The effect of highly ionising particles on the CMS silicon strip tracker / Adam, W.; Bergauer, T.; Friedl, M.; Fruehwirth, R.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Pernicka, M.; Waltenberger, W.; Beaumont, W.; Langhe, E. d.; Wolf, E. d.; Tasevsky, M.; Bouhali, O.; Clerbaux, B.; Lentdecker, G. d.; Dewulf, J. P.; Neuckermans, L.; Vander Velde, C.; Vanlaer, P.; Wickens, J.; D'Hondt, J.; Goorens, R.; Heyninck, J.; Lowette, S.; Tavernier, S.; Lancker, L. V.; Yu, C.; Assouak, S.; Bonnet, J. L.; Bruno, G.; De Callatay, B.; De Favereau de Jeneret, J.; Delaere, C.; De Visscher, S.; Favart, D.; Gregoire, G.; Keutgen, T.; Leibenguth, G.; Lemaitre, V.; Michotte, D.; Militaru, O.; Ninane, A.; Ovyn, S.; Piotrzkowski, K.; Roberfroid, V.; Rouby, X.; Van Der Aa, O.; Vander Donckt, M.; Boulogne, I.; Daubie, E.; Defontaines, F.; Herquet, P.; Czellar, S.; Harkonen, J.; Karimaki, V.; Katajisto, H.; Linden, T.; Luukka, P.; Lampen, T.; Maenpaa, T.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Tuuva, T.; Ageron, M.; Chabanat, E.; Contardo, D.; Estre, N.; Haroutunian, R.; Lumb, N.; Mirabito, L.; Perries, S.; Trocme, B.; Blaes, R.; Charles, F.; Drouhin, F.; Ernenwein, J. P.; Fontaine, J. C.; Berst, J. D.; Brom, J. M.; Didierjean, F.; Goerlach, U.; Gross, L.; Juillot, P.; Lounis, A.; Maazouzi, C.; Olivetto, C.; Strub, R.; Vanhove, P.; Vintache, D.; Adolphi, R.; Brauer, R.; Braunschweig, W.; Esser, H.; Feld, L.; Heister, A.; Karpinski, W.; Klein, K.; Konig, S.; Kukulies, C.; Olzem, J.; Ostaptchouk, A.; Pandoulas, D.; Pierschel, G.; Raupach, F.; Schael, S.; von Dratzig, A. S.; Schwering, G.; Siedling, R.; Thomas, M.; Wlochal, M.; Beissel, F.; Boffin, K. D.; Duda, M.; Flossdorf, A.; Flugge, G.; Franke, T.; Hangarter, K.; Hegner, B.; Hermanns, T.; Kasselmann, S.; Kress, T.; Linn, A.; Mnich, J.; Nowack, A.; Poettgens, M.; Pooth, O.; Reinhold, B.; Bleyl, M.; Holm, U.; Klanner, R.; Pein, U.; Schleper, P.; Schirm, N.; Steinbruck, G.; Stoye, M.; Tesch, S.; Staa, R. v.; Wick, K.; Atz, B.; Barvich, T.; Blum, P.; Boer, W. d.; Boegelspacher, F.; Dirkes, G.; Fahrer, M.; Fernandez, J.; Frey, M.; Furgeri, A.; Grigoriev, E.; Hartmann, F.; Heier, S.; Muller, T.; Ortega Gomez, T.; Simonis, H. J.; Steck, P.; Theel, A.; Weiler, T.; Zhukov, V.; Creanza, D.; Filippis, N. D.; Palma, M. d.; Robertis, G. D.; Fiore, L.; Giordano, D.; Maggi, G.; Mennea, M.; My, S.; Radicci, V.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Albergo, S.; Bellini, V.; Chiorboli, M.; Costa, S.; Potenza, R.; Tricomi, A.; Tuve, C.; Bocci, Andrea; Ciulli, Vitaliano; Civinini, C.; D'Alessandro, Raffaello; Focardi, Ettore; Landi, Gregorio; Macchiolo, Anna; Magini, Nicolo'; Mersi, Stefano; Marchettini, C.