A compact flat-crystal X-ray spectrometer for external beam PIXE measurements / P. Tesauro; P.A. Mando'; G. Parrini; A. Pecchioli; P. Sona. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. - ISSN 0168-583X. - STAMPA. - vol.108:(1996), pp. 197-204.

A compact flat-crystal X-ray spectrometer for external beam PIXE measurements

MANDO', PIER ANDREA;PARRINI, GIULIANO;SONA, PIETRO
1996

1996
vol.108
197
204
P. Tesauro; P.A. Mando'; G. Parrini; A. Pecchioli; P. Sona
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