The high luminosity upgrade of the Large Hadron Collider, foreseen for 2026, necessitates the replacement of the CMS experiment’s silicon tracker. The innermost layer of the new pixel detector will be exposed to severe radiation, corresponding to a 1 MeV neutron equivalent fluence of up to Φ e q= 2 × 10 16 cm- 2, and an ionising dose of ≈ 5 MGy after an integrated luminosity of 3000 fb- 1. Thin, planar silicon sensors are good candidates for this application, since the degradation of the signal produced by traversing particles is less severe than for thicker devices. In this paper, the results obtained from the characterisation of 100 and 200 μ m thick p-bulk pad diodes and strip sensors irradiated up to fluences of Φ e q= 1.3 × 10 16 cm- 2 are shown. © 2017, The Author(s).

Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade / Adam, W.; Bergauer, T.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hoch, M.; Hrubec, J.; König, A.; Steininger, H.; Waltenberger, W.; Alderweireldt, S.; Beaumont, W.; Janssen, X.; Lauwers, J.; Van Mechelen, P.; Van Remortel, N.; Van Spilbeeck, A.; Beghin, D.; Brun, H.; Clerbaux, B.; Delannoy, H.; De Lentdecker, G.; Fasanella, G.; Favart, L.; Goldouzian, R.; Grebenyuk, A.; Karapostoli, G.; Lenzi, Th.; Léonard, A.; Luetic, J.; Postiau, N.; Seva, T.; Vanlaer, P.; Vannerom, D.; Wang, Q.; Zhang, F.; Zeid, S. Abu; Blekman, F.; De Bruyn, I.; De Clercq, J.; D’Hondt, J.; Deroover, K.; Lowette, S.; Moortgat, S.; Moreels, L.; Python, Q.; Skovpen, K.; Van Mulders, P.; Van Parijs, I.; Bakhshiansohi, H.; Bondu, O.; Brochet, S.; Bruno, G.; Caudron, A.; Delaere, C.; Delcourt, M.; De Visscher, S.; Francois, B.; Giammanco, A.; Jafari, A.; Komm, M.; Krintiras, G.; Lemaitre, V.; Magitteri, A.; Mertens, A.; Michotte, D.; Musich, M.; Piotrzkowski, K.; Quertenmont, L.; Szilasi, N.; Marono, M. Vidal; Wertz, S.; Beliy, N.; Caebergs, T.; Daubie, E.; Hammad, G.H.; Härkönen, J.; Lampén, T.; Luukka, P.; Peltola, T.; Tuominen, E.; Tuovinen, E.; Eerola, P.; Tuuva, T.; Baulieu, G.; Boudoul, G.; Caponetto, L.; Combaret, C.; Contardo, D.; Dupasquier, T.; Gallbit, G.; Lumb, N.; Mirabito, L.; Perries, S.; Vander Donckt, M.; Viret, S.; Agram, J.-L.; Andrea, J.; Bloch, D.; Bonnin, C.; Brom, J.-M.; Chabert, E.; Chanon, N.; Charles, L.; Conte, E.; Fontaine, J.-Ch.; Gross, L.; Hosselet, J.; Jansova, M.; Tromson, D.; Autermann, C.; Feld, L.; Karpinski, W.; Kiesel, K.M.; Klein, K.; Lipinski, M.; Ostapchuk, A.; Pierschel, G.; Preuten, M.; Rauch, M.; Schael, S.; Schomakers, C.; Schulz, J.; Schwering, G.; Wlochal, M.; Zhukov, V.; Pistone, C.; Fluegge, G.; Kuensken, A.; Pooth, O.; Stahl, A.; Aldaya, M.; Asawatangtrakuldee, C.; Beernaert, K.; Bertsche, D.; Contreras-Campana, C.; Eckerlin, G.; Eckstein, D.; Eichhorn, T.