The effect of highly ionising particles on the CMS silicon strip tracker / Adam, W., Bergauer, T., Friedl, M., Fruehwirth, R., Hrubec, J., Krammer, M., Pernicka, M., Waltenberger, W., Beaumont, W., Langhe, E.d., Wolf, E.d., Tasevsky, M., Bouhali, O., Clerbaux, B., Lentdecker, G.d., Dewulf, J.P., Neuckermans, L., Vander Velde, C., Vanlaer, P., Wickens, J., et al.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 543:(2005), pp. 463-482. [10.1016/j.nima.2004.11.049]

The effect of highly ionising particles on the CMS silicon strip tracker

BOCCI, ANDREA;CIULLI, VITALIANO;D'ALESSANDRO, RAFFAELLO;FOCARDI, ETTORE;LANDI, GREGORIO;MACCHIOLO, ANNA;MAGINI, NICOLO';MERSI, STEFANO;PARRINI, GIULIANO;RANIERI, RICCARDO;SANI, MATTEO;
2005

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Adam, W.; Bergauer, T.; Friedl, M.; Fruehwirth, R.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Pernicka, M.; Waltenberger, W.; Beaumont, W.; Langhe, E. d.; Wolf, E. d.;...espandi
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