using Thermally Stimulated Currents to visualize defect clusters in neutron-irradiated silicon / Bruzzi M.; Borchi E.; Baldini A.. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - STAMPA. - 72:(1992), pp. 4007-4013.

using Thermally Stimulated Currents to visualize defect clusters in neutron-irradiated silicon

BRUZZI, MARA;BORCHI, EMILIO;
1992

1992
72
4007
4013
Bruzzi M.; Borchi E.; Baldini A.
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