*; Gallo, E.; Garay Garcia, J.; Hansen, K.; Haranko, M.; Harb, A.; Hauk, J.; Keaveney, J.; Kalogeropoulos, A.; Kleinwort, C.; Lohmann, W.; Mankel, R.; Maser, H.; Mittag, G.; Muhl, C.; Mussgiller, A.; Perrey, H.; Pitzl, D.; Reichelt, O.; Savitskyi, M.; Schuetze, P.; Spannagel, S.; Walsh, R.; Zuber, A.; Biskop, H.; Buhmann, P.; Centis-Vignali, M.; Garutti, E.; Haller, J.; Hoffmann, M.; Junkes, A.; Klanner, R.; Lapsien, T.; Matysek, M.; Perieanu, A.; Scharf, Ch.; Schleper, P.; Schmidt, A.; Schwandt, J.; Sonneveld, J.; Steinbrück, G.; Vormwald, B.; Wellhausen, J.; Abbas, M.; Amstutz, C.; Barvich, T.; Barth, Ch.; Boegelspacher, F.; De Boer, W.; Butz, E.; Casele, M.; Colombo, F.; Dierlamm, A.; Freund, B.; Hartmann, F.; Heindl, S.; Husemann, U.; Kornmeyer, A.; Kudella, S.; Muller, Th.; Simonis, H.J.; Steck, P.; Weber, M.; Weiler, Th.; Anagnostou, G.; Asenov, P.; Assiouras, P.; Daskalakis, G.; Kyriakis, A.; Loukas, D.; Paspalaki, L.; Siklér, F.; Veszprémi, V.; Bhardwaj, A.; Dalal, R.; Jain, G.; Ranjan, K.; Bakhshiansohl, H.; Behnamian, H.; Khakzad, M.; Naseri, M.; Cariola, P.; Creanza, D.; De Palma, M.; De Robertis, G.; Fiore, L.; Franco, M.; Loddo, F.; Sala, G.; Silvestris, L.; Maggi, G.; My, S.; Selvaggi, G.; Albergo, S.; Cappello, G.; Chiorboli, M.; Costa, S.; Di Mattia, A.; Giordano, F.; Potenza, R.; Saizu, M.A.; Tricomi, A.; Tuve, C.; Barbagli, G.; Brianzi, M.; Ciaranfi, R.; Ciulli, V.; Civinini, C.; D’Alessandro, R.; Focardi, E.; Latino, G.; Lenzi, P.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Russo, L.; Scarlini, E.; Sguazzoni, G.; Strom, D.; Viliani, L.; Ferro, F.; Lo Vetere, M.; Robutti, E.; Dinardo, M.E.; Fiorendi, S.; Gennai, S.; Malvezzi, S.; Manzoni, R.A.; Menasce, D.; Moroni, L.; Pedrini, D.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Bisello, D.; Dall’Osso, M.; Pozzobon, N.; Tosi, M.; De Canio, F.; Gaioni, L.; Manghisoni, M.; Nodari, B.; Riceputi, E.; Re, V.; Traversi, G.; Comotti, D.; Ratti, L.; Alunni Solestizi, L.; Biasini, M.; Bilei, G.M.; Cecchi, C.; Checcucci, B.; Ciangottini, D.; Fanò, L.; Gentsos, C.; Ionica, M.; Leonardi, R.; Manoni, E.; Mantovani, G.; Marconi, S.; Mariani, V.; Menichelli, M.; Modak, A.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Placidi, P.; Postolache, V.; Rossi, A.; Saha, A.; Santocchia, A.; Storchi, L.; Spiga, D.; Androsov, K.; Azzurri, P.; Arezzini, S.; Bagliesi, G.; Basti, A.; Boccali, T.; Borrello, L.; Bosi, F.; Castaldi, R.; Ciampa, A.; Ciocci, M.A.; Dell’Orso, R.; Donato, S.; Fedi, G.; Giassi, A.; Grippo, M.T.; Ligabue, F.; Lomtadze, T.; Magazzu, G.; Martini, L.; Mazzoni, E.; Messineo, A.; Moggi, A.; Morsani, F.; Palla, F.; Palmonari, F.; Raffaelli, F.; Rizzi, A.; Savoy-Navarro, A.; Spagnolo, P.