R.; Covino, F.; Cui, S.; Cusumano, W.; D'Ai, G.; D'Ammando, A.; Dadina, F.; Dai, M.; De Rosa, Z.; De Ruvo, A.; Degenaar, L.; Del Santo, N.; Del Zanna, M.; Dewangan, L.; Di Cosimo, G.; Di Lalla, S.; Di Persio, N.; Di Salvo, G.; Dias, T.; Done, T.; Dovciak, C.; Doyle, M.; Ducci, G.; Elsner, L.; Enoto, R.; Escada, T.; Esposito, J.; Eyles, P.; Fabiani, C.; Falanga, S.; Falocco, M.; Fan, S.; Fender, Y.; Feroci, R.; Ferrigno, M.; Forman, C.; Foschini, W.; Fragile, L.; Fuerst, C.; Fujita, F.; Gasent Blesa, Y.; Gelfand, J. L.; Gendre, J.; Ghirlanda, B.; Ghisellini, G.; Giroletti, G.; Goetz, M.; Gogus, D.; Gomez, E.; Gonzalez, J. L.; Gonzalez Riestra, D.; Gotthelf, R.; Gou, E.; Grandi, L.; Grinberg, P.; Grise, V.; Guidorzi, F.; Gurlebeck, C.; Guver, N.; Haggard, T.; Hardcastle, D.; Hartmann, M.; Haswell, D.; Heger, C.; Hernanz, A.; Heyl, M.; Ho, J.; Hoormann, L.; Horak, J.; Huovelin, J.; Huppenkothen, J.; Iaria, D.; Inam Sitki, R.; Ingram, C.; Israel, A.; Izzo, G.; Burgess, L.; Jackson, M.; Ji, M.; Ji, L.; Jiang, L.; Johannsen, J.; Jones, T.; Jorstad, C.; Kajava, S.; Kalamkar, J. J. E.; Kalemci, M.; Kallman, E.; Kamble, T.; Kislat, A.; Kiss, F.; Klochkov, M.; Koerding, D.; Kolehmainen, E.; Koljonen, M.; Komossa, K.; Kong, S.; Korpela, A.; Kowalinski, S.; Krawczynski, M.; Kreykenbohm, H.; Kuss, I.; Lai, M.; Lan, D.; Larsson, M.; Laycock, J.; Lazzati, S.; Leahy, D.; Li, D.; Li, H.; Li, J.; L. X., Li; Li, T.; Linares, Z.; Lister, M.; Liu, M.; Lodato, H.; Lohfink, G.; Longo, A.; Luna, F.; Lutovinov, G.; Mahmoodifar, A.; Maia, S.; Mainieri, J.; Maitra, V.; Maitra, C.; Majczyna, D.; Maldera, A.; Malyshev, S.; Manfreda, D.; Manousakis, A.; Manuel, A.; Margutti, R.; Marinucci, R.; Markoff, A.; Marscher, S.; Marshall, A.; Massaro, H.; Mclaughlin, F.; Medina Tanco, M.; Mehdipour, G.; Middleton, M.; Mignani, M.; Mimica, R.; Mineo, P.; Mingo, T.; Miniutti, B.; Mirac, G.; Morlino, S. M.; Motlagh, G.; Motta, A. V.; Mushtukov, S. E.; Nagataki, A.; Nardini, S.; Nattila, F.; Navarro, J.; Negri, G. J.; Negro, B.; Nenonen, M.; Neustroev, S.; Nicastro, V.; Norton, F.; Nucita, A.; O'Brien, A.; O'Dell, P.; Odaka, S.; Olmi, H.; Omodei, B.; Orienti, N.; Orlandini, M.; Osborne, M.; Pacciani, J.; Paliya, L.; Papadakis, V. S.; Papitto, I.; Paragi, A.; Pascal, Z.; Paul, P.; Pavan, B.; Pellizzoni, L.; Perinati, A.; Pesce Rollins, E.; Piconcelli, M.; Pili, E.; Pilia, A. G.; Pohl, M.; Ponti, M.; Porquet, G.; Possenti, D.; Postnov, A.; Prandoni, K.; Produit, I.; Puehlhofer, N.; Ramsey, G.; Razzano, B.; Rea, M.; Reig, N.; Reinsch, P.; Reiprich, K.; Reynolds, T.; Risaliti, Guido; Roberts, G.; Rodriguez, T.; Rossi, J.; Rosswog, M. E.; Rozanska, S.; Rubini, A.; Rudak, A.; Russell, B.; Ryde, D.; Sabatini, F.; Sala, S.; Salvati, G.; Sasaki, M.; Savolainen, M.; Saxton, T.; Scaringi, R.; Schawinski, S.; Schulz, K.; Schwope, N. S.; Severgnini, A.; Sharon, P.; Shaw, M.; Shearer, A.; Shesheng, A.; Shih, X.; Silva, I. C.; Silva, K.; Silver, R.; Smale, E.; Spada, A.; Spandre, F.; Stamerra, G.; Stappers, A.; Starrfield, B.; Stawarz, S.; Stergioulas, L.; Stevens, N.; Stiele, A.; Suleimanov, H.; Sunyaev, V.; Slowikowska, R.; Tamborra, A.; Tavecchio, F.; Taverna, F.; Tiengo, R.; Tolos, A.; Tombesi, L.; Tomsick, F.; Tong, J.; Torok, H.; Torres, G.; Tortosa, D. F.; Tramacere, A.; Trimble, A.; Trinchieri, V.; Tsygankov, G.; Tuerler, S.; Turriziani, M.; Ursini, S.; Uttley, F.; Varniere, P.; Vincent, P.; Vurgun, F.; Wang, E.; Wang, C.; Watts, Z.; Wheeler, A.; Wiersema, J. C.; Wijnands, K.; Wilms, R.; Wolter, J.; Wood, A.; Wu, K.; Wu, K.; Xiangyu, X.; Xie, W.; Xu, F.; Yan, R.; Yang, S. P.; Yu, J.; Yuan, W.; Zajczyk, F.; Zanetti, A.; Zanin, D.; Zanni, R.; Zappacosta, C.; Zdziarski, L.; Zech, A. A.; Zhang, A.; Zhang, H.; Zhang, S.; Zhang, S.; Zoghbi, W.. - ELETTRONICO. - 9905:(2016), pp. 0-0. (Intervento presentato al convegno Space Telescopes and Instrumentation 2016: Ultraviolet to Gamma Ray tenutosi a Edinburgh (United Kingdom) nel 26 giugno - 1 luglio 2016) [10.1117/12.2233046].