Alignment of the CMS silicon tracker during commissioning with cosmic rays / S. Chatrchyan;V. Khachatryan;A. M. Sirunyan;W. Adam;B. Arnold;H. Bergauer;T. Bergauer;M. Dragicevic;M. Eichberger;J. Eroe;M. Friedl;R. Fruehwirth;V. M. Ghete;J. Hammer;S. Haensel;M. Hoch;N. Hoermann;J. Hrubec;M. Jeitler;G. Kasieczka;K. Kastner;M. Krammer;D. Liko;I. M. de;I. Mikulec;F. Mittermayr;B. Neuherz;M. Oberegger;M. Padrta;M. Pernicka;H. Rohringer;S. Schmid;R. Schoefbeck;T. Schreiner;R. Stark;H. Steininger;J. Strauss;A. Taurok;F. Teischinger;T. Themel;D. Uhl;P. Wagner;W. Waltenberger;G. Walzel;E. Widl;C. . E.;V. Chekhovsky;O. Dvornikov;I. Emeliantchik;A. Litomin;V. Makarenko;I. Marfin;V. Mossolov;N. Shumeiko;A. Solin;R. Stefanovitch;J. S. Gonzalez;A. Tikhonov;A. Fedorov;A. Karneyeu;M. Korzhik;V. Panov;R. Zuyeuski;P. Kuchinsky;W. Beaumont;L. Benucci;M. Cardaci;E. A. De;E. Delmeire;D. Druzhkin;M. Hashemi;X. Janssen;T. Maes;L. Mucibello;S. Ochesanu;R. Rougny;M. Selvaggi;H. V. Haevermaet;P. V. Mechelen;N. V. Remortel;V. Adler;S. Beauceron;S. Blyweert;J. D'Hondt;S. D. Weirdt;O. Devroede;J. Heyninck;A. Kalogeropoulos;J. Maes;M. Maes;M. U. Mozer;S. Tavernier;W. V. Doninck;P. V. Mulders;I. Villella;O. Bouhali;E. C. Chabert;O. Charaf;B. Clerbaux;G. D. Lentdecker;V. Dero;S. Elgammal;A. P. R.;G. H. Hammad;P. E. Marage;S. Rugovac;C. V. Velde;P. Vanlaer;J. Wickens;M. Grunewald;B. Klein;A. Marinov;D. Ryckbosch;F. Thyssen;M. Tytgat;L. Vanelderen;P. Verwilligen;S. Basegmez;G. Bruno;J. Caudron;C. Delaere;P. Demin;D. Favart;A. Giammanco;G. Gregoire;V. Lemaitre;O. Militaru;S. Ovyn;K. Piotrzkowski;L. Quertenmont;N. Schul;N. Beliy;E. Daubie;G. A. Alves;M. E. Pol;M. H. G.;W. Carvalho;D. D. Jesus;C. D. Oliveira;S. F. De;L. Mundim;V. Oguri;A. Santoro;S. M. Silva;A. Sznajder;T. R. Fernandez;M. A. Ferreira;E. M. Gregores;S. F. Novaes;K. Abadjiev;T. Anguelov;J. Damgov;N. Darmenov;L. Dimitrov;V. Genchev;P. Iaydjiev;S. Piperov;S. Stoykova;G. Sultanov;R. Trayanov;I. Vankov;A. Dimitrov;M. Dyulendarova;V. 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G. Garrido;R. Goudard;S. Gowdy;R. Guida;L. Guiducci;J. Gutleber;M. Hansen;C. Hartl;J. Harvey;B. Hegner;H. F. Hoffmann;A. Holzner;A. Honma;M. Huhtinen;V. Innocente;P. Janot;G. L. Godec;P. Lecoq;C. Leonidopoulos;R. Loos;C. Lourenco;A. Lyonnet;A. Macpherson;N. Magini;J. D. Maillefaud;G. Maire;T. Maeki;L. Malgeri;M. Mannelli;L. Masetti;F. Meijers;P. Meridiani;S. Mersi;E. Meschi;A. M. Cordonnier;R. Moser;M. Mulders;J. Mulon;M. Noy;A. Oh;G. Olesen;A. Onnela;T. Orimoto;L. Orsini;E. Perez;G. Perinic;J. F. Pernot;P. Petagna;P. Petiot;A. Petrilli;A. Pfeiffer;M. Pierini;M. Pimiae;R. Pintus;B. Pirollet;H. Postema;A. Racz;S. Ravat;S. B. Rew;J. R. Antunes;G. Rolandi;M. Rovere;V. Ryjov;H. Sakulin;D. Samyn;H. Sauce;C. Schaefer;W. D. Schlatter;M. Schroeder;C. Schwick;A. Sciaba;I. Segoni;A. Sharma;N. Siegrist;P. Siegrist;N. Sinanis;T. Sobrier;P. Sphicas