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Parrini, Giuliano; Ranieri, Riccardo; Sani, Matteo; Bacchetta, N.; Bisello, D.; Candelori, A.; Dorigo, T.; Giubilato, P.; Kaminsky, A.; Loreti, M.; Nigro, M.; Paccagnella, A.; Rando, R.; Angarano, M. M.; Babucci, E.; Benedetti, D.; Biasini, M.; Bilei, G. M.; Brunetti, M. T.; Checcucci, B.; Dinu, N.; Fano, L.; Giorgi, M.; Lariccia, P.; Mantovani, G.; Postolache, V.; Puscalau, M.; Ricci, D.; Santinelli, R.; Santocchia, A.; Servoli, L.; Zucchetti, C.; Azzurri, P.; Bagliesi, G.; Basti, A.; Bernardini, J.; Boccali, T.; Borrello, L.; Bosi, F.; Castaldi, R.; D'Alfonso, M.; Dell'Orso, R.; Dutta, S.; Foa, L.; Gennai, S.; Giammanco, A.; Giassi, A.; Lomtadze, T.; Mangano, B.; Messineo, A.; Moggi, A.; Palla, F.; Palmonari, F.; Raffaelli, F.; Rizzi, A.; Rizzi, D.; Segneri, G.; Sentenac, D.; Sguazzoni, G.; Spagnolo, P.; Tonelli, G.; Verdini, P. G.; Biino, C.; Costa, M.; Demaria, N.; Favro, G.; Trapani, P.; Peroni, C.; Romero, A.; Migliore, E.; Abbaneo, D.; Ahmed, F.; Bartalini, P.; Bernardino Rodriguez, N.; Breuker, H.; Buchmuller, O.; Carrone, E.; Cattai, A.; Chierici, R.; Cucciarelli, S.; Dierlamm, A.; Eppard, M.; Frey, A.; Gill, K.; Grabit, R.; Honma, A.; Huhtinen, M.; Magazzu, G.; Mannelli, M.; Marchioro, A.; Onnela, A.; Perea Solano, B.; Petagna, P.; Postema, H.; Risoldi, M.; Rolandi, G.; Siegrist, P.; Troska, I.; Tsirou, A.; Vasey, F.; Weber, M.; Wittmer, B.; Bertl, W.; Gabathuler, K.; Horisberger, R.; Kastli, H. C.; Kotlinski, D.; Macpherson, A.; Rohe, T.; Freudenreich, K.; Lustermann, W.; Pauss, F.; Eichler, R.; Erdmann, W.; Grab, C.; Schoning, A.; Amsler, C.; Chiochia, V.; Dorokhov, A.; Hormann, C.; Pruys, H.; Prokofiev, K.; Regenfus, C.; Robmann, P.; Speer, T.; Bell, K. W.; Coughlan, J.; French, M.; Halsall, R.; Jones, L.; Pearson, M.; Rogers, G.; Tomalin, I.; Bainbridge, R.; Barrillon, P.; Colling, D.; Dris, S.; Foudas, C.; Fulcher, J.; Hall, G.; Iles, G.; Jones, J.; Leaver, J.; Macevoy, B. C.; Noy, M.; Raymond, D. M.; Takahashi, M.; Zorba, O.; Barnett, B.; Chien, C. Y.; Kim, D. W.; Liang, G.; Swartz, M.; Atac, M.; Demarteau, M.; Joshi, U.; Kwan, S.; Spiegel, L.; Tkaczyk, S.; Gerber, C. E.; Shabalina, E.; Ten, T.; Lander, R.; Pellett, D.; Gobbi, B.; Kubantsev, M.; Malik, S.; Tilden, R.; Baringer, P.; Bean, A.; Christofek, L.; Coppage, D.; Bolton, T. A.; Demina, R.; Kahl, W. E.; Khanov, A.; Korjenevski, S.; Pukhaeva, N.; Reay, N. W.; Rizatdinova, F.; Sidwell, R. A.; Stanton, N. R.; Cremaldi, L.; Sanders, D.; Bartz, E.; Doroshenko, J.; Koeth, T.; Perera, L.; Schnetzer, S.; Stone, R.; Worm, S.; Gartung, P.; Hanson, G. G.; Jeng, G. Y.; Paztor, G.; Eusebi, R.; Halkiadakis, E.; Hocker, A.; Tipton, P.; Affolder, A.; Campagnari, C.; Hale, D.; Incandela, J.; Kyre, S.; Lamb, J.; Taylor, R.; White, D.; Bolla, G.; Bortoletto, D.; Garfinkel, A.; Rott, C.; Roy, A.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 543:(2005), pp. 463-482. [10.1016/j.nima.2004.11.049]
The effect of highly ionising particles on the CMS silicon strip tracker
BOCCI, ANDREA;CIULLI, VITALIANO;D'ALESSANDRO, RAFFAELLO;FOCARDI, ETTORE;LANDI, GREGORIO;MACCHIOLO, ANNA;MAGINI, NICOLO';MERSI, STEFANO;PARRINI, GIULIANO;RANIERI, RICCARDO;SANI, MATTEO;
2005
I documenti in FLORE sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
