A measurement of the K+ ??? ??+??+????? decay

Cortina Gil, E.; Kleimenova, A.; Minucci, E.; Padolski, S.; Petrov, P.; Shaikhiev, A.; Volpe, R.; Numao, T.; Petrov, Y.; Velghe, B.; Wong, V. W. S.; Bryman, D.; Fu, J.; Husek, T.; Jerhot, J.; Kampf, K.; Zamkovsky, M.; Aliberti, R.; Khoriauli, G.; Kunze, J.; Lomidze, D.; Peruzzo, L.; Vormstein, M.; Wanke, R.; Dalpiaz, P.; Fiorini, M.; Neri, I.; Norton, A.; Petrucci, F.; Wahl, H.; Cotta Ramusino, A.; Gianoli, A.; Iacopini, E.; Latino, G.; Lenti, M.; Parenti, A.; Bizzeti, A.; Bucci, F.; Antonelli, A.; Georgiev, G.; Kozhuharov, V.; Lanfranchi, G.; Martellotti, S.; Moulson, M.; Spadaro, T.; Tinti, G.; Ambrosino, F.; Capussela, T.; Corvino, M.; Di Filippo, D.; Fiorenza, R.; Massarotti, P.; Mirra, M.; Napolitano, M.; Saracino, G.; Anzivino, G.; Brizioli, F.; Imbergamo, E.; Lollini, R.; Piandani, R.; Santoni, C.; Barbanera, M.; Cenci, P.; Checcucci, B.; Lubrano, P.; Lupi, M.; Pepe, M.; Piccini, M.; Costantini, F.; Di Lella, L.; Doble, N.; Giorgi, M.; Giudici, S.; Lamanna, G.; Lari, E.; Pedreschi, E.; Sozzi, M.; Cerri, C.; Fantechi, R.; Pontisso, L.; Spinella, F.; Mannelli, I.; D???agostini, G.; Raggi, M.; Biagioni, A.; Cretaro, P.; Frezza, O.; Leonardi, E.; Lonardo, A.; Turisini, M.; Valente, P.; Vicini, P.; Ammendola, R.; Bonaiuto, V.; Fucci, A.; Salamon, A.; Sargeni, F.; Arcidiacono, R.; Bloch-Devaux, B.; Boretto, M.; Menichetti, E.; Migliore, E.; Soldi, D.; Biino, C.; Filippi, A.; Marchetto, F.; Engelfried, J.; Estrada-Tristan, N.; Bragadireanu, A. M.; Ghinescu, S. A.; Hutanu, O. E.; Baeva, A.; Baigarashev, D.; Emelyanov, D.; Enik, T.; Falaleev, V.; Kekelidze, V.; Korotkova, A.; Litov, L.; Madigozhin, D.; Misheva, M.; Molokanova, N.; Movchan, S.; Polenkevich, I.; Potrebenikov, Yu.; Shkarovskiy, S.; Zinchenko, A.; Fedotov, S.; Gushchin, E.; Khotyantsev, A.; Kudenko, Y.; Kurochka, V.; Medvedeva, M.; Mefodev, A.; Kholodenko, S.; Kurshetsov, V.; Obraztsov, V.; Ostankov, A.; Semenov, V.; Sugonyaev, V.; Yushchenko, O.; Bician, L.; Blazek, T.; Cerny, V.; Kucerova, Z.; Bernhard, J.; Ceccucci, A.; Danielsson, H.; De Simone, N.; Duval, F.; D??brich, B.; Federici, L.; Gamberini, E.; Gatignon, L.; Guida, R.; Hahn, F.; Holzer, E. B.; Jenninger, B.; Koval, M.; Laycock, P.; Lehmann Miotto, G.; Lichard, P.; Mapelli, A.; Marchevski, R.; Massri, K.; Noy, M.; Palladino, V.; Perrin-Terrin, M.; Pinzino, J.; Ryjov, V.; Schuchmann, S.; Venditti, S.; Bache, T.; Brunetti, M. B.; Duk, V.; Fascianelli, V.; Fry, J. R.; Gonnella, F.; Goudzovski, E.; Henshaw, J.; Iacobuzio, L.; Lazzeroni, C.; Lurkin, N.; Newson, F.; Parkinson, C.; Romano, A.; Sergi, A.; Sturgess, A.; Swallow, J.; Tomczak, A.; Heath, H.; Page, R.; Trilov, S.; Angelucci, B.; Britton, D.; Graham, C.; Protopopescu, D.; Carmignani, J.; Dainton, J. B.; Jones, R. W. L.; Ruggiero, G.; Fulton, L.; Hutchcroft, D.; Maurice, E.; Wrona, B.; Conovaloff, A.; Cooper, P.; Coward, D.; Rubin, P.

doi:10.1007/jhep11(2022)011

A sample of 2.8 x 10(4) K+ -> pi(+)mu(+)mu(-) candidates with negligible background was collected by the NA62 experiment at the CERN SPS in 2017-2018. The model-independent branching fraction is measured to be (9.15 +/- 0.08) x 10(-8), a factor three more precise than previous measurements. The decay form factor is presented as a function of the squared dimuon mass. A measurement of the form factor parameters and their uncertainties is performed using a description based on Chiral Perturbation Theory at O (p(6)).

