Studio dell'omogeneita' di rivelatori al silicio per la rivelazione di particelle cariche tramite l'analisi della forma dei segnali prodotti.
In-beam measurements of silicon detector homogeneity via Pulse Shape Analysis / L.Bardelli; M.Benelli; M.Bini; G.Casini; A.Nannini; A.Olmi; G.Pasquali; S.Piantelli; G.Poggi; A.Stefanini; M.Cinausero; F.Gramegna; V.L.Kravchuk; M.Bruno; M.D’Agostino; P.Marini; A.Ordine; E.Rosato; M.Vigilante; S.Barlini; M.F.Rivet; R.Berjillos; J.A.Due˜nas; A.Kordyasz. - ELETTRONICO. - (2008), pp. 209-210.
In-beam measurements of silicon detector homogeneity via Pulse Shape Analysis
BARDELLI, LUIGI;BENELLI, MATTEO;BINI, MAURIZIO;CASINI, GIOVANNI;OLMI, ALESSANDRO;PASQUALI, GABRIELE;POGGI, GIACOMO;STEFANINI, ANDREA;BARLINI, SANDRO;
2008
Abstract
Studio dell'omogeneita' di rivelatori al silicio per la rivelazione di particelle cariche tramite l'analisi della forma dei segnali prodotti.File in questo prodotto:
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