Thermally Stimulated Currents analysis of the shallow levels in irradiated silicon detectors / BORCHI E.; M. BRUZZI; LI Z.; PIROLLO S.. - In: JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHYSICS. - ISSN 0022-3727. - STAMPA. - 33:(2000), pp. 299-304.
Thermally Stimulated Currents analysis of the shallow levels in irradiated silicon detectors
BORCHI, EMILIO;BRUZZI, MARA;
2000
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