using Thermally Stimulated Currents to visualize defect clusters in neutron-irradiated silicon / Bruzzi M.; Borchi E.; Baldini A.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 72:(1992), pp. 4007-4013.
using Thermally Stimulated Currents to visualize defect clusters in neutron-irradiated silicon
BRUZZI, MARA;BORCHI, EMILIO;
1992
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in FLORE sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.