Studio dell'omogeneita' di rivelatori al silicio per la rivelazione di particelle cariche tramite l'analisi della forma dei segnali prodotti.
In-beam measurements of silicon detector homogeneity via Pulse Shape Analysis / L.Bardelli, M.Benelli, M.Bini, G.Casini, A.Nannini, A.Olmi, G.Pasquali, S.Piantelli, G.Poggi, A.Stefanini, M.Cinausero, F.Gramegna, V.L.Kravchuk, M.Bruno, M.D’Agostino, P.Marini, A.Ordine, E.Rosato, M.Vigilante, S.Barlini, et al.. - ELETTRONICO. - (2008), pp. 209-210.
In-beam measurements of silicon detector homogeneity via Pulse Shape Analysis
BARDELLI, LUIGI;BENELLI, MATTEO;BINI, MAURIZIO;CASINI, GIOVANNI;OLMI, ALESSANDRO;PASQUALI, GABRIELE;S. Piantelli;POGGI, GIACOMO;STEFANINI, ANDREA;BARLINI, SANDRO;
2008
Abstract
Studio dell'omogeneita' di rivelatori al silicio per la rivelazione di particelle cariche tramite l'analisi della forma dei segnali prodotti.
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