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Venturi, A.; Verdini, P.G.; Bellan, R.; Costa, M.; Covarelli, R.; Da Rocha Rolo, M.; Demaria, N.; Rivetti, A.; Dellacasa, G.; Mazza, G.; Migliore, E.; Monteil, E.; Pacher, L.; Ravera, F.; Solano, A.; Fernandez, M.; Gomez, G.; Jaramillo Echeverria, R.; Moya, D.; Gonzalez Sanchez, F.J.; Vila, I.; Virto, A.L.; Abbaneo, D.; Ahmed, I.; Albert, E.; Auzinger, G.; Berruti, G.; Bianchi, G.; Blanchot, G.; Bonnaud, J.; Caratelli, A.; Ceresa, D.; Christiansen, J.; Cichy, K.; Daguin, J.; D’Auria, A.; Detraz, S.; Deyrail, D.; Dondelewski, O.; Faccio, F.; Frank, N.; Gadek, T.; Gill, K.; Honma, A.; Hugo, G.; Jara Casas, L.M.; Kaplon, J.; Kornmayer, A.; Kottelat, L.; Kovacs, M.; Krammer, M.; Lenoir, P.; Mannelli, M.; Marchioro, A.; Marconi, S.; Mersi, S.; Martina, S.; Michelis, S.; Moll, M.; Onnela, A.; Orfanelli, S.; Pavis, S.; Peisert, A.; Pernot, J.-F.; Petagna, P.; Petrucciani, G.; Postema, H.; Rose, P.; Tropea, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Vasey, F.; Vichoudis, P.; Verlaat, B.; Zwalinski, L.; Bachmair, F.; Becker, R.; di Calafiori, D.; Casal, B.; Berger, P.; Djambazov, L.; Donega, M.; Grab, C.; Hits, D.; Hoss, J.; Kasieczka, G.; Lustermann, W.; Mangano, B.; Marionneau, M.; Martinez Ruiz del Arbol, P.; Masciovecchio, M.; Meinhard, M.; Perozzi, L.; Roeser, U.; Starodumov, A.; Tavolaro, V.; Wallny, R.; Zhu, D.; Amsler, C.; Bösiger, K.; Caminada, L.; Canelli, F.; Chiochia, V.; de Cosa, A.; Galloni, C.; Hreus, T.; Kilminster, B.; Lange, C.; Maier, R.; Ngadiuba, J.; Pinna, D.; Robmann, P.; Taroni, S.; Yang, Y.; Bertl, W.; Deiters, K.; Erdmann, W.; Horisberger, R.; Kaestli, H.-C.; Kotlinski, D.; Langenegger, U.; Meier, B.; Rohe, T.; Streuli, S.; Chen, P.-H.; Dietz, C.; Grundler, U.; Hou, W.-S.; Lu, R.-S.; Moya, M.; Cussans, D.; Flacher, H.; Goldstein, J.; Grimes, M.; Jacob, J.; Seif El Nasr-Storey, S.; Cole, J.; Hoad, C.; Hobson, P.; Morton, A.; Reid, I.D.; Auzinger, G.; Bainbridge, R.; Dauncey, P.; Hall, G.; James, T.; Magnan, A.-M.; Pesaresi, M.; Raymond, D.M.; Uchida, K.; Coughlan, J.A.; Harder, K.; Ilic, J.; Tomalin, I.R.; Garabedian, A.; Heintz, U.; Narain, M.; Nelson, J.; Sagir, S.; Speer, T.; Swanson, J.; Tersegno, D.; Watson-Daniels, J.; Chertok, M.; Conway, J.; Conway, R.; Flores, C.; Lander, R.; Pellett, D.; Ricci-Tam, F.; Squires, M.; Thomson, J.; Yohay, R.; Burt, K.; Ellison, J.; Hanson, G.; Olmedo, M.; Si, W.; Yates, B.R.; Gerosa, R.; Sharma, V.; Vartak, A.; Yagil, A.; Della Porta, G. Zevi; Dutta, V.; Gouskos, L.; Incandela, J.; Kyre, S.; Mullin, S.; Patterson, A.; Qu, H.; White, D.; Dominguez, A.; Bartek, R.; Cumalat, J.P.; Ford, W.T.; Jensen, F.; Johnson, A.; Krohn, M.; Leontsinis, S.; Mulholland, T.; Stenson, K.; Wagner, S.R.; Apresyan, A.; Bolla, G.; Burkett, K.; Butler, J.N.; Canepa, A.; Cheung, H.W.K.; Chramowicz, J.; Christian, D.; Cooper, W.E.; Deptuch, G.; Derylo, G.; Gingu, C.; Grünendahl, S.; Hasegawa, S.; Hoff, J.; Howell, J.; Hrycyk, M.; Jindariani, S.; Johnson, M.; Kahlid, F.; Lei, C.M.; Lipton, R.; Lopes De Sá, R.; Liu, T.; Los, S.; Matulik, M.; Merkel, P.; Nahn, S.; Prosser, A.; Rivera, R.; Schneider, B.; Sellberg, G.; Shenai, A.; Spiegel, L.; Tran, N.; Uplegger, L.; Voirin, E.; Berry, D.R.; Chen, X.; Ennesser, L.; Evdokimov, A.; Evdokimov, O.; Gerber, C.E.; Hofman, D.J.; Makauda, S.; Mills, C.; Sandoval