Physics at a 100 TeV pp collider: beyond the Standard Model phenomena

Golling, T.; Hance, M.; Harris, P.; Mangano, M. L.; Mccullough, M.; Moortgat, F.; Schwaller, P.; Torre, R.; Agrawal, P; Alves, D. S. M.; Antusch, S.; Arbey, A.; Auerbach, B.; Bambhaniya, G.; Battaglia, M.; Bauer, M.; Bhupal Dev, P. S.; Boveia, A.; Bramante, J.; Buchmueller, O.; Buschmann, M.; Chakrabortty, J.; Chala, M.; Chekanov, S.; Chen, C. -Y.; Cheng, H. -C.; Cirelli, M.; Citron, M.; Cohen, T.; Craig, N.; Curtin, D.; D'Agnolo, R. T.; Doglioni, C.; Dror, J. A.; Du Pree, T.; Dylewsky, D.; Ellis, J.; Ellis, S. A. R.; Essig, R.; Fan, J. J.; Farina, M.; Feng, J. L.; Fox, P. J.; Galloway, J.; Giudice, G.; Gluza, J.; Gori, S.; Guha, S.; Hahn, K.; Han, T.; Helsens, C.; Henriques, A.; Iwamoto, S.; Jelinski, T.; Jung, S.; Kahlhoefer, F.; Khoze, V. V.; Kim, D.; Kopp, J.; Kotwal, A.; Krämer, M.; Lindert, J. M.; Liu, J.; Lou, H. K.; Love, J.; Low, M.; Machado, P. A. N.; Mahmoudi, F.; Marrouche, J.; Martin, A.; Mohan, K.; Mohapatra, R. N.; Nardini, G.; Olive, K. A.; Ostdiek, B.; Panico, G.; Plehn, T.; Proudfoot, J.; Qian, Z.; Reece, M.; Rizzo, T.; Roskas, C.; Ruderman, J.; Ruiz, R.; Sala, F.; Salvioni, E.; Saraswat, P.; Schell, T.; Schmidt-Hoberg, K.; Serra, J.; Shadmi, Y.; Shelton, J.; Solans, C.; Spannowsky, M.; Srivastava, T.; Stolarski, D.; Szafron, R.; Taoso, M.; Tarem, S.; Thalapillil, A.; Thamm, A.; Tsai, Y.; Verhaaren, C.; Vignaroli, N.; Walsh, J. R.; Wang, L. T.; Weiland, C.; Wells, J.; Williams, C.; Wulzer, A.; Xue, W.; Yu, F.; Zheng, B.; Zheng, J.

doi:10.23731/CYRM-2017-003

This report summarises the physics opportunities in the search and study of physics beyond the Standard Model at a 100 TeV pp collider.

Physics at a 100 TeV pp collider: beyond the Standard Model phenomena / T. Golling , M. Hance , P. Harris, M.L. Mangano, M. McCullough, F. Moortgat , P. Schwaller , R. Torre , P Agrawal , D.S.M. Alves , S. Antusch , A. Arbey , B. Auerbach , G. Bambhaniya , M. Battaglia , M. Bauer , P.S. Bhupal Dev , A. Boveia , J. Bramante , O. Buchmueller , et al.. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 441-634. [10.23731/CYRM-2017-003]