A measurement of the K+ ??? ??+??+????? decay / E. Cortina Gil; A. Kleimenova; E. Minucci; S. Padolski; P. Petrov; A. Shaikhiev; R. Volpe; T. Numao; Y. Petrov; B. Velghe; V. W. S. Wong; D. Bryman; J. Fu; T. Husek; J. Jerhot; K. Kampf; M. Zamkovsky; R. Aliberti; G. Khoriauli; J. Kunze; D. Lomidze; L. Peruzzo; M. Vormstein; R. Wanke; P. Dalpiaz; M. Fiorini; I. Neri; A. Norton; F. Petrucci; H. Wahl; A. Cotta Ramusino; A. Gianoli; E. Iacopini; G. Latino; M. Lenti; A. Parenti; A. Bizzeti; F. Bucci; A. Antonelli; G. Georgiev; V. Kozhuharov; G. Lanfranchi; S. Martellotti; M. Moulson; T. Spadaro; G. Tinti; F. Ambrosino; T. Capussela; M. Corvino; D. Di Filippo; R. Fiorenza; P. Massarotti; M. Mirra; M. Napolitano; G. Saracino; G. Anzivino; F. Brizioli; E. Imbergamo; R. Lollini; R. Piandani; C. Santoni; M. Barbanera; P. Cenci; B. Checcucci; P. Lubrano; M. Lupi; M. Pepe; M. Piccini; F. Costantini; L. Di Lella; N. Doble; M. Giorgi; S. Giudici; G. Lamanna; E. Lari; E. Pedreschi; M. Sozzi; C. Cerri; R. Fantechi; L. Pontisso; F. Spinella; I. Mannelli; G. D???Agostini; M. Raggi; A. Biagioni; P. Cretaro; O. Frezza; E. Leonardi; A. Lonardo; M. Turisini; P. Valente; P. Vicini; R. Ammendola; V. Bonaiuto; A. Fucci; A. Salamon; F. Sargeni; R. Arcidiacono; B. Bloch-Devaux; M. Boretto; E. Menichetti; E. Migliore; D. Soldi; C. Biino; A. Filippi; F. Marchetto; J. Engelfried; N. Estrada-Tristan; A. M. Bragadireanu; S. A. Ghinescu; O. E. Hutanu; A. Baeva; D. Baigarashev; D. Emelyanov; T. Enik; V. Falaleev; V. Kekelidze; A. Korotkova; L. Litov; D. Madigozhin; M. Misheva; N. Molokanova; S. Movchan; I. Polenkevich; Yu. Potrebenikov; S. Shkarovskiy; A. Zinchenko; S. Fedotov; E. Gushchin; A. Khotyantsev; Y. Kudenko; V. Kurochka; M. Medvedeva; A. Mefodev; S. Kholodenko; V. Kurshetsov; V. Obraztsov; A. Ostankov; V. Semenov; V. Sugonyaev; O. Yushchenko; L. Bician; T. Blazek; V. Cerny; Z. Kucerova; J. Bernhard; A. Ceccucci; H. Danielsson; N. De Simone; F. Duval; B. D??brich; L. Federici; E. Gamberini; L. Gatignon; R. Guida; F. Hahn; E. B. Holzer; B. Jenninger; M. Koval; P. Laycock; G. Lehmann Miotto; P. Lichard; A. Mapelli; R. Marchevski; K. Massri; M. Noy; V. Palladino; M. Perrin-Terrin; J. Pinzino; V. Ryjov; S. Schuchmann; S. Venditti; T. Bache; M. B. Brunetti; V. Duk; V. Fascianelli; J. R. Fry; F. Gonnella; E. Goudzovski; J. Henshaw; L. Iacobuzio; C. Lazzeroni; N. Lurkin; F. Newson; C. Parkinson; A. Romano; A. Sergi; A. Sturgess; J. Swallow; A. Tomczak; H. Heath; R. Page; S. Trilov; B. Angelucci; D. Britton; C. Graham; D. Protopopescu; J. Carmignani; J. B. Dainton; R. W. L. Jones; G. Ruggiero; L. Fulton; D. Hutchcroft; E. Maurice; B. Wrona; A. Conovaloff; P. Cooper; D. Coward; P. Rubin. - In: JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS. - ISSN 1029-8479. - ELETTRONICO. - 2022:(2022), pp. 0-0. [10.1007/jhep11(2022)011]