;D. Spiga;M. Spiropulu;F. Stoeckli;P. Traczyk;P. Tropea;J. Troska;A. Tsirou;L. Veillet;G. I. Veres;M. Voutilainen;P. Wertelaers;M. Zanetti;W. Bertl;K. Deiters;W. Erdmann;K. Gabathuler;R. Horisberger;Q. Ingram;H. C. Kaestli;S. Koenig;D. Kotlinski;U. Langenegger;F. Meier;D. Renker;T. Rohe;J. Sibille;A. Starodumov;B. Betev;L. Caminada;Z. Chen;S. Cittolin;D. R. Da;S. Dambach;G. Dissertori;M. Dittmar;C. Eggel;J. Eugster;G. Faber;K. Freudenreich;C. Grab;A. Herve;W. Hintz;P. Lecomte;P. D. Luckey;W. Lustermann;C. Marchica;P. Milenovic;F. Moortgat;A. Nardulli;F. Nessi-Tedaldi;L. Pape;F. Pauss;T. Punz;A. Rizzi;F. J. Ronga;L. Sala;A. K. Sanchez;M. . C.;V. Sordini;B. Stieger;L. Tauscher;A. Thea;K. Theofilatos;D. Treille;P. Trueb;M. Weber;L. Wehrli;J. Weng;S. Zelepoukine;C. Amsler;V. Chiochia;S. D. Visscher;C. Regenfus;P. Robmann;T. Rommerskirchen;A. Schmidt;D. Tsirigkas;L. Wilke;Y. H. Chang;E. A. Chen;W. T. Chen;A. Go;C. M. Kuo;S. W. Li;W. Lin;P. Bartalini;P. Chang;Y. Chao;K. F. Chen;W. . S.;Y. Hsiung;Y. J. Lei;S. W. Lin;R. . S.;J. Schuemann;J. G. Shiu;Y. M. Tzeng;K. Ueno;Y. Velikzhanin;C. C. Wang;M. Wang;A. Adiguzel;A. Ayhan;A. A. Gokce;M. N. Bakirci;S. Cerci;I. Dumanoglu;E. Eskut;S. Girgis;E. Gurpinar;I. Hos;T. Karaman;T. Karaman;A. K. Topaksu;P. Kurt;G. Oenenguet;G. O. Goekbulut;K. Ozdemir;S. Ozturk;A. Polatoez;K. Sogut;B. Tali;H. Topakli;D. Uzun;L. N. Vergili;M. Vergili;I. V. Akin;T. Aliev;S. Bilmis;M. Deniz;H. Gamsizkan;A. M. Guler;K. Oecalan;M. Serin;R. Sever;U. E. Surat;M. Zeyrek;M. Deliomeroglu;D. Demir;E. Guelmez;A. Halu;B. Isildak;M. Kaya;O. Kaya;S. Ozkorucuklu;N. Sonmez;L. Levchuk;S. Lukyanenko;D. Soroka;S. Zub;F. Bostock;J. J. Brooke;T. L. Cheng;D. Cussans;R. Frazier;J. Goldstein;N. Grant;M. Hansen;G. P. Heath;H. F. Heath;C. Hill;B. Huckvale;J. Jackson;C. K. Mackay;S. Metson;D. M. Newbold;K. Nirunpong;V. J. Smith;J. Velthuis;R. Walton;K. W. Bell;C. Brew;R. M. Brown;B. Camanzi;D. J. A.;J. A. Coughlan;N. I. Geddes;K. Harder;S. Harper;B. W. Kennedy;P. Murray;C. H. Shepherd-Themistocleous;I. R. Tomalin;J. H. Williams;W. J. Womersley;S. D. Worm;R. Bainbridge;G. Ball;J. Ballin;R. Beuselinck;O. Buchmuller;D. Colling;N. Cripps;G. Davies;M. D. Negra;C. Foudas;J. Fulcher;D. Futyan;G. Hall;J. Hays;G. Iles;G. Karapostoli;B. C. MacEvoy;A. . M.;J. Marrouche;J. Nash;A. Nikitenko;A. Papageorgiou;M. Pesaresi;K. Petridis;M. Pioppi;D. M. Raymond;N. Rompotis;A. Rose;M. J. Ryan;C. Seez;P. Sharp;G. Sidiropoulos;M. Stettler;M. Stoye;M. Takahashi;A. Tapper;C. Timlin;S. Tourneur;M. V. Acosta;T. Virdee;S. Wakefield;D. Wardrope;T. Whyntie;M. Wingham;J. E. Cole;I. Goitom;P. R. Hobson;A. Khan;P. Kyberd;D. Leslie;C. Munro;I. D. Reid;C. Siamitros;R. Taylor;L. Teodorescu;I. Yaselli;T. Bose;M. Carleton;E. Hazen;A. H. Heering;A. Heister;J. S. John;P. Lawson;D. Lazic;D. Osborne;J. Rohlf;L. Sulak;S. Wu;J. Andrea;A. Avetisyan;S. Bhattacharya;J. P. Chou;D. Cutts;S. Esen;G. Kukartsev;G. Landsberg;M. Narain;D. Nguyen;T. Speer;K. V. Tsang;R. Breedon;M. C. De;M. Case;D. Cebra;M. Chertok;J. Conway;P. T. Cox;J. Dolen;R. Erbacher;E. Friis;W. Ko;A. Kopecky;R. Lander;A. Lister;H. Liu;S. Maruyama;T. Miceli;M. Nikolic;D. Pellett;J. Robles;M. Searle;J. Smith;M. Squires;J. Stilley;M. Tripathi;R. V. Sierra;C. Veelken;V. Andreev;K. Arisaka;D. Cline;R. Cousins;S. Erhan;J. Hauser;M. Ignatenko;C. Jarvis;J. Mumford;C. Plager;G. Rakness;P. Schlein;J. Tucker;V. Valuev;R. Wallny;X. Yang;J. Babb;M. Bose;A. Chandra;R. Clare;J. A. Ellison;J. W. Gary;G. Hanson;G. Y. Jeng;S. C. Kao;F. Liu;H. Liu;A. Luthra;H. Nguyen;G. Pasztor;A. Satpathy;B. C. Shen;R. Stringer;J. Sturdy;V. Sytnik;R. Wilken;S. Wimpenny;J. G. Branson;E. Dusinberre;D. Evans;F. Golf;R. Kelley;M. Lebourgeois;J. Letts;E. Lipeles;B. Mangano;J. Muelmenstaedt;M. Norman;S. Padhi;A. Petrucci;H. Pi;M. Pieri;R. Ranieri;M. Sani;V. Sharma;S. Simon;F. Wuerthwein;A. Yagil;C. Campagnari;M. D'Alfonso;T. Danielson;J. Garberson;J. Incandela;C. Justus;P. Kalavase;S. A. Koay;D. Kovalskyi;V. Krutelyov;J. Lamb;S. Lowette;V. Pavlunin;F. Rebassoo;J. Ribnik;J. Richman;R. Rossin;D. Stuart;W. To;J. R. Vlimant;M. Witherell;A. Apresyan;A. Bornheim;J. Bunn;M. Chiorboli;M. Gataullin;D. Kcira;V. 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Vishnevskiy;M. Zielinski;A. Bhatti;L. Demortier;K. Goulianos;K. Hatakeyama;G. Lungu;C. Mesropian;M. Yan;O. Atramentov;E. Bartz;Y. Gershtein;E. Halkiadakis;D. Hits;A. Lath;K. Rose;S. Schnetzer;S. Somalwar;R. Stone;S. Thomas;T. L. Watts;G. Cerizza;M. Hollingsworth;S. Spanier;Z. C. Yang;A. York;J. Asaadi;A. Aurisano;R. Eusebi;A. Golyash;A. Gurrola;T. Kamon;C. N. Nguyen;J. Pivarski;A. Safonov;S. Sengupta;D. Toback;M. Weinberger;N. Akchurin;L. Berntzon;K. Gumus;C. Jeong;H. Kim;S. W. Lee;S. Popescu;Y. Roh;A. Sill;I. Volobouev;E. Washington;R. Wigmans;E. Yazgan;D. Engh;C. Florez;W. Johns;S. Pathak;P. Sheldon;D. Andelin;M. W. Arenton;M. Balazs;S. Boutle;M. Buehler;S. Conetti;B. Cox;R. Hirosky;A. Ledovskoy;C. Neu;I. P. D.;M. Ronquest;R. Yohay;S. Gollapinni;K. Gunthoti;R. Harr;P. E. Karchin;M. Mattson;A. Sakharov;M. Anderson;M. Bachtis;J. N. Bellinger;D. Carlsmith;I. Crotty;S. Dasu;S. Dutta;J. Efron;F. Feyzi;K. Flood;L. Gray;K. S. Grogg;M. Grothe;R. Hall-Wilton;M. Jaworski;P. Klabbers;J. Klukas;A. Lanaro;C. Lazaridis;J. Leonard;R. Loveless;M. M. de;A. Mohapatra;G. Ott;G. Polese;D. Reeder;A. Savin;W. H. Smith;A. Sourkov;J. Swanson;M. Weinberg;D. Wenman;M. Wensveen;A. White. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 5:(2010), pp. T03009-0. [10.1088/1748-0221/5/03/T03009]
Alignment of the CMS silicon tracker during commissioning with cosmic rays
BROCCOLO, GIUSEPPE;CIULLI, VITALIANO;D'ALESSANDRO, RAFFAELLO;FOCARDI, ETTORE;FROSALI, SIMONE;GENTA, CHIARA;LANDI, GREGORIO;LENZI, PIERGIULIO;TROPIANO, ANTONIO;
2010
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