Alignment of the CMS silicon strip tracker during stand-alone commissioning

Adam, W.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Fruehwirth, R.; Haensel, S.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Oberegger, M.; Pernicka, M.; Schmid, S.; Stark, R.; Steininger, H.; Uhl, D.; Waltenberger, W.; Widl, E.; Mechelen, P. V.; Cardaci, M.; Beaumont, W.; Langhe, E. D.; E. A., De; Delmeire, E.; Hashemi, M.; Bouhali, O.; Charaf, O.; Clerbaux, B.; J. . . P.,; Elgammal, S.; Hammad, G.; Lentdecker, G. D.; Marage, P.; Velde, C. V.; Vanlaer, P.; Wickens, J.; Adler, V.; Devroede, O.; Weirdt, S. D.; D'Hondt, J.; Goorens, R.; Heyninck, J.; Maes, J.; Mozer, M.; Tavernier, S.; Lancker, L. V.; Mulders, P. V.; Villella, I.; Wastiels, C.; J. . . L.,; Bruno, G.; Callatay, B. D.; Florins, B.; Giammanco, A.; Gregoire, G.; Keutgen, T.; Kcira, D.; Lemaitre, V.; Michotte, D.; Militaru, O.; Piotrzkowski, K.; Quertermont, L.; Roberfroid, V.; Rouby, X.; Teyssier, D.; Daubie, E.; Anttila, E.; Czellar, S.; Engstrom, P.; Harkonen, J.; Karimaki, V.; Kostesmaa, J.; Kuronen, A.; Lampen, T.; Linden, T.; P. . . R.,; Maenaa, T.; Michal, S.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Ageron, M.; Baulieu, G.; Bonnevaux, A.; Boudoul, G.; Chabanat, E.; Chabert, E.; Chierici, R.; Contardo, D.; Negra, R. D.; Dupasquier, T.; Gelin, G.; Giraud, N.; Guillot, G.; Estre, N.; Haroutunian, R.; Lumb, N.; Perries, S.; Schirra, F.; Trocme, B.; Vanzetto, S.; J. . . L.,; Blaes, R.; Drouhin, F.; J. . . P., J. . . C.; J. . . D., J. . . M.; Didierjean, F.; Goerlach, U.; Graehling, P.; Gross, L.; Hosselet, J.; Juillot, P.; Lounis, A.; Maazouzi, C.; Olivetto, C.; Strub, R.; Hove, P. V.; Anagnostou, G.; Brauer, R.; Esser, H.; Feld, L.; Karpinski, W.; Klein, K.; Kukulies, C.; Olzem, J.; Ostapchuk, A.; Pandoulas, D.; Pierschel, G.; Raupach, F.; Schael, S.; Schwering, G.; Sprenger, D.; Thomas, M.; Weber, M.; Wittmer, B.; Wlochal, M.; Beissel, F.; Bock, E.; Flugge, G.; Gillissen, C.; Hermanns, T.; Heydhausen, D.; Jahn, D.; Kaussen, G.; Linn, A.; Perchalla, L.; Poettgens, M.; Pooth, O.; Stahl, A.; Zoeller, M. H.; Buhmann, P.; Butz, E.; Flucke, G.; Hamdorf, R.; Hauk, J.; Klanner, R.; Pein, U.; Schleper, P.; Steinbrueck, G.; Bluem, P.; Boer, W. D.; Dierlamm, A.; Dirkes, G.; Fahrer, M.; Frey, M.; Furgeri, A.; Hartmann, F.; Heier, S.; K. . . H.,; Kaminski, J.; Ledermann, B.; Liamsuwan, T.; Mueller, S.; Mueller, T.; F. . . P., H. . . J.; Steck, P.; Zhukov, V.; Cariola, P.; Robertis, G. D.; Ferorelli, R.; Fiore, L.; Preda, M.; Sala, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Creanza, D.; Filippis, N. D.; Palma, M. D.; Giordano, D.; Maggi, G.; Manna, N.; My, S.; Selvaggi, G.; Albergo, S.; Chiorboli, M.; Costa, S.; Galanti, M.; Giudice, N.; Guardone, N.; Noto, F.; Potenza, R.; Saizu, M. A.; Sparti, V.; Sutera, C.; Tricomi, A.; Tuve, C.; Brianzi, M.; Civinini, C.; Maletta, F.; Manolescu, F.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Sguazzoni, G.; Broccolo, Giuseppe; Ciulli, Vitaliano; D'Alessandro, Raffaello; Frosali, Simone; Genta, Chiara; Landi, Gregorio; Lenzi, Piergiulio; Macchiolo, Anna; Magini, Nicolo'; Parrini, Giuliano; Scarlini, Enrico; Cerati, G.