Gonzalez, I.D.; Alimena, J.; Antonelli, L.J.; Francis, B.; Hart, A.; Hill, C.S.; Parashar, N.; Stupak, J.; Bortoletto, D.; Bubna, M.; Hinton, N.; Jones, M.; Miller, D.H.; Shi, X.; Tan, P.; Baringer, P.; Bean, A.; Khalil, S.; Kropivnitskaya, A.; Majumder, D.; Wilson, G.; Ivanov, A.; Mendis, R.; Mitchell, T.; Skhirtladze, N.; Taylor, R.; Anderson, I.; Fehling, D.; Gritsan, A.; Maksimovic, P.; Martin, C.; Nash, K.; Osherson, M.; Swartz, M.; Xiao, M.; Acosta, J.G.; Cremaldi, L.M.; Oliveros, S.; Perera, L.; Summers, D.; Bloom, K.; Claes, D.R.; Fangmeier, C.; Gonzalez Suarez, R.; Monroy, J.; Siado, J.; Hahn, K.; Sevova, S.; Sung, K.; Trovato, M.; Bartz, E.; Gershtein, Y.; Halkiadakis, E.; Kyriacou, S.; Lath, A.; Nash, K.; Osherson, M.; Schnetzer, S.; Stone, R.; Walker, M.; Malik, S.; Norberg, S.; Ramirez Vargas, J.E.; Alyari, M.; Dolen, J.; Godshalk, A.; Harrington, C.; Iashvili, I.; Kharchilava, A.; Nguyen, D.; Parker, A.; Rappoccio, S.; Roozbahani, B.; Alexander, J.; Chaves, J.; Chu, J.; Dittmer, S.; McDermott, K.; Mirman, N.; Rinkevicius, A.; Ryd, A.; Salvati, E.; Skinnari, L.; Soffi, L.; Tao, Z.; Thom, J.; Tucker, J.; Zientek, M.; Akgün, B.; Ecklund, K.M.; Kilpatrick, M.; Nussbaum, T.; Zabel, J.; Betchart, B.; Covarelli, R.; Demina, R.; Hindrichs, O.; Petrillo, G.; Eusebi, R.; Osipenkov, I.; Perloff, A.; Ulmer, K.A.; Delannoy, A.G.; D’Angelo, P.; Johns, W.. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - ELETTRONICO. - 77:(2017), pp. 0-0. [10.1140/epjc/s10052-017-5115-z]

Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Ciulli, V.;D’Alessandro, R.;Focardi, E.;Latino, G.;Lenzi, P.;Russo, L.;Viliani, L.;Martina, S.;
2017

Abstract

The high luminosity upgrade of the Large Hadron Collider, foreseen for 2026, necessitates the replacement of the CMS experiment’s silicon tracker. The innermost layer of the new pixel detector will be exposed to severe radiation, corresponding to a 1 MeV neutron equivalent fluence of up to Φ e q= 2 × 10 16 cm- 2, and an ionising dose of ≈ 5 MGy after an integrated luminosity of 3000 fb- 1. Thin, planar silicon sensors are good candidates for this application, since the degradation of the signal produced by traversing particles is less severe than for thicker devices. In this paper, the results obtained from the characterisation of 100 and 200 μ m thick p-bulk pad diodes and strip sensors irradiated up to fluences of Φ e q= 1.3 × 10 16 cm- 2 are shown. © 2017, The Author(s).
2017
77
0
0
Adam, W.; Bergauer, T.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hoch, M.; Hrubec, J.; König, A.; Steininger, H.; Waltenberger, W.; A...espandi
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in FLORE sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificatore per citare o creare un link a questa risorsa: https://hdl.handle.net/2158/1114818
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 4
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 3
social impact