abstract

An in situ and ex situ SXRD and TEM microscopy study of CuxSz and CuxZnySz thin films / Serena Cinotti; Francesco Carlà; Roberto Felici; Maria Luisa Foresti; Annalisa Guerri; Massimo Innocenti; Alessandro Lavacchi; Giordano Montegrossi; Francesco Di Benedetto. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 151-151. (Intervento presentato al convegno 2 nd joint AIC-SILS conference tenutosi a Firenze nel 15-18 Settembre 2014).

An in situ and ex situ SXRD and TEM microscopy study of CuxSz and CuxZnySz thin films

CINOTTI, SERENA;FORESTI, MARIA LUISA;GUERRI, ANNALISA;INNOCENTI, MASSIMO;LAVACCHI, ALESSANDRO;DI BENEDETTO, FRANCESCO
2014

Abstract

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2014
Program and Book of Abstracts
2 nd joint AIC-SILS conference
Firenze
Serena Cinotti; Francesco Carlà; Roberto Felici; Maria Luisa Foresti; Annalisa Guerri; Massimo Innocenti; Alessandro Lavacchi; Giordano Montegrossi; Francesco Di Benedetto
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