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Candelori, A.; Dorigo, T.; Kaminsky, A.; Karaevski, S.; Khomenkov, V.; Reznikov, S.; Tessaro, M.; Bisello, D.; Mattia, M. D.; Giubilato, P.; Loreti, M.; Mattiazzo, S.; Nigro, M.; Paccagnella, A.; Pantano, D.; Pozzobon, N.; Tosi, M.; Bilei, G. M.; Checcucci, B.; Fano, L.; Servoli, L.; Ambroglini, F.; Babucci, E.; Benedetti, D.; Biasini, M.; Caponeri, B.; Covarelli, R.; Giorgi, M.; Lariccia, P.; Mantovani, G.; Marcantonini, M.; Postolache, V.; Santocchia, A.; Spiga, D.; Bagliesi, G.; Balestri, G.; Berretta, L.; Bianucci, S.; Boccali, T.; Bosi, F.; Bracci, F.; Castaldi, R.; Ceccanti, M.; Cecchi, R.; Cerri, C.; Cucoanes, A. S.; Dell'Orso, R.; Dobur, D.; Dutta, S.; Giassi, A.; Giusti, S.; Kartashov, D.; Kraan, A.; Lomtadze, T.; Lungu, G. A.; Magazzu, G.; Mammini, P.; Mariani, F.; Martinelli, G.; Moggi, A.; Palla, F.; Palmonari, F.; Petragnani, G.; Profeti, A.; Raffaelli, F.; Rizzi, D.; Sanguinetti, G.; Sarkar, S.; Sentenac, D.; Serban, A. T.; Slav, A.; Soldani, A.; Spagnolo, P.; Tenchini, R.; Tolaini, S.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Vos, M.; Zaccarelli, L.; Avanzini, C.; Basti, A.; Benucci, L.; Bocci, A.; Cazzola, U.; Fiori, F.; Linari, S.; Massa, M.; Messineo, A.; Segneri, G.; Tonelli, G.; Azzurri, P.; Bernardini, J.; Borrello, L.; Calzolari, F.; Foa, L.; Gennai, S.; Ligabue, F.; Petrucciani, G.; Rizzi, A.; Yang, Z.; Benotto, F.; Demaria, N.; Dumitrache, F.; Farano, R.; Borgia, M. A.; Castello, R.; Costa, M.; Migliore, E.; Romero, A.; Abbaneo, D.; Abbas, M.; Ahmed, I.; Akhtar, I.; Albert, E.; Bloch, C.; Breuker, H.; Butt, S.; Buchmuller, O.; Cattai, A.; Delaere, C.; Delattre, M.; Edera, L. M.; Engstrom, P.; Eppard, M.; Gateau, M.; Gill, K.; A. . . S.,; Grabit, R.; Honma, A.; Huhtinen, M.; Kloukinas, K.; Kortesmaa, J.; Kottelat, L. J.; Kuronen, A.; Leonardo, N.; Ljuslin, C.; Mannelli, M.; Masetti, L.; Marchioro, A.; Mersi, S.; Michal, S.; Mirabito, L.; Muffat Joly, J.; Onnela, A.; Paillard, C.; Pal, I.; Pernot, J. F.; Petagna, P.; Petit, P.; Piccut, C.; Pioppi, M.; Postema, H.; Ranieri, R.; Ricci, D.; Rolandi, G.; Ronga, F.; Sigaud, C.; Syed, A.; Siegrist, P.; Tropea, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Donckt, M. V.; Vasey, F.; Alagoz, E.; Amsler, C.; Chiochia, V.; Regenfus, C.; Robmann, P.; Rochet, J.; Rommerskirchen, T.; Schmidt, A.; Steiner, S.; Wilke, L.; Church, I.; Cole, J.; Coughlan, J.; Gay, A.; Taghavi, S.; Tomalin, I.; Bainbridge, R.; Cripps, N.; Fulcher, J.; Hall, G.; Noy, M.; Pesaresi, M.; Radicci, V.; Raymond, D. M.; Sharp, P.; Stoye, M.; Wingham, M.; Zorba, O.; Goitom, I.; Hobson, P. R.; Reid, I.; Teodorescu, L.; Hanson, G.; G. . . Y.,; Liu, H.; Pasztor, G.; Satpathy, A.; Stringer, R.; Mangano, B.; Affolder, K.; Affolder, T.; Allen, A.; Barge, D.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Crook, A.; D'Alfonso, M.; Dietch, J.; Garberson, J.; Hale, D.; Incandela, H.; Incandela, J.; Jaditz, S.; Kalavase, P.; Kreyer, S.; Kyre, S.; Lamb, J.; Guinness, C. M.; Mills, C.; Nguyen, H.; Nikolic, M.; Lowette, S.; Rebassoo, F.; Ribnik, J.; Richman, J.; Rubinstein, N.; Sanhueza, S.; Shah, Y.; Simms, L.; Staszak, D.; Stoner, J.; Stuart, D.; Swain, S.; J. . . R.,; White, D.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Bagby, L.; Bhat, P. C.; Burkett, K.; Cihangir, S.; Gutsche, O.; Jensen, H.; Johnson, M.; Luzhetskiy, N.; Mason, D.; Miao, T.; Moccia, S.; Noeding, C.; Ronzhin, A.; Skup, E.; Spalding, W. J.; Spiegel, L.; Tkaczyk, S.; Yumiceva, F.; Zatserklyaniy, A.; Zerev, E.; Anghel, I.; Bazterra, V. E.; Gerber, C. E.; Khalatian, S.; Shabalina, E.; Baringer, P.; Bean, A.; Chen, J.; Hinchey, C.; Martin, C.; Moulik, T.; Robinson, R.; Gritsan, A. V.; Lae, C. K.; Tran, N. V.; Everaerts, P.; Hahn, K. A.; Harris, P.; Nahn, S.; Rudolph, M.; Sung, K.; Betchart, B.; Demina, R.; Gotra, Y.; Korjenevski, S.; Miner, D.; Orbaker, D.; Christofek, L.; Hooper, R.; Landsberg, G.; Nguyen, D.; Narain, M.; Speer, T.; Tsang, K. V.

