Deep-level Transient Spectroscopy Measurements of majority carrier Traps in neutron-irradiated n-type silicon detectors / E. Borchi, C. Bertrand, C. Leroy, M. Bruzzi, C. Furetta, R. Paludetto, P.G.Rancoita, L.Vismara, P. Giubellino. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 279:(1989), pp. 277-280.
Deep-level Transient Spectroscopy Measurements of majority carrier Traps in neutron-irradiated n-type silicon detectors
BORCHI, EMILIO;BRUZZI, MARA;
1989
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