Charge collection and noise analysis of heavily irradiated silicon detectors / E.BORCHI; M. BRUZZI; C.LEROY; S.PIROLLO; S.SCIORTINO. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - 45:(1998), pp. 141-145.

Charge collection and noise analysis of heavily irradiated silicon detectors

BORCHI, EMILIO;BRUZZI, MARA;SCIORTINO, SILVIO
1998

1998
45
141
145
E.BORCHI; M. BRUZZI; C.LEROY; S.PIROLLO; S.SCIORTINO
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