doi:10.1088/1748-0221/4/07/T07001

Alignment of the CMS silicon strip tracker during stand-alone commissioning / W. Adam, T. Bergauer, M. Dragicevic, M. Friedl, R. Fruehwirth, S. Haensel, J. Hrubec, M. Krammer, M. Oberegger, M. Pernicka, S. Schmid, R. Stark, H. Steininger, D. Uhl, W. Waltenberger, E. Widl, P. V. Mechelen, M. Cardaci, W. Beaumont, E. d. Langhe, et al.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 4:(2009), pp. T07001-0. [10.1088/1748-0221/4/07/T07001]

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W. Adam;T. Bergauer;M. Dragicevic;M. Friedl;R. Fruehwirth;S. Haensel;J. Hrubec;M. Krammer;M. Oberegger;M. Pernicka;S. Schmid;R. Stark;H. Steininger;D. Uhl;W. Waltenberger;E. Widl;P. V. Mechelen;M. Cardaci;W. Beaumont;E. d. Langhe;E. A. de;E. Delmeire;M. Hashemi;O. Bouhali;O. Charaf;B. Clerbaux;J. . . P.;S. Elgammal;G. Hammad;G. d. Lentdecker;P. Marage;C. V. Velde;P. Vanlaer;J. Wickens;V. Adler;O. Devroede;S. D. Weirdt;J. D'Hondt;R. Goorens;J. Heyninck;J. Maes;M. Mozer;S. Tavernier;L. V. Lancker;P. V. Mulders;I. Villella;C. Wastiels;J. . . L.;G. Bruno;B. D. Callatay;B. Florins;A. Giammanco;G. Gregoire;T. Keutgen;D. Kcira;V. Lemaitre;D. Michotte;O. Militaru;K. Piotrzkowski;L. Quertermont;V. Roberfroid;X. Rouby;D. Teyssier;E. Daubie;E. Anttila;S. Czellar;P. Engstrom;J. Harkonen;V. Karimaki;J. Kostesmaa;A. Kuronen;T. Lampen;T. Linden;P. . . R.;T. Maenaa;S. Michal;E. Tuominen;J. Tuominiemi;M. Ageron;G. Baulieu;A. Bonnevaux;G. Boudoul;E. Chabanat;E. Chabert;R. Chierici;D. Contardo;R. D. Negra;T. Dupasquier;G. Gelin;N. Giraud;G. Guillot;N. Estre;R. Haroutunian;N. Lumb;S. Perries;F. Schirra;B. Trocme;S. Vanzetto;J. . . L.;R. Blaes;F. Drouhin;J. . . P. , J. . . C.;J. . . D. , J. . . M.;F. Didierjean;U. Goerlach;P. Graehling;L. Gross;J. Hosselet;P. Juillot;A. Lounis;C. Maazouzi;C. Olivetto;R. Strub;P. V. Hove;G. Anagnostou;R. Brauer;H. Esser;L. Feld;W. Karpinski;K. Klein;C. Kukulies;J. Olzem;A. Ostapchuk;D. Pandoulas;G. Pierschel;F. Raupach;S. Schael;G. Schwering;D. Sprenger;M. Thomas;M. Weber;B. Wittmer;M. Wlochal;F. Beissel;E. Bock;G. Flugge;C. Gillissen;T. Hermanns;D. Heydhausen;D. Jahn;G. Kaussen;A. Linn;L. Perchalla;M. Poettgens;O. Pooth;A. Stahl;M. H. Zoeller;P. Buhmann;E. Butz;G. Flucke;R. Hamdorf;J. Hauk;R. Klanner;U. Pein;P. Schleper;G. Steinbrueck;P. Bluem;W. D. Boer;A. Dierlamm;G. Dirkes;M. Fahrer;M. Frey;A. Furgeri;F. Hartmann;S. Heier;K. . . H.;J. Kaminski;B. Ledermann;T. Liamsuwan;S. Mueller;T. Mueller;F. . . P. , H. . . J.;P. Steck;V. Zhukov;P. Cariola;G. D. Robertis;R. Ferorelli;L. Fiore;M. Preda;G. Sala;L. Silvestris;P. Tempesta;G. Zito;D. Creanza;N. D. Filippis;M. D. Palma;D. Giordano;G. Maggi;N. Manna;S. My;G. Selvaggi;S. Albergo;M. Chiorboli;S. Costa;M. Galanti;N. Giudice;N. Guardone;F. Noto;R. Potenza;M. A. Saizu;V. Sparti;C. Sutera;A. Tricomi;C. Tuve;M. Brianzi;C. Civinini;F. Maletta;F. Manolescu;M. Meschini;S. Paoletti;G. Sguazzoni;BROCCOLO, GIUSEPPE;CIULLI, VITALIANO;D'ALESSANDRO, RAFFAELLO;FROSALI, SIMONE;GENTA, CHIARA;LANDI, GREGORIO;LENZI, PIERGIULIO;MACCHIOLO, ANNA;MAGINI, NICOLO';PARRINI, GIULIANO;SCARLINI, ENRICO;G. Cerati;P. Azzi;N. Bacchetta;A. Candelori;T. Dorigo;A. Kaminsky;S. Karaevski;V. Khomenkov;S. Reznikov;M. Tessaro;D. Bisello;M. D. Mattia;P. Giubilato;M. Loreti;S. Mattiazzo;M. Nigro;A. Paccagnella;D. Pantano;N. Pozzobon;M. Tosi;G. M. Bilei;B. Checcucci;L. Fano;L. Servoli;F. Ambroglini;E. Babucci;D. Benedetti;M. Biasini;B. Caponeri;R. Covarelli;M. Giorgi;P. Lariccia;G. Mantovani;M. Marcantonini;V. Postolache;A. Santocchia;D. Spiga;G. Bagliesi;G. Balestri;L. Berretta;S. Bianucci;T. Boccali;F. Bosi;F. Bracci;R. Castaldi;M. Ceccanti;R. Cecchi;C. Cerri;A. S. Cucoanes;R. Dell'Orso;D. Dobur;S. Dutta;A. Giassi;S. Giusti;D. Kartashov;A. Kraan;T. Lomtadze;G. A. Lungu;G. Magazzu;P. Mammini;F. Mariani;G. Martinelli;A. Moggi;F. Palla;F. Palmonari;G. Petragnani;A. Profeti;F. Raffaelli;D. Rizzi;G. Sanguinetti;S. Sarkar;D. Sentenac;A. T. Serban;A. Slav;A. Soldani;P. Spagnolo;R. Tenchini;S. Tolaini;A. Venturi;P. G. Verdini;M. Vos;L. Zaccarelli;C. Avanzini;A. Basti;L. Benucci;A. Bocci;U. Cazzola;F. Fiori;S. Linari;M. Massa;A. Messineo;G. Segneri;G. Tonelli;P. Azzurri;J. Bernardini;L. Borrello;F. Calzolari;L. Foa;S. Gennai;F. Ligabue;G. Petrucciani;A. Rizzi;Z. Yang;F. Benotto;N. Demaria;F. Dumitrache;R. Farano;M. A. Borgia;R. Castello;M. Costa;E. Migliore;A. Romero;D. Abbaneo;M. Abbas;I. Ahmed;I. Akhtar;E. Albert;C. Bloch;H. Breuker;S. Butt;O. Buchmuller;A. Cattai;C. Delaere;M. Delattre;L. M. Edera;P. Engstrom;M. Eppard;M. Gateau;K. Gill;A. . . S.;R. Grabit;A. Honma;M. Huhtinen;K. Kloukinas;J. Kortesmaa;L. J. Kottelat;A. Kuronen;N. Leonardo;C. Ljuslin;M. Mannelli;L. Masetti;A. Marchioro;S. Mersi;S. Michal;L. Mirabito;J. Muffat Joly;A. Onnela;C. Paillard;I. Pal;J. F. Pernot;P. Petagna;P. Petit;C. Piccut;M. Pioppi;H. Postema;R. Ranieri;D. Ricci;G. Rolandi;F. Ronga;C. Sigaud;A. Syed;P. Siegrist;P. Tropea;J. Troska;A. Tsirou;M. V. Donckt;F. Vasey;E. Alagoz;C. Amsler;V. Chiochia;C. Regenfus;P. Robmann;J. Rochet;T. Rommerskirchen;A. Schmidt;S. Steiner;L. Wilke;I. Church;J. Cole;J. Coughlan;A. Gay;S. Taghavi;I. Tomalin;R. Bainbridge;N. Cripps;J. Fulcher;G. Hall;M. Noy;M. Pesaresi;V. Radicci;D. M. Raymond;P. Sharp;M. Stoye;M. Wingham;O. Zorba;I. Goitom;P. R. Hobson;I. Reid;L. Teodorescu;G. Hanson;G. . . Y.;H. Liu;G. Pasztor;A. Satpathy;R. Stringer;B. Mangano;K. Affolder;T. Affolder;A. Allen;D. Barge;S. Burke;D. Callahan;C. Campagnari;A. Crook;M. D'Alfonso;J. Dietch;J. Garberson;D. Hale;H. Incandela;J. Incandela;S. Jaditz;P. Kalavase;S. Kreyer;S. Kyre;J. Lamb;C. M. Guinness;C. Mills;H. Nguyen;M. Nikolic;S. Lowette;F. Rebassoo;J. Ribnik;J. Richman;N. Rubinstein;S. Sanhueza;Y. Shah;L. Simms;D. Staszak;J. Stoner;D. Stuart;S. Swain;J. . . R.;D. White;K. A. Ulmer;S. R. Wagner;L. Bagby;P. C. Bhat;K. Burkett;S. Cihangir;O. Gutsche;H. Jensen;M. Johnson;N. Luzhetskiy;D. Mason;T. Miao;S. Moccia;C. Noeding;A. Ronzhin;E. Skup;W. J. Spalding;L. Spiegel;S. Tkaczyk;F. Yumiceva;A. Zatserklyaniy;E. Zerev;I. Anghel;V. E. Bazterra;C. E. Gerber;S. Khalatian;E. Shabalina;P. Baringer;A. Bean;J. Chen;C. Hinchey;C. Martin;T. Moulik;R. Robinson;A. V. Gritsan;C. K. Lae;N. V. Tran;P. Everaerts;K. A. Hahn;P. Harris;S. Nahn;M. Rudolph;K. Sung;B. Betchart;R. Demina;Y. Gotra;S. Korjenevski;D. Miner;D. Orbaker;L. Christofek;R. Hooper;G. Landsberg;D. Nguyen;M. Narain;T. Speer;K. V. Tsang

2009

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	Data di pubblicazione
	
				2009
			
	Rivista
	
				JOURNAL OF INSTRUMENTATION
			
	Volume
	
				4
			
	Pagina iniziale
	
				T07001
			
	Pagina finale
	
				0
			
	Tutti gli autori
	
						W.  Adam;T.  Bergauer;M.  Dragicevic;M.  Friedl;R.  Fruehwirth;S.  Haensel;J.  Hrubec;M.  Krammer;M.  Oberegger;M.  Pernicka;S.  Schmid;R.  Stark;